外文文獻(xiàn)翻譯譯文--基于單片陣列硅漂移探測(cè)器的x熒光光譜儀

1、<p><b>　　中文5030字</b></p><p>　　本科畢業(yè)設(shè)計(jì)外文資料翻譯</p><p>　　院（系）： 工程技術(shù)學(xué)院 </p><p>　　專 　業(yè)： 機(jī)械設(shè)計(jì)制造及其自動(dòng)化 </p><p>　　姓 名：

2、 </p><p>　　學(xué) 號(hào)： </p><p>　　外文出處： NUCLEAR SCIENCE </p><p>　　附 件： 1.外文資料翻譯譯文；2.外文原文。</p><p>　　完成日期： 2012 年 5 月

3、 1日 </p><p>　　基于單片陣列硅漂移探測(cè)器的X熒光光譜儀：元素映射分析和優(yōu)化檢測(cè)結(jié)構(gòu)</p><p>　　A. Longoni, C. Fiorini, Member, IEEE, C. Guazzoni, Member, IEEE, S. Buzzetti, Member,IEEE,M.Bellini,L. Strüder, P. Lechne

4、r, A. Bjeoumikhov, and J. Kemmer</p><p><b>　　摘要</b></p><p>　　此文提出了一種帶有激光切割中心孔的單片陣列硅漂移探測(cè)器新型X射線熒光（XRF）光譜儀和展示了一些元素映射分析的應(yīng)用實(shí)例。X射線激發(fā)光束由檢測(cè)器芯片上的中心孔通過毛細(xì)管X射線透鏡聚焦在一個(gè)狹縫中。這種結(jié)構(gòu)能使樣品發(fā)出的熒光很大一部分被空氣吸收，

5、所以可以減小樣品和檢測(cè)器之間的距離。此功能連同SDDS的高檢出率，可以縮短元素映射的掃描時(shí)間。展示了新型X射線光譜儀在不同研究領(lǐng)域（從考古學(xué)到生物學(xué)）的應(yīng)用實(shí)例。此外，本文還將介紹一種新的基于四個(gè)SDDS單片環(huán)繞重心孔的集成硅芯片多元探測(cè)器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。這種四SDDS型結(jié)構(gòu)通過專門設(shè)計(jì)以獲取高的的能量分辨率和峰背比。首次應(yīng)用此探測(cè)器的實(shí)驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)也得出了。它將配備到將來開發(fā)的X射線熒光光譜儀系列中。</p><p>

6、;　　索引—元素映射，硅漂移探測(cè)器，X射線熒光（XRF），X射線光學(xué)，X射線光譜法。</p><p><b>　　一、引言</b></p><p>　　元素映射分析（即，檢測(cè)樣品中的化學(xué)元素并確定其空間分布）在從基礎(chǔ)科學(xué)到工業(yè)技術(shù)，或是從生物學(xué)到法醫(yī)調(diào)查這幾個(gè)不同領(lǐng)域中都是一個(gè)重要的問題。這種分析是基于對(duì)試樣正確活躍點(diǎn)的X射線熒光光譜測(cè)量。掃描電子顯微鏡（SEM）被

7、廣泛應(yīng)用于元素映射分析。樣品（從所研究的試樣中取得）由一個(gè)高能電子束激發(fā)，因此需金屬化和在真空室中用顯微鏡進(jìn)行分析。這種技術(shù)通常有“破壞性”的特點(diǎn)，它的空間分辨率在微米范圍，但是衰變電子發(fā)散的輻射（軔致輻射）可能會(huì)損傷微量元素的檢測(cè)。另一種元素的映射技術(shù)是基于激發(fā)樣品的加速帶電粒子光束（粒子激發(fā)X射線熒光分析技術(shù)），一般所用帶電粒子是質(zhì)子。所研究的樣品可以在空氣中不必金屬化，因此它可以被認(rèn)為是“無損”的檢測(cè)。軔致輻射主要是由于從原子殼層

8、加速帶電粒子轟擊出的電子所激發(fā)，。這種輻射影響的能量范圍通常是有限的微小Ke V。粒子激發(fā)X射線熒光分析技術(shù)的空間分辨率可以達(dá)到微米級(jí)，但是這種技術(shù)的主要缺點(diǎn)就是需要昂貴的帶有粒子加速器的大型儀器設(shè)備。少數(shù)的基于α源的可移動(dòng)PIXE光譜儀在參考文獻(xiàn)[4],[5]中被提出。</p><p>　　X射線熒光光譜儀激發(fā)的X射線束本質(zhì)上是無損的（即被分析的對(duì)象可以保真空條件下測(cè)量），一個(gè)簡(jiǎn)單的倫琴管就足以激發(fā)X射線光束

