焊接技術(shù)及自動(dòng)化超聲波探傷畢業(yè)論文

1、<p><b>　　第一章 緒論</b></p><p>　　1.1超聲波探傷簡(jiǎn)介</p><p>　　超聲波探傷也叫超聲檢測(cè)、超聲波檢測(cè)，是無(wú)損檢測(cè)的一種。無(wú)損檢測(cè)是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)不見(jiàn)的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種檢測(cè)手段，Nondestructive Testing（縮寫(xiě)NDT）。 </p><p>

2、;　　機(jī)械振動(dòng)在介質(zhì)中的傳播過(guò)程叫做波，人耳能夠感受到頻率高于16赫茲，低于20000赫茲的彈性波，所以在這個(gè)頻率范圍內(nèi)的彈性波又叫聲波。頻率小于10赫茲的彈性波又叫次聲波，頻率高于20000赫茲的彈性波叫做超聲波。次聲波和超聲波人耳都不能感受。 </p><p>　　超聲波的特點(diǎn)：1、超聲波聲束能集中在特定的方向上，在介質(zhì)中沿直線(xiàn)傳播，具有良好的指向性。2、超聲波在介質(zhì)中傳播過(guò)程中，會(huì)發(fā)生衰減和散射。3、超聲波

3、在異種介質(zhì)的界面上將產(chǎn)生反射、折射和波型轉(zhuǎn)換。利用這些特性，可以獲得從缺陷界面反射回來(lái)的反射波，從而達(dá)到探測(cè)缺陷的目的。4、超聲波的能量比聲波大得多。5、超聲波在固體中的傳輸損失很小，探測(cè)深度大，由于超聲波在異質(zhì)界面上會(huì)發(fā)生反射、折射等現(xiàn)象，尤其是不能通過(guò)氣體固體界面。如果金屬中有氣孔、裂紋、分層等缺陷（缺陷中有氣體）或夾雜，超聲波傳播到金屬與缺陷的界面處時(shí)，就會(huì)全部或部分反射。反射回來(lái)的超聲波被探頭接收，通過(guò)儀器內(nèi)部的電路處理，在儀器

4、的熒光屏上就會(huì)顯示出不同高度和有一定間距的波形?？梢愿鶕?jù)波形的變化特征判斷缺陷在工件重的深度、位置和形狀。 </p><p>　　超聲波探傷優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)厚度大、靈敏度高、速度快、成本低、對(duì)人體無(wú)害，能對(duì)缺陷進(jìn)行定位和定量。超聲波探傷對(duì)缺陷的顯示不直觀，探傷技術(shù)難度大，容易受到主客觀因素影響，以及探傷結(jié)果不便于保存，超聲波檢測(cè)對(duì)工作表面要求平滑，要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類(lèi)、適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)，使超聲

5、波探傷也具有其局限性。 </p><p>　　1.2超聲波探傷的基本原理</p><p>　　超聲波是一種機(jī)械波，機(jī)械振動(dòng)與波動(dòng)是超聲波探傷的物理基礎(chǔ)。</p><p>　　物體沿著直線(xiàn)或曲線(xiàn)在某一平衡位置附近作往復(fù)周期性的運(yùn)動(dòng)，稱(chēng)為機(jī)械振動(dòng)。振動(dòng)的傳播過(guò)程，稱(chēng)為波動(dòng)。波動(dòng)分為機(jī)械波和電磁波兩大類(lèi)。機(jī)械波是機(jī)械振動(dòng)在彈性介質(zhì)中的傳播過(guò)程。超聲波就是一種機(jī)械波。<

6、;/p><p>　　機(jī)械波主要參數(shù)有波長(zhǎng)、頻率和波速。波長(zhǎng)?：同一波線(xiàn)上相鄰兩振動(dòng)相位相同的質(zhì)點(diǎn)間的距離稱(chēng)為波長(zhǎng)，波源或介質(zhì)中任意一質(zhì)點(diǎn)完成一次全振動(dòng)，波正好前進(jìn)一個(gè)波長(zhǎng)的距離，常用單位為米(m)；頻率f：波動(dòng)過(guò)程中，任一給定點(diǎn)在1秒鐘內(nèi)所通過(guò)的完整波的個(gè)數(shù)稱(chēng)為頻率 ，常用單位為赫茲(Hz)；波速C：波動(dòng)中，波在單位時(shí)間內(nèi)所傳播的距離稱(chēng)為波速，常用單位為米/秒（m/s）。</p><p>　　

7、由上述定義可得：C=? f ，即波長(zhǎng)與波速成正比，與頻率成反比；當(dāng)頻率一定時(shí)，波速愈大，波長(zhǎng)就愈長(zhǎng)；當(dāng)波速一定時(shí)，頻率愈低，波長(zhǎng)就愈長(zhǎng)。</p><p>　　次聲波、聲波和超聲波都是在彈性介質(zhì)中傳播的機(jī)械波，在同一介質(zhì)中的傳播速度相同。它們的區(qū)別在主要在于頻率不同。頻率在20~20000Hz之間的能引起人們聽(tīng)覺(jué)的機(jī)械波稱(chēng)為聲波，頻率低于20Hz的機(jī)械波稱(chēng)為次聲波，頻率高于20000Hz的機(jī)械波稱(chēng)為超聲波。次聲波、

