基于CDV的隨機測試技術(shù).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著大規(guī)模集成電路的發(fā)展，其設(shè)計規(guī)模不斷增加，從幾十萬門級發(fā)展到百萬、千萬門級，完成相應(yīng)的驗證工作也變得越來越困難，給相應(yīng)的驗證工作帶來了巨大的挑戰(zhàn)。如何在有限的芯片開發(fā)周期內(nèi)完成芯片的設(shè)計，并完成相應(yīng)的代碼驗證工作是我們面臨的重要問題。目前業(yè)界廣泛采用主要驗證方法有斷言驗證、形式驗證、功能驗證等，各種驗證方法都在實際的工程實踐中得到廣泛的應(yīng)用。本文主要是應(yīng)用Specman E語言對工程項目中的基于功能覆蓋的驗證。 該芯片是海思

2、光網(wǎng)絡(luò)研發(fā)管理部2006年開發(fā)的一款傳輸芯片，廣泛應(yīng)用于華為的傳輸設(shè)備，業(yè)務(wù)時鐘頻率從622MHz到2.5GHz范圍，采用IBM的90nm的CMOS工藝、規(guī)模為兩千萬門級左右，主要處理光網(wǎng)絡(luò)的14種業(yè)務(wù)向OTU1業(yè)務(wù)的映射、解映射，同時進行業(yè)務(wù)開銷的提取監(jiān)視和插入等工作。本人主要負(fù)責(zé)其中的兩種業(yè)務(wù)的驗證工作。本文以其中的一種業(yè)務(wù)STM1的上行方向的驗證為例，闡述基于功能覆蓋的隨機測試過程以及相應(yīng)驗證環(huán)境的搭建。隨機測試過程包括featu

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