9、并且避免軔致輻射。然而，從X射線管發(fā)出的寬帶輻射會(huì)分散在檢測(cè)器中，這可能會(huì)破壞微量元素檢測(cè)精度?；跇悠飞系募ぐl(fā)光束技術(shù)可以顯著減少在檢測(cè)器上的主輻射散射。X熒光光譜儀的例子在參考文獻(xiàn)[7]–[9]中可見。近期引進(jìn)的硅漂移探測(cè)器（SDD）在XRF領(lǐng)域開辟了高分辨率緊湊型光譜儀的道路，適用于實(shí)驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)的材料無損分析。在本文中，我們引入了一個(gè)全新的基于SDDS環(huán)形的單片陣列X射線熒光光譜法光譜儀。</p><p>　　

10、圖1 X射線熒光光譜儀的概念設(shè)計(jì)</p><p>　　圖1 為所提出的X射線光譜儀的概念設(shè)計(jì)，單獨(dú)的SDD被布置在芯片的激光切割中心孔周圍的封閉的環(huán)中。微聚焦管所發(fā)出的X射線光束，經(jīng)由多毛細(xì)管X射線透鏡聚焦，并通過檢測(cè)器中心孔到達(dá)樣品。與在文獻(xiàn)[14]中提出的光譜儀主要的新穎性是比單個(gè)毛細(xì)管透鏡更好的多毛細(xì)管X射線透鏡激發(fā)光的強(qiáng)度。由于縮短了樣品和檢測(cè)器之間的距離，此結(jié)構(gòu)可以吸收大部分從樣品所發(fā)出的熒光，所以

11、減少了空氣對(duì)熒光的吸收。有以上這些特點(diǎn)的高檢出率SDDS使得元素映射分析在很短的時(shí)間內(nèi)可以實(shí)現(xiàn)，因此所提出的XRF光譜儀在很多方面很好的替代了掃描電鏡顯微鏡（SEM） 和質(zhì)子誘發(fā)X射線發(fā)射法（PIXE），雖然只有比較有限的空間分辨率（幾十微米級(jí)）。如果需要可移動(dòng)的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用實(shí)施儀器，光譜儀的檢測(cè)頭也能很容易地在測(cè)量中用X射線微光束來同步加速器光源。 </p

12、><p>　　第二部分介紹新光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能，第三部分提出了光譜儀在不同領(lǐng)域的應(yīng)用實(shí)例，比如考古學(xué)，生物學(xué)。第四章介紹了一種新的基于四SDDS圍繞中心孔結(jié)構(gòu)的多元探測(cè)器，在硅芯片上的它們都是單片集成的。每個(gè)SDDS的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)都被優(yōu)化為具有非常高的探測(cè)器能量分辨率和峰背比，這也優(yōu)化了芯片的元素分析映射應(yīng)用。該探測(cè)器的首次實(shí)驗(yàn)結(jié)果也在實(shí)驗(yàn)中得出。該探測(cè)器已經(jīng)在Istituto Nazionale di Fisica N

13、ucleare (INFN)實(shí)驗(yàn)中被開發(fā)為FELIX（X射線光譜快速元件成像）的框架。</p><p>　　二、X射線熒光光譜儀元素映射</p><p>　　圖2示出了所提出的元素映射光譜儀的設(shè)置。微聚X射線發(fā)生器耦合到X光透鏡將主光束聚焦于樣品。檢測(cè)模塊室布置著12個(gè)用珀?duì)柼鋮s的獨(dú)立SDDS的一個(gè)環(huán)形的單片陣列，探測(cè)器被封裝在一個(gè)充滿氮?dú)饷芊饪臻g里并配備兩個(gè)窗口來防止被珀?duì)柼?/p>