8、超聲波不可聞。</p><p>　　超聲探傷所用的頻率一般在0.5~10MHz之間，對(duì)鋼等金屬材料的檢驗(yàn)，常用的頻率為1~5MHz。超聲波波長(zhǎng)很短，由此決定了超聲波具有一些重要特性，使其能廣泛用于無(wú)損探傷。</p><p>　　1. 方向性好：超聲波是頻率很高、波長(zhǎng)很短的機(jī)械波，在無(wú)損探傷中使用的波長(zhǎng)為毫米級(jí)；超聲波象光波一樣具有良好的方向性，可以定向發(fā)射，易于在被檢材料中發(fā)現(xiàn)缺陷。<

9、;/p><p>　　2. 能量高：由于能量（聲強(qiáng)）與頻率平方成正比，因此超聲波的能量遠(yuǎn)大于一般聲波的能量。</p><p>　　3. 能在界面上產(chǎn)生反射、折射和波型轉(zhuǎn)換：超聲波具有幾何聲學(xué)的上一些特點(diǎn)，如在介質(zhì)中直線(xiàn)傳播，遇界面產(chǎn)生反射、折射和波型轉(zhuǎn)換等。</p><p>　　4. 穿透能力強(qiáng)：超聲波在大多數(shù)介質(zhì)中傳播時(shí)，傳播能量損失小，傳播距離大，穿透能力強(qiáng)，在一些金

10、屬材料中其穿透能力可達(dá)數(shù)米。</p><p>　　1.3超聲波探傷設(shè)備的介紹</p><p>　　超聲波探傷儀是一種便攜式工業(yè)無(wú)損探傷儀器，它能夠快速、便捷、無(wú)損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷（裂紋、疏松、氣孔、夾雜等）的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室，也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)。廣泛應(yīng)用在鍋爐、壓力容器、航天、航空、電力、石油、化工、海洋石油、管道、軍工、船舶制造、汽車(chē)、機(jī)械制造、冶金

11、、金屬加工業(yè)、鋼結(jié)構(gòu)、鐵路交通、核能電力、高校等行業(yè)。</p><p>　　超聲波探傷儀、探頭和試塊是超聲波探傷的重要設(shè)備，了解這些設(shè)備的原理、構(gòu)造和作用及其主要性能的測(cè)試方法是正確選用探傷設(shè)備進(jìn)行有效探傷的保證。</p><p>　　一． 超聲波探傷儀1.作用　　超聲波探傷儀的作用是產(chǎn)生電振蕩并加于換能器（探頭）上，激勵(lì)探頭發(fā)射超聲波，同時(shí)將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大，通過(guò)一定方式顯示

12、出來(lái)，從而得到被探工件內(nèi)部有無(wú)缺陷及缺陷位置和大小等信息?！　?.分類(lèi)按缺陷顯示方式分類(lèi)，超聲波探傷儀分為三種。　　A型：A型顯示是一種波形顯示，探傷儀的屏幕的橫坐標(biāo)代表聲波的傳播距離，縱坐標(biāo)代表反射波的幅度。由反射波的位置可以確定缺陷位置，由反射波的幅度可以估算缺陷大小?！　型：B型顯示是一種圖象顯示，屏幕的橫坐標(biāo)代表探頭的掃查軌跡，縱坐標(biāo)代表聲波的傳播距離，因而可直觀地顯示出被探工件任一縱截面上缺陷的分布及缺陷的深度。　

13、　C型：C型顯示也是一種圖象顯示，屏幕的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)都代表探頭在工件表面的位置，探頭接收信號(hào)幅度以光點(diǎn)輝度表示，因而當(dāng)探頭在工件表面移動(dòng)時(shí)，屏上顯示出被探工件內(nèi)部缺陷的平面圖象，但不能顯示缺陷的深度。　　目前，探傷中廣泛使用的超聲波探傷儀都是A型顯示脈沖反射式探傷儀。</p><p>　　二． 探頭　　超聲波的發(fā)射和接收是通過(guò)探頭來(lái)實(shí)現(xiàn)的。下面介紹探頭的工作原理、主要性能及其及結(jié)構(gòu)。1. 壓電效應(yīng)　　某

14、些晶體材料在交變拉壓應(yīng)作用下，產(chǎn)生交變電場(chǎng)的效應(yīng)稱(chēng)為正壓電效應(yīng)。反之當(dāng)晶體材料在交變電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱(chēng)為逆壓電效應(yīng)。正、逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱(chēng)為壓電效應(yīng)?！　〕暡ㄌ筋^中的壓電晶片具有壓電效應(yīng)，當(dāng)高頻電脈沖激勵(lì)壓電晶片時(shí)，發(fā)生逆壓電效應(yīng)，將電能轉(zhuǎn)換為聲能(機(jī)械能)，探頭發(fā)射超聲波。當(dāng)探頭接收超聲波時(shí)，發(fā)生正壓電效應(yīng)，將聲能轉(zhuǎn)換為電能。不難看出超聲波探頭在工作時(shí)實(shí)現(xiàn)了電能和聲能的相互轉(zhuǎn)換，因此常把探頭叫做換能器。2. 探頭的種類(lèi)

15、和結(jié)構(gòu)　　直探頭用于發(fā)射和接收縱波，主要用于探測(cè)與探測(cè)面平行的缺陷，如板材、鍛件探傷等?！　⌒碧筋^可分為縱波斜探頭、橫波斜探頭和表面波斜探頭，常用的是橫波斜探頭。橫波斜探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷，如焊縫、汽輪機(jī)葉輪等?！　‘?dāng)斜探頭的入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在工件中產(chǎn)生表面波，表面波探頭用于探測(cè)表面或近表面缺陷?！　‰p晶探頭有兩塊壓電晶片，一塊用于發(fā)射超聲波，另一塊用于接收超聲波。根據(jù)入射角不同，分為雙&

