基于偽隨機測試的混合信號BIST研究.pdf

1、隨著微電子制造工藝和先進設計技術的迅速發(fā)展,使得包括各種數字、存儲器、模擬和混合信號內核的系統(tǒng)可集成在單個芯片上,即系統(tǒng)芯片SOC(System-on-a-Chip),給混合信號系統(tǒng)的發(fā)展帶來了強大的動力,但也對測試設備的速度和性能提出了更高的要求,急需運用新的理論、新的方法來解決此問題。
　　BIST被認為是解決模擬混合信號電路測試有效的方法之一,它的基本原理是由電路自己生成測試矢量,而不需外部施加測試矢量,并依靠自身邏輯來判斷

2、待測電路有無故障。它不僅克服了外部自動測試設備低速測試時無法檢測出實時故障的問題,而且提供了更便捷和更有效的測試方法。因此,內建自測試近年來不斷受到人們的重視,并已成為研究的熱門課題。本論文來源于廣西區(qū)自然科學基金項目“SOC中的MSCBIST偽隨機測試方法研究”,本文研究了偽隨機測試技術,用LFSR生成偽隨機序列作為測試激勵,用乘累加器與比較器作為響應分析器,構建了混合信號BIST結構,計算輸入激勵信號與輸出響應序列的互相關函數求取特