14、卻凝結(jié)。X-Y掃描系統(tǒng)（圖中不顯示比例）負(fù)責(zé)控制樣品的運(yùn)動(dòng)，定制設(shè)計(jì)的電子（未示出）讀出和處理從探測(cè)器接收的信號(hào)。在主機(jī)PC上安裝了一個(gè)專門的軟件，它控制光譜的采集，對(duì)樣本的X-Y掃描，還有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和處理。</p><p>　　圖2 polycapyllary鏡頭的設(shè)置和探測(cè)器的詳細(xì)結(jié)構(gòu)</p><p>　　每個(gè)探測(cè)器的12個(gè)獨(dú)立的單元的有效面積為5平方毫米（在60平方毫米的敏感區(qū)內(nèi)）

15、。當(dāng)樣品被放置在X射線透鏡的焦點(diǎn)時(shí)，此有源區(qū)確保覆蓋立體角約為0.6 SR。檢測(cè)器的厚度約280微米。這里所使用的技術(shù)，它的入射窗可以獲得的量子效率為80％以上的碳線（282 eV）和85％的氧線（523 eV）。然而，窗口（8米厚）密封的探測(cè)器外殼在低能量時(shí)限制了量子效率，，在1.5千電子伏時(shí)約75％，在2千電子伏時(shí)約90％。低能量的量子效率進(jìn)一步的限制由樣品和探測(cè)器入射窗之間的薄空氣層（約3毫米，檢測(cè)器外的情況下）和氮（約2毫米，檢

16、測(cè)器內(nèi)的情況下）所引起。檢測(cè)系統(tǒng)整體的量子效率是1.5 keV時(shí)的30%和2 keV時(shí)的60%。檢測(cè)器在更高的能量的量子效率是由檢測(cè)器的厚度所限制。目前的原型探測(cè)器（280微米厚）的量子效率在10 keV時(shí)約為90%，30keV時(shí)仍然為9%。使用450μm厚的基板（在新的四SDD元件中采用，第四節(jié)介紹）能將量子效率在30 keV時(shí)提高到14%。連結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管（JFET）被集成在每個(gè)SDD的中心處，以充分利用陽極收集器的低輸出電容的優(yōu)

17、點(diǎn)（這是130 fF的順序），該JFET在</p><p>　　微聚X射線發(fā)生器由IFG公司（柏林）生產(chǎn)。它配備了一個(gè)W陽極，可提供50伏的陽極電壓和高達(dá)500微安的陽極電流。polycapillary微型鏡頭（由IFG公司提供）增加了約2500在10 keV時(shí)，在20 keV時(shí)約1200（工廠數(shù)據(jù)），在焦點(diǎn)處用15微米直徑的針孔測(cè)量（增益相對(duì)于所測(cè)量強(qiáng)度在同一點(diǎn)上取下鏡頭，并保持15微米直徑的針孔）。FWHMX

18、-射線束的焦點(diǎn)范圍從70微米（4 keV）到45微米（25 keV）（工廠數(shù)據(jù)）。</p><p>　　光譜儀的使用過程中，多元探測(cè)器的信號(hào)，通過模塊化的多通道采集系統(tǒng)讀出。該系統(tǒng)由12個(gè)獨(dú)立的采集板組成，從探測(cè)器12個(gè)獨(dú)立的元素中對(duì)每一個(gè)信號(hào)采集和處理，并適宜的預(yù)放大。詳細(xì)參考[ 15 ]中說明的運(yùn)行過程細(xì)節(jié)。信號(hào)經(jīng)由7-poles高斯整形放大器進(jìn)行1s成型時(shí)間的濾波然后峰值拉伸。其峰值的振幅是由12位ADCS

19、數(shù)字化（10 MS / s的采樣率，0.5 LSB非線性積分和0.3 LSB非線性微分）。通過使用一個(gè)ADC實(shí)現(xiàn)每個(gè)板塊的模塊化。收集到的數(shù)據(jù)都存儲(chǔ)在FIFO緩沖區(qū)，通過一個(gè)共同的無源數(shù)字總線的PC機(jī)，并通過增強(qiáng)型并口（EPP協(xié)議），然后轉(zhuǎn)移到每個(gè)板。邏輯電路也提供快速成型的信號(hào)以檢測(cè)（拒絕）堆積事件。測(cè)量的采集卡的積分非線性在±0.4%，結(jié)果適合高分辨率光譜的應(yīng)用。由于與PC數(shù)碼連接的特性，12種元素整體的最大檢出率目前僅限