16、lt;/p><p>　　三． 試塊　　按一定用途設(shè)計(jì)制作的具有簡(jiǎn)單幾何形狀人工反射體的試樣，通常稱(chēng)為試塊。試塊和儀器、探頭一樣，是超聲波探傷中的重要工具。1． 試塊的作用（1） 確定探傷靈敏度　　超聲波探傷靈敏度太高或太低都不好，太高雜波多，判傷困難，太低會(huì)引起漏檢。因此在超聲波探傷前，常用試塊上某一特定的人工反射體來(lái)調(diào)整探傷靈敏度。（2） 測(cè)試探頭的性能　　超聲波探傷儀和探頭的一些重要性能，如放大線(xiàn)性、

17、水平線(xiàn)性、動(dòng)態(tài)范圍、靈敏度余量、分辨力、盲區(qū)、探頭的入射點(diǎn)、K值等都是利用試塊來(lái)測(cè)試的。（3） 調(diào)整掃描速度　　利用試塊可以調(diào)整儀器屏幕上水平刻度值與實(shí)際聲程之間的比例關(guān)系，即掃描速度，以便對(duì)缺陷進(jìn)行定位。（4） 評(píng)判缺陷的大小　　利用某些試塊繪出的距離-波幅-當(dāng)量曲線(xiàn)（即實(shí)用AVG）來(lái)對(duì)缺陷定量是目前常用的定量方法之一。特別是3N以?xún)?nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然是最有效的定量方法。此外還可利用試塊來(lái)測(cè)量材料的聲速、衰減性能等。

18、2.試塊的分類(lèi)（1） 按試塊來(lái)歷分為：標(biāo)準(zhǔn)試塊和參考試塊。（2） 按試塊上人工反射體分：平底孔試塊、橫孔試塊和槽形試塊</p><p>　　1.4國(guó)內(nèi)外超聲波探傷的現(xiàn)狀、發(fā)展</p><p>　　無(wú)損檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)歷一個(gè)世紀(jì)，盡管無(wú)損檢測(cè)技術(shù)本身并非一種生產(chǎn)技術(shù)，但其技術(shù)水平卻能反映該部門(mén)、該行業(yè)、該地區(qū)甚至該國(guó)的工業(yè)技術(shù)水平。無(wú)損檢測(cè)技術(shù)所能帶來(lái)的經(jīng)濟(jì)效益十分明顯。統(tǒng)計(jì)資料顯示，經(jīng)過(guò)無(wú)

19、損檢測(cè)后的產(chǎn)品增值情況大致是，機(jī)械產(chǎn)品為 5%，國(guó)防、宇航、原子能產(chǎn)品為 12%一 18%，火箭為 20%。例如，德國(guó)奔馳公司汽車(chē)幾千個(gè)零件經(jīng)過(guò)無(wú)損檢測(cè)后，整車(chē)運(yùn)行公里數(shù)提高了一倍，大大提高了產(chǎn)品在國(guó)際市場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)能力?？梢?jiàn)現(xiàn)代工業(yè)是建立在無(wú)損檢測(cè)基礎(chǔ)上的說(shuō)法并不為過(guò)。</p><p>　　隨著電子技術(shù)的迅速發(fā)展，使超聲波無(wú)損探傷技術(shù)和儀器也得到了相應(yīng)發(fā)展與應(yīng)用。早在 1929年蘇聯(lián)薩哈諾夫提出利用穿透法檢查固體內(nèi)

20、部結(jié)構(gòu)，以后利用連續(xù)超聲波在實(shí)驗(yàn)室研究成功。隨著聲納技術(shù)的發(fā)展，美、英兩國(guó)分別于 1944 年和 1964 年研制成功脈沖反射式超聲波探傷儀，并逐步用于鍛鋼和厚鋼板的探傷。80 年代，隨著大規(guī)模集成電路和微機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展，1983 年德國(guó)Krautkramer 公司推出第一臺(tái)便攜式數(shù)字化超聲波探傷儀 USD1 型，采用的是 z80CPU，盡管有許多不足，但已顯示出</p><p>　　數(shù)字化超聲波探傷儀強(qiáng)大的生

21、命力。我國(guó) 50 年代初引進(jìn)蘇聯(lián)超聲波探傷儀，60年代初期先后形成了一些批量生產(chǎn)的廠(chǎng)家，80 年代初，國(guó)內(nèi)各生產(chǎn)廠(chǎng)研制生產(chǎn)的超聲波探傷儀的主要技術(shù)指標(biāo)均有大幅度地提高，較好地滿(mǎn)足了超聲波探傷技術(shù)的需要。如汕頭超聲電子(集團(tuán))公司在1980 年推出了 CTS - 22 型超聲波探傷儀，其主要性能指標(biāo)與當(dāng)時(shí)國(guó)際同類(lèi)儀器水平相當(dāng)。</p><p>　　近年來(lái)我國(guó)超聲無(wú)損檢測(cè)事業(yè)取得了巨大進(jìn)步和發(fā)展。超聲無(wú)損檢測(cè)已經(jīng)應(yīng)用

22、到了幾乎所有工業(yè)部門(mén)，其用途正日趨擴(kuò)大。超聲無(wú)損檢測(cè)的相關(guān)理論和方法及應(yīng)用的基礎(chǔ)性研究正在逐步深入，已經(jīng)取得了許多突破性進(jìn)展。比如，用戶(hù)友好界面操作系統(tǒng)軟件；各種掃描成象技術(shù)；多坐標(biāo)、多通道的自動(dòng)超聲檢查系統(tǒng)；超聲機(jī)器人檢測(cè)系統(tǒng)等。無(wú)損檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化，檢測(cè)儀器的數(shù)字化、智能化、圖象化、小型化和系列化工作也都取得了較大發(fā)展。我國(guó)已經(jīng)制訂了一系列國(guó)標(biāo)、部標(biāo)及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，而且引進(jìn)了 ISO，ATSM 等一百多個(gè)國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)。無(wú)損檢測(cè)人員的培訓(xùn)