20、于300 kcounts/ s。這個(gè)最大傳輸速率不是為了限制monocapillary光學(xué)光譜儀，但對(duì)于目前的系統(tǒng)構(gòu)成了嚴(yán)重的瓶頸。錳-K線通過總線連接且獨(dú)立，同時(shí)收集12個(gè)采集板的光譜獲得的頻譜，測(cè)量的能量分辨率約179 eV FWHM（高斯修復(fù)）。相對(duì)于</p><p>　　三、元素映射應(yīng)用實(shí)例</p><p>　　所提出的XRF光譜儀元素映射特別適用于尺寸小的且需要觀察細(xì)節(jié)的對(duì)象（如

21、珠寶或手繪的微縮模型）的考古分析。目前正在開展與米蘭國(guó)民考古博物館合作，對(duì)七世紀(jì)Lombard buckle的研究。圖3顯示了在Trezzo d’Adda（意大利北部）發(fā)現(xiàn)的墳?zāi)刮奈铩?lt;/p><p>　　圖3 在Trezzo d’Adda（意大利北部）發(fā)現(xiàn)的墳?zāi)刮奈風(fēng)ombard buckle</p><p>　　此鑲嵌工藝（agemina）的元素的映射分析的結(jié)果見圖4。工匠將細(xì)條狀的

22、黃金和白銀鑲嵌在鐵基體上，其橫向尺寸為幾百微米。條狀黃金幾乎是純黃金（Au約97％），而銀薄片是銀和銅合金（銀90％左右，銅約8％）。掃描的面積約5毫米×6毫米，而測(cè)量點(diǎn)的間距為250 微米×250微米。采集時(shí)間設(shè)置為每個(gè)測(cè)量點(diǎn)1秒，平均計(jì)數(shù)率的10 kcps每通道。</p><p>　　圖4 Lombard buckle的元素映射分析</p><p>　　圖5示出

23、了儀器在生物科學(xué)領(lǐng)域中應(yīng)用的一個(gè)例子。我們測(cè)量了一些剛施過肥的葉子的化學(xué)元素的分布。掃描面積為6×6mm，間距為100微米×100微米，每個(gè)測(cè)量點(diǎn)采集時(shí)間設(shè)置為0.5秒。在這種情況下平均計(jì)數(shù)率小于1 kcps每通道。從圖中可以看出，肥料中的化學(xué)元素開始沿淋巴管滲透到葉的莖。光譜儀用這樣的設(shè)定，可以在預(yù)定的時(shí)間間隔使寄存器存儲(chǔ)一系列影像，然后用于研究肥料的吸收。</p><p>　　圖5 所示

24、為葉子中肥料化學(xué)元素（鈣，鐵，銅），掃描的區(qū)域?yàn)榛疑叫?lt;/p><p>　　圖6為一種噴墨打印機(jī)頭，它的薄塑料基片的表面上沉積的銅微帶陣列掃描的結(jié)果。鋅 - 鐵合金層覆蓋在塑料基片表面的兩個(gè)邊上。這種結(jié)構(gòu)的部分（細(xì)節(jié)）在圖6中可見。掃描區(qū)50％占空比的球形（300 微米和180微米）。執(zhí)行掃描的激發(fā)點(diǎn)垂直移動(dòng)到陣列的微帶線，用25微米間距的測(cè)量點(diǎn)（過采樣相對(duì)于預(yù)期的空間分辨率）。該圖給出了一個(gè)明確的空間傳遞函

25、數(shù)的測(cè)量系統(tǒng)。輸出信號(hào)的調(diào)制在300微米間距的區(qū)域接近100%，180微米間距的區(qū)域約50％。如果我們假設(shè)高斯形狀的主光束點(diǎn)測(cè)得的調(diào)制的FWHM為80微米，稍微大于標(biāo)稱鏡頭一致性的期望值（因?yàn)?，由于檢測(cè)器的密封的情況下，我們被迫將樣品設(shè)置為重點(diǎn)）。因此，檢測(cè)系統(tǒng)的空間分辨率約80微米。未包括底層的銅條區(qū)域的鋅 - 鐵合金層的熒光可見。</p><p>　　圖6 噴墨打印機(jī)頭銅微帶的陣列掃描</p>