23、也逐漸與國(guó)際接軌。</p><p>　　但是，我國(guó)超聲無(wú)損檢測(cè)事業(yè)從整體水平而言，與發(fā)達(dá)國(guó)家之間仍存在很大差距。具體表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：</p><p>　　1. 檢測(cè)專(zhuān)業(yè)隊(duì)伍中高級(jí)技術(shù)人員和高級(jí)操作人員所占比例較小，極大阻礙了超聲無(wú)損檢測(cè)技術(shù)向自動(dòng)化、智能化、圖象化的進(jìn)展。由于經(jīng)驗(yàn)豐富的老一輩檢測(cè)工作者缺乏把實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)轉(zhuǎn)化為理論總結(jié)，而年輕的檢測(cè)人員缺乏切實(shí)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，這有可能導(dǎo)致現(xiàn)有的超

24、聲檢測(cè)軟件系統(tǒng)不同程度的缺陷，降低了檢測(cè)的可靠性。</p><p>　　2. 專(zhuān)業(yè)無(wú)損檢測(cè)人員相對(duì)較少，現(xiàn)有無(wú)損檢測(cè)設(shè)備有待改進(jìn)。從而導(dǎo)致目前我國(guó)產(chǎn)品的質(zhì)量普遍存在較大問(wèn)題，據(jù)測(cè)算，我國(guó)不良品的年損失約 2000 億元。更嚴(yán)重的后果是產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)能力差，影響產(chǎn)品進(jìn)入國(guó)際市場(chǎng)。</p><p>　　3. 對(duì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域的信息技術(shù)應(yīng)用重視不夠。我國(guó)對(duì)無(wú)損檢測(cè)信息技術(shù)的建設(shè)工作還處在相當(dāng)薄弱的

25、階段。</p><p>　　4. 無(wú)損檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范多而雜。</p><p>　　第二章超聲波探傷方法</p><p>　　超聲檢測(cè)方法分類(lèi)的方式有多種，較常用的有如下幾種：</p><p>　　1、按原理分類(lèi)：脈沖反射法、衍射時(shí)差法（TOFD）、穿透法、共振法。</p><p>　　2．按顯示方式分類(lèi)：A型顯示和超

26、聲成像顯示（可細(xì)分為B、C、D、S、P型顯示等）。</p><p>　　3．按波型分類(lèi)：縱波法、橫波法、表面波法、板波法、爬波法等。</p><p>　　4、按探頭數(shù)目分類(lèi)：?jiǎn)翁筋^法、雙探頭法、多探頭法。</p><p>　　5、按探頭與試件的接觸方式分類(lèi)：接觸法、液浸法、電磁耦合法。</p><p>　　6、按人工干預(yù)的程度分類(lèi)：手工檢測(cè)、

27、自動(dòng)檢測(cè)。</p><p>　　每一個(gè)具體的超聲檢測(cè)方法都是上述不同分類(lèi)方式的一種組合，如最常用的：?jiǎn)翁筋^橫波脈沖反射接觸法（A型顯示）。每一種檢測(cè)方法都有其特點(diǎn)和局限性，針對(duì)每一檢測(cè)對(duì)象所采用的不同的檢測(cè)方法，是根據(jù)檢測(cè)目的及被檢工件的形狀、尺寸、材質(zhì)等特征來(lái)進(jìn)行選擇的。</p><p>　　2.1按原理分類(lèi)的超聲檢測(cè)方法</p><p>　　超聲檢測(cè)方法按原理分

28、類(lèi)，可分為脈沖反射法、衍射時(shí)差法、穿透法和共振法。</p><p>　　2.1.1脈沖反射法</p><p>　　超聲波探頭發(fā)射脈沖波到被檢工件內(nèi)，通過(guò)觀察來(lái)自?xún)?nèi)部缺陷或工件底面反射波的情況來(lái)對(duì)試件進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為脈沖反射法。</p><p>　　脈沖反射法包括缺陷回波法、底波高度法和多次底波法。</p><p><b>　　1

29、.缺陷回波法</b></p><p>　　根據(jù)儀器示波屏上顯示的缺陷波形進(jìn)行判斷的方法，稱(chēng)為缺陷回波法。該方法以回波傳播時(shí)間對(duì)缺陷定位，以回波幅度對(duì)缺陷定量，是脈沖反射法的基本方法。</p><p>　　如圖所示為缺陷回波檢測(cè)的基本原理，當(dāng)工件完好時(shí)，超聲波可順利傳播到達(dá)底面，檢測(cè)圖形中只有表示發(fā)射脈沖T及底面回波B兩個(gè)信號(hào)，如圖a所示。</p><p>

30、;　　若工件中存在缺陷，則在檢測(cè)圖形中，底面回波前有表示缺陷的回波F，如圖b所示。</p><p><b>　　2.底波高度法</b></p><p>　　當(dāng)工件的材質(zhì)和厚度不變時(shí)，底面回波高度應(yīng)是基本不變的。如果工件內(nèi)存在缺陷，底面回波會(huì)下降甚至消失，如圖所示。</p><p>　　這種依據(jù)底面回波的高度變化判斷工件缺陷情況的檢測(cè)方法，稱(chēng)為底

31、波高度法。</p><p>　　底波高度法的特點(diǎn)在于同樣投影大小的缺陷可以得到同樣的指示，而且不出現(xiàn)盲區(qū)，但是要求被檢工件的檢測(cè)面與底面平行，耦合條件一致。該方法檢出缺陷定位定量不便，靈敏度較低，因此，實(shí)用中很少作為一種獨(dú)立的檢測(cè)方法，而是經(jīng)常作為一種輔助手段，配合缺陷回波法發(fā)現(xiàn)某些傾斜的、小而密集的缺陷，對(duì)于鍛件采用直探頭縱波檢測(cè)法時(shí)常使用，如由缺陷引起的底波降低量。</p><p>&

32、lt;b>　　3.多次底波法</b></p><p>　　當(dāng)透入工件的超聲波能量較大，而工件厚度較小時(shí)，超聲波可在檢測(cè)面與底面之間往復(fù)傳播多次，示波屏上出現(xiàn)多次底波B1、B2、B3、……。如果工件存在缺陷，則由于缺陷的反射以及散射而增加了聲能的損耗，底波回波次數(shù)減少，同時(shí)也打亂了各次底面回波高度依次衰減的規(guī)律，并顯示出缺陷回波，如圖所示。這種依據(jù)多次底面回波的變化，判斷工件有無(wú)缺陷的方法，稱(chēng)為多

33、次底波法。</p><p>　　多次底波法主要用于厚度不大、形狀簡(jiǎn)單、檢測(cè)面與底面平行的工件檢測(cè)，缺陷檢出的靈敏度低于缺陷回波法。</p><p>　　2.1.2衍射時(shí)差法</p><p>　　衍射時(shí)差法（Time of Flight Diffraction,簡(jiǎn)稱(chēng)TOFD）,是利用缺陷部位的衍射波信號(hào)來(lái)檢測(cè)和測(cè)定缺陷尺寸的一種超聲檢測(cè)方法，通常使用縱波斜探頭，采用一

34、發(fā)一收模式，該方法最早于20世紀(jì)70年代由英國(guó)原子能管理局國(guó)家無(wú)損檢測(cè)研究中心的哈威爾實(shí)驗(yàn)室的M.G.Silk根據(jù)超聲波衍射現(xiàn)象首先提出來(lái)的。缺陷處的衍射現(xiàn)象如圖所示。</p><p>　　TOFD技術(shù)的物理原理</p><p>　　衍射現(xiàn)象是TOFD技術(shù)采用的基本物理原理。</p><p>　　衍射現(xiàn)象的解釋?zhuān)翰ㄓ龅秸系K物或小孔后通過(guò)散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象，根據(jù)惠更斯

35、原理，媒質(zhì)上波陣面上的各點(diǎn)，都可以看成是發(fā)射子波的波源，其后任意時(shí)刻這些子波的包跡，就是該時(shí)刻新的波陣面。</p><p><b>　　TOFD工作原理</b></p><p>　　TOFD技術(shù)采用一發(fā)一收兩個(gè)寬帶窄脈沖探頭進(jìn)行檢測(cè)，探頭相對(duì)于焊縫中心線(xiàn)對(duì)稱(chēng)布置。發(fā)射探頭產(chǎn)生非聚焦縱波波束以一定角度入射到被檢工件中，其中部分波束沿近表面?zhèn)鞑ケ唤邮仗筋^接收，部分波束經(jīng)底

36、面反射后被探頭接收。接收探頭通過(guò)接收缺陷尖端的衍射信號(hào)及其時(shí)差來(lái)確定缺陷的位置和自身高度。</p><p>　　TOFD方法一般將探頭對(duì)稱(chēng)分布于焊縫兩側(cè)。在工件無(wú)缺陷部位，發(fā)射超聲脈沖后，首先到達(dá)接收探頭的是直通波，然后是底面反射波。有缺陷存在時(shí)，在直通波和底面反射波之間，接收探頭還會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。除上述波外，還有缺陷部位和底面因波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生的橫波，因?yàn)槁曀傩∮诳v波，因而一般會(huì)遲與底面反射波到達(dá)接收探

37、頭。</p><p><b>　　TOFD技術(shù)優(yōu)越性</b></p><p>　　a）一次掃查幾乎能夠覆蓋整個(gè)焊縫區(qū)域（除上下表面盲區(qū)），可以實(shí)現(xiàn)非常高的檢測(cè)速度；</p><p>　　b）可靠性要好，對(duì)于焊縫中部缺陷檢出率很高；</p><p>　　c）能夠發(fā)現(xiàn)各種類(lèi)型的缺陷，對(duì)缺陷的走向不敏感；</p>

38、<p>　　d）可以識(shí)別向表面延伸的缺陷；</p><p>　　e）采用D-掃描成像，缺陷判讀更加直觀；</p><p>　　f）對(duì)缺陷垂直方向的定量和定位非常準(zhǔn)確，精度誤差小于1mm；</p><p>　　g）和脈沖反射法相結(jié)合時(shí)檢測(cè)效果更好，覆蓋率100%；</p><p>　　TOFD技術(shù)局限性：</p>&l

39、t;p>　　a）近表面存在盲區(qū)，對(duì)該區(qū)域檢測(cè)可靠性不夠</p><p>　　b）對(duì)缺陷定性比較困難</p><p>　　c）對(duì)圖像判讀需要豐富經(jīng)驗(yàn)</p><p>　　d）橫向缺陷檢出比較困難</p><p>　　e）對(duì)粗晶材料，檢出比較困難</p><p>　　f）對(duì)復(fù)雜幾何形狀的工件比較難測(cè)量</p&g