26、<p>　　四、新四元優(yōu)化探測(cè)器</p><p>　　圖7為新版本的優(yōu)化環(huán)形檢測(cè)器布局的示意圖。它由4個(gè)SDDs環(huán)繞于芯片的中心孔。每個(gè)心臟形狀的SDD與數(shù)量有限的獨(dú)立檢測(cè)器可以近乎100%的覆蓋圍繞該中心孔。此檢測(cè)器的厚度是450微米，4個(gè)SDD的有效面積為15平方毫米，整個(gè)檢測(cè)器的有效面積為60平方毫米，想當(dāng)于一個(gè)12元的探測(cè)器。在每個(gè)四SDDS角落的黑色圓點(diǎn)表示陽極的位置和臨近的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管。

27、這些元素置于每個(gè)探測(cè)器敏感區(qū)域旁。這種方式SDD的布置可以很容易地經(jīng)由準(zhǔn)直器篩出有效區(qū)域內(nèi)，以及陽極，JFET的邊界區(qū)域的剩余部分的熒光，可以避免電荷共享現(xiàn)象，和改善的峰背比。此外，這種配置的SDD的接收陽極可以設(shè)計(jì)得很小，其特征由120 fF與遠(yuǎn)低于中央陽極（大于200 fF的）的常規(guī)SDD電容輸出，光譜分辨率得以提高。</p><p>　　圖7 優(yōu)化版本SDD探測(cè)器環(huán)型布局示意圖</p>

28、<p>　　圖8所示照片為四元檢測(cè)器安裝在陶瓷板上與電子部分的連接。用Fe源照射的檢測(cè)器已初步測(cè)量光譜分辨率。圖9為測(cè)得的光譜。四個(gè)獨(dú)立的SDD同時(shí)偏置，和四個(gè)前置放大器的輸出被反饋送到相同的Tennelec TC244整形放大器（成形時(shí)間1.5秒）一次一個(gè)。輻射照射在檢測(cè)器上不平行。平均計(jì)數(shù)率約為每通道2 kcps，四個(gè)SDD有130 eV的平均分辨率（silena軟件擬合）和很好的均勻性。該探測(cè)器冷卻溫度為-35℃。測(cè)得的

29、峰值背景比（定義為Mn-K線和評(píng)估800 eV和1200 eV之間的平均值的峰值之間的比率）為6000，是具有500微米的準(zhǔn)直光束。高計(jì)數(shù)率性能的檢測(cè)器的初步測(cè)量，與tennelec TC244 375 ns整形放大器進(jìn)行整形，顯示分辨率為優(yōu)于220 eV FWHM（silena軟件擬合）的Mn-K線高達(dá) 300 kcps每通道。</p><p>　　圖8 檢測(cè)模塊的照片</p><p>

30、;　　圖9 鐵源照射在新四元探測(cè)器與經(jīng)由Tennelec TC244整形放大器測(cè)量所得光譜分辨率 ，1.5秒成形時(shí)間</p><p>　　新的四元探測(cè)器目前正在開發(fā)新的專用讀出電器以達(dá)到非常高的計(jì)數(shù)率。測(cè)得的最大輸入輸出量在450 ns的成形時(shí)間內(nèi)等于200 kcps每通道（即，800 kcps的在四個(gè)檢測(cè)器通道），增加至900kcps每通道（即，3.6Mcps的在四個(gè)檢測(cè)器通道）在150 ns整形時(shí)間內(nèi)。四元

31、探測(cè)器新的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)將被應(yīng)用于元素測(cè)繪光譜儀的更新版本，目前處于領(lǐng)先的研發(fā)階段。</p><p><b>　　五、結(jié)論</b></p><p>　　基于SDDS單片陣列和X光透鏡的新X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和元素映射性能，已被引入應(yīng)用實(shí)例。配備新的優(yōu)化多元SDD應(yīng)用和新的讀出電子裝置優(yōu)化的檢測(cè)器，將更大的提高光譜分辨率以及掃描速率。相對(duì)于其他適用于元素映射技術(shù)的儀器較

32、低的空間分辨率（例如，SEM和PIXE），該光譜儀具有幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)。它可以對(duì)空氣中的物體進(jìn)行無損分析，掃描速度快（檢測(cè)器特有的幾何結(jié)構(gòu)和的SDDs高計(jì)數(shù)率的能力），低能量的量子效率的提高，樣品和檢測(cè)器之間距離小，儀器設(shè)備緊湊（可以開發(fā)可移動(dòng)的安裝程序）和易于操作。</p><p><b>　　致 謝</b></p><p>　　新XRF光譜儀和四元SDD結(jié)構(gòu)由意大利國(guó)家原