40、t;<p><b>　　2.1.3穿透法</b></p><p>　　穿透法是采用一發(fā)一收雙探頭分別放置在工件相對(duì)的兩端面，依據(jù)脈沖波或連續(xù)波穿透工件之后的能量變化來(lái)檢測(cè)工件缺陷的方法。</p><p>　　穿透法如圖所示，其中（a）為無(wú)缺陷時(shí)的波形，（b）為有缺陷時(shí)的波形。</p><p><b>　　2.1.4共振法

41、</b></p><p>　　依據(jù)工件的共振特性來(lái)判斷缺陷情況和工件厚度變化情況的方法稱(chēng)為共振法。常用于工件測(cè)厚。目前很少使用共振法測(cè)厚。</p><p>　　測(cè)厚原理，從超聲波理論可知，超聲波（連續(xù)波）垂直入射到平板工件底面，當(dāng)工件厚度為 的整數(shù)倍時(shí)，反射波與入射波互相疊加，形成駐波，產(chǎn)生共振。這時(shí)工件厚度與波速、頻率的關(guān)系為：</p><p><

42、;b>　　即：</b></p><p>　　式中 δ工件厚度；</p><p><b>　　λ工件中波長(zhǎng)；</b></p><p><b>　?。愎ぜ胁ㄋ伲?lt;/b></p><p>　　工件中第n次共振頻率</p><p>　　當(dāng)n=1時(shí)，所得 為工件

43、的基頻率。測(cè)得兩個(gè)相鄰的共振頻率后，可由下式得到工件的厚度：</p><p>　　2.2 A型顯示和超聲成像</p><p>　　按超聲信號(hào)的顯示方式，可將超聲檢測(cè)方法分為A型顯示和超聲成像方法，其中超聲成像顯示按成像方式的不同又可再分為B、C、D、S、P型顯示等。</p><p>　　2.2.1 A型顯示</p><p>　　A型顯示

44、是一種波形顯示，是將超聲信號(hào)的幅度與傳播時(shí)間的關(guān)系以直角坐標(biāo)的形式顯示出來(lái)，橫坐標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間，縱坐標(biāo)代表信號(hào)幅度。A型顯示是最基本的一種信號(hào)顯示方式。</p><p>　　此時(shí)，示波管的電子束是振幅調(diào)制的。換言之，A型顯示的內(nèi)容是探頭駐留在工件上某一點(diǎn)時(shí)，沿聲束傳播方向的回波振幅分布。</p><p>　　結(jié)合脈沖反射法的A型顯示超聲檢測(cè)是目前用的最多的一種方法，目前特種設(shè)備行業(yè)常

45、用的JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的就是A型脈沖反射式超聲波檢測(cè)，采用該方法時(shí)，檢測(cè)結(jié)果受檢測(cè)人員的素質(zhì)、經(jīng)驗(yàn)等人為因素影響較大。</p><p>　　2.2.2 超聲成像方法</p><p>　　超聲成像就是用超聲波獲得物體可見(jiàn)圖像的方法。由于聲波可以穿透很多不透光的物</p><p>　　故利用聲波可以獲得這些物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)聲學(xué)特性的信息，超聲成像技術(shù)

46、將這些信息變成人眼可見(jiàn)的圖像，即可以獲得不透光物體內(nèi)部聲學(xué)特性分布的圖像。物體的超聲圖像可提供直觀和大量的信息，直接顯示物體內(nèi)部情況，且可靠性、復(fù)現(xiàn)性高，可以對(duì)缺陷進(jìn)行定量動(dòng)態(tài)監(jiān)控。一般而言，超聲成像方法是基于A型顯示形成的工件不同截面的圖像顯示，大都具有自動(dòng)數(shù)據(jù)采集、自動(dòng)數(shù)據(jù)處理和自動(dòng)作出評(píng)價(jià)的功能。</p><p>　　超聲成像方法發(fā)展到現(xiàn)代，主要采用掃描接收信號(hào)、再進(jìn)行圖像重構(gòu)的方式，因此又稱(chēng)為超聲掃描成像

47、技術(shù)，起初主要為B、C掃描成像，隨后為檢測(cè)焊縫而開(kāi)發(fā)出D、P掃描（投影掃描成像）；因?yàn)橄嗫仃嚰夹g(shù)的出現(xiàn)，又出現(xiàn)S掃描（扇形掃描成像）等。而對(duì)應(yīng)的，A型顯示又可稱(chēng)為A掃描顯示。</p><p><b>　　B、C、D掃描成像</b></p><p>　　B掃描顯示的是與聲束傳播方向平行且與工件的測(cè)量表面垂直的剖面；D掃描所顯示的是與聲束平面及測(cè)量表面都垂直的剖面；C掃描

48、所顯示的則是工件的橫斷面。</p><p>　　B、C、D掃描成像設(shè)備較簡(jiǎn)單、操作容易，已成為最普及的三種超聲成像方法。其中的B掃描廣泛用于醫(yī)療診斷，俗稱(chēng)B超?，F(xiàn)在用于無(wú)損檢測(cè)也取得了良好的效果。</p><p><b>　　2. P掃描成像</b></p><p>　　P掃描是“投影成像掃描”的簡(jiǎn)稱(chēng)，是專(zhuān)為檢測(cè)焊縫而開(kāi)發(fā)的其工作原理如圖所示

49、。兩個(gè)斜探頭位于焊縫兩側(cè)并按事先規(guī)劃好的方式掃描，掃查可手動(dòng)或自動(dòng)。測(cè)到的聲波以1dB甚至更小的精度記錄與硬盤(pán)上，然后，將測(cè)得的結(jié)果送入P掃描處理器，它以聲線(xiàn)理論為基礎(chǔ)進(jìn)行計(jì)算，并將計(jì)算結(jié)果以?xún)蓚€(gè)投影圖的方式顯示：一個(gè)是俯視圖，投影面平行于表面；另一個(gè)是側(cè)視圖，投影面平行于焊縫，且垂直于表面。因此，P掃描實(shí)際上是一種同時(shí)顯示C掃描圖像（側(cè)視）和D掃描圖像（側(cè)視）的商品化成像系統(tǒng)。在圖中W是焊縫加上其熱影響區(qū)的寬度，H是焊縫厚度。為幫助正

50、確判別缺陷，P掃描顯示時(shí)，在兩個(gè)視圖的下方有一個(gè)附加的顯示圖。該圖顯示出以分貝標(biāo)度的回波振幅大小，該振幅是沿焊縫寬度方向測(cè)得的所有回波振幅的最大值，顯示圖中的虛線(xiàn)表示兩個(gè)視圖中的顯示閥值，該顯示圖有些類(lèi)似A掃描顯示。</p><p><b>　　P掃描原理</b></p><p>　　2.3 按波型分類(lèi)的超聲檢測(cè)方法</p><p>　　

51、根據(jù)檢測(cè)采用的波型，超聲檢測(cè)方法可分為縱波法、橫波法、表面波法、板波法、爬波法等。</p><p>　　2.3.1 縱波法</p><p>　　使用縱波進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為縱波法。在同一介質(zhì)中傳播時(shí)，縱波速度大于其他波型的速度，穿透能力強(qiáng)，對(duì)晶界反射或散射的敏感性不高，所有可檢測(cè)工件的厚度是所有波型中最大的，而且可用于粗晶材料的檢測(cè)。</p><p><b&

52、gt;　　縱波直探頭法</b></p><p>　　使用縱波直探頭進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為縱波直探頭法。波束垂直入射至工件檢測(cè)面，以不變的波型和方向透入工件，所以又稱(chēng)垂直入射法，簡(jiǎn)稱(chēng)垂直法，如圖所示。</p><p>　　垂直法主要用于鑄造、鍛壓、軋材及其制品的檢測(cè)，該法對(duì)于與檢測(cè)面平行的缺陷檢測(cè)效果最佳。由于垂直法檢測(cè)時(shí)，波型和傳播方向不變，所以缺陷定位比較方便。</p&g

53、t;<p><b>　　2.縱波斜探頭法</b></p><p>　　將縱波傾斜入射至工件檢測(cè)面，利用折射縱波進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為縱波斜探頭法。此時(shí)，入射角小于第一臨界角α1，工件中即有縱波也有橫波，由于縱波傳播速度快，幾乎是橫波的兩倍，因此可利用縱波來(lái)識(shí)別缺陷和定量，但注意不要與橫波信號(hào)混淆。</p><p>　　一般來(lái)說(shuō)，小角度縱波斜探頭常用來(lái)檢測(cè)探

54、頭移動(dòng)范圍較小、檢測(cè)范圍較深的一些部件，如從螺栓端部檢測(cè)螺栓，多層包扎設(shè)備的環(huán)焊縫等。</p><p>　　對(duì)于粗晶材料，如奧氏體不銹鋼焊接接頭的檢測(cè)，也常采用縱波斜探頭法檢測(cè)。在TOFD檢測(cè)技術(shù)中，使用的探頭一般也為縱波斜探頭。</p><p>　　2.3.2 橫波法</p><p>　　將縱波傾斜入射至工件檢測(cè)面，利用波型轉(zhuǎn)換得到橫波進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為橫波

55、法。由于入射聲束與檢測(cè)面成一定夾角，所以又稱(chēng)斜射法。</p><p>　　斜射聲束的產(chǎn)生通常有兩種方式，一種是接觸法時(shí)采用斜探頭，有晶片發(fā)出的縱波通過(guò)一定傾角的斜楔到達(dá)接觸面，在界面處發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，在工件中產(chǎn)生折射后的斜射橫波聲束；另一種是利用水浸直探頭，在水中改變聲束入射到檢測(cè)面時(shí)的入射角，從而在工件中產(chǎn)生所需波型和角度的折射波。</p><p>　　橫波法主要用于焊接接頭和管材的檢測(cè)，

56、是目前特種設(shè)備行業(yè)中應(yīng)用最多的一種方法。檢測(cè)其他工件時(shí)，則作為一種有效的輔助手段，用以發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面有一定傾角的缺陷。</p><p>　　2.3.3 表面波檢測(cè)</p><p>　　使用表面波進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為表面波法。對(duì)于近表面缺陷的檢測(cè)，表面波是有效的檢測(cè)方法。</p><p><b>　　1.表面波的性質(zhì)</b></p>

57、<p>　　表面波只在物體表面下幾個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)傳播，當(dāng)其沿表面?zhèn)鞑サ倪^(guò)程中遇到表面裂紋時(shí)，表面波的傳播如圖所示：</p><p>　　表面波傳播到表面裂紋的情況圖</p><p>　　一部分聲波在裂紋開(kāi)口處仍以表面波的型式被反射，并沿物體表面返回。</p><p>　　一部分聲波仍以表面波的型式沿裂紋表面繼續(xù)向前傳播，傳播到裂紋頂端時(shí)，部分聲波繼續(xù)以表