33、子核物理學(xué)研究所（INFN） “FELIX”實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目提供支持。該SDDs結(jié)構(gòu)由馬克斯普朗克研究所的halbleiterlabor和pnsensors研發(fā)。policapillary微聚透鏡發(fā)電機(jī)由IFG公司提供，12元SDD的設(shè)置的技術(shù)由Ketek有限公司提供。筆者在此感謝米蘭公民考古博物館和其董事D. Caporusso，考古學(xué)家L. miazzo和M. de Marchi。感謝匿名審稿人對(duì)稿整體質(zhì)量的修改和給出的意見。</p&

34、gt;<p><b>　　參考文獻(xiàn)</b></p><p>　　[1] J. Goldstein, D. E. Newbury, D. C. Joy, C. E. Lyman, P. Echlin, E. Lifshin, L. C. Sawyer, and J. R. Michael, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Micro

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44、new detection system for x-ray microanalysis based on a silicon drift detector with Peltier cooling,” Rev. Sci. Instr., vol. 68, pp. 2461–2465, 1997.</p><p>　　[12] C. Fiorini and A. Longoni, “In-situ, non-d

45、estructive identification of chemical elements by means of portable EDXRF spectrometer,” IEEE Trans. Nucl. Sci., vol. 46, no. 6, pp. 2011–2016, Dec. 1999.</p><p>　　[13] H. Bronk, S. Röhrs, A. Bjeoumikh

46、ov, N. Langhoff, J. Schmalz, R. Wedell, H.-E. Gorny, A. Herold, and U. Waldschläger, “ArtTAX—A new mobile spectrometer for energy-dispersive micro X-ray fluorescence spectrometry on art and archaeological objects,”

47、Fresenius’ Journal of Analytical Chemistry, vol. 371, pp. 307–316, 2001.</p><p>　　[14] A. Longoni, C. Fiorini, C. Guazzoni, A. Gianoncelli, L. Struder, H. Soltau, P. Lechner, A. Bjeoumikhov, J. Schmalz, N.

48、Langhoff, and R. Wedell, “A new XRF spectrometer based on a ring-shaped multi-element silicon drift detector and on X-ray capillary optics,” IEEE Trans.</p><p>　　Nucl. Sci., pt. 2, vol. 49, no. 3, pp. 1001–1

49、005, Jun. 2002.</p><p>　　[15] C. Guazzoni, S. Buzzetti, A. Longoni, and C. Arnaboldi, “Modular multi-channel</p><p>　　acquisition system for high-resolution X-ray spectroscopy detectors,” IEEE

50、Trans. Nucl. Sci., pt. 2, vol. 49, no. 3, pp. 1199–1203, Jun. 2002.</p><p>　　[16] R. Hartmann, K.-H. Stephan, and L. Strüder, “The quantum efficiency of pn-detectors from the near infrared to the soft

51、X-ray region,” Nucl. Instrum. Meth., vol. A 439, pp. 216–220, 2000.</p><p>　　[17] P. Lechner, C. Fiorini, R. Hartmann, J. Kemmer, N. Krause, P. Leutenegger, A. Longoni, H. Soltau, D. Stötter, R. St

52、6;tter, L. Strüder, and U. Weber, “Silicon drift detectors for high count rate X-ray spectroscopy at room temperature,” Nucl. Instrum. Meth., vol. A 458, pp. 281–287, 2001.</p><p>　　[18] IfG—Institut F

53、ür Gerätebau GmbH, http://www.ifg-adlershof.de. Rudower Chaussee 29/31, 12 489.</p><p>　　[19] E. Roffia, Ed., La Necropoli Longobarda di Trezzo Sull’Adda. ser. the Series Ricerche di archeologia a

54、ltomedievale e medievale. Firenze, Italy: All’insegna del Giglio, 1986, vol. 12–13.</p><p>　　[20] Civico Museo Archeologico di Milano, Milano, Italy. corso Magenta 15.</p><p>　　[21] S. Buzzett

55、i, M. Capou, C. Guazzoni, A. Longoni, R. Mariani, and S. Moser, “High-speed FPGA-based pulse-height analyzer for high resolution X-ray spectroscopy,” IEEE Trans. Nucl. Sci., vol. 52, no. 4, pp. 854–860, Aug. 2005</p&g