58、面波的型式沿裂紋表面向前傳播。</p><p>　　一部分聲波在表面轉(zhuǎn)折處或裂紋頂端轉(zhuǎn)變?yōu)樽冃慰v波和變形橫波，在物體內(nèi)部傳播。</p><p>　　在表面波檢測(cè)中，主要利用表面波的上述特性來(lái)檢測(cè)表面和近表面裂紋。</p><p>　　表面波傳播時(shí)，表面層質(zhì)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)具有縱波和橫波的綜合特性，質(zhì)點(diǎn)運(yùn)動(dòng)軌跡是限于XOZ平面內(nèi)的橢圓，如圖</p><

59、p><b>　　表面波傳播示意圖</b></p><p>　　2.3.4 板波檢測(cè)</p><p>　　使用板波進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為板波法。主要用于薄板、薄壁管等形狀簡(jiǎn)單的工件檢測(cè)。板波充塞于整個(gè)工件，可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部的和表面的缺陷。但是檢出靈敏度除取決于儀器工作條件外，還取決于波的形式。</p><p><b>　　板波的種

60、類(lèi)</b></p><p>　　板中傳播的超聲波受板面的影響，當(dāng)頻率、板厚、入射超聲波的速度之間滿(mǎn)足一定的關(guān)系時(shí)，聲波就能順利通過(guò)。狹義的講，板波僅指板中傳播的蘭姆波，廣義的講也包括圓棒、方鋼和管中傳播的波。根據(jù)考慮方面的不同，板波可按如下幾個(gè)方面分類(lèi)：</p><p>　?。?）根據(jù)質(zhì)點(diǎn)震動(dòng)情況分類(lèi) 質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向與表面平行的橫波（簡(jiǎn)稱(chēng)SH波）射向邊界面時(shí)，反射波仍然是S

61、H波。SH波如果射向薄板，就在薄板中產(chǎn)生SH波。如在板中傳播的波中既有振動(dòng)方向與板面垂直的橫波，又含有振動(dòng)方向與板面平行的縱波時(shí)，這種板波叫蘭姆波。蘭姆波中質(zhì)點(diǎn)實(shí)際上是做橢圓運(yùn)動(dòng)。</p><p>　?。?）給根據(jù)邊界條件分類(lèi) 板面與空氣接觸時(shí)，理論上可按與真空相接觸處理；板的一面或兩面與固體或液體接觸時(shí)情況比較復(fù)雜。</p><p>　　2.蘭姆波檢測(cè)的一般程序</p>

62、<p>　?。?）盡可能選用寬的發(fā)射脈沖。如有可能，用頻譜分析方法或其他方法測(cè)定探頭發(fā)射的超聲頻譜，以便選擇窄頻帶脈沖。</p><p>　　（2）制作一個(gè)與被測(cè)板材料相同的對(duì)比試塊。試塊長(zhǎng)度可選為20mm、30mm等，厚度應(yīng)與被測(cè)板相同，板上制作人工缺陷。</p><p>　　（3）選擇合適的波形。例如，若需傳播距離大，應(yīng)選取以縱波成分為主的板波波形；若需測(cè)定板與其他介質(zhì)粘結(jié)

63、的良好程度，可選取以橫波成分為主的板波波形。先根據(jù)頻率乘板厚的數(shù)值在群速度圖上選擇群速度隨頻率變化緩慢的板波波形，再根據(jù)波形、頻率乘板厚的數(shù)值，從相應(yīng)的圖中查的入射角。</p><p>　?。?）根據(jù)入射角選擇合適的探頭，在試塊上調(diào)整掃描速度。用試塊端面反射脈沖信號(hào)，觀察所選蘭姆波的衰減特性，注意是否有非單調(diào)特性。</p><p>　?。?）根據(jù)人工反射體的反射，選擇合適的檢測(cè)靈敏度。&l

64、t;/p><p>　　（6）檢測(cè)時(shí)，當(dāng)發(fā)現(xiàn)端面信號(hào)前面有信號(hào)出現(xiàn)時(shí)，用手指拍打確定缺陷確切的位置。所選耦合劑黏度要稍大些，避免到處流淌。</p><p>　　2.4 按探頭數(shù)目分類(lèi)的超聲檢測(cè)方法</p><p><b>　　2.4.1單探頭法</b></p><p>　　使用一個(gè)探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的檢測(cè)方法稱(chēng)為單探

65、頭法。單探頭法操作簡(jiǎn)便，可檢出大多數(shù)缺陷，是目前最常用的一種方法。</p><p>　　單探頭法檢測(cè)，對(duì)于與波束軸線(xiàn)垂直的面狀缺陷和立體型缺陷的檢出效果最好。與波束軸線(xiàn)平行的面狀缺陷難以檢出。當(dāng)缺陷與波束軸線(xiàn)傾斜時(shí)，則根據(jù)傾斜角度的大小，能夠收到部分回波或者因反射波束全部反射在探頭之外而無(wú)法檢出。</p><p>　　2.4.2 雙探頭法</p><p>　　使用兩

66、個(gè)探頭（一個(gè)發(fā)射，一個(gè)接收）進(jìn)行檢測(cè)的方法稱(chēng)為雙探頭法。主要用于發(fā)現(xiàn)單探頭法難以檢出的缺陷。</p><p>　　雙探頭法又可根據(jù)兩個(gè)探頭排列方式和工作方式，進(jìn)一步分為并列式、交叉式、V型串列式、K型串列式、串列式等，</p><p><b>　　雙探頭的排列方式</b></p><p><b>　　并列式</b><

67、/p><p>　　兩個(gè)探頭并列放置，檢測(cè)時(shí)兩者作同步同向移動(dòng)。但直探頭作并列放置時(shí)，通常是一個(gè)探頭固定，另一個(gè)探頭移動(dòng)，以便發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面傾斜的缺陷，雙晶探頭的原理，就是將兩個(gè)并列的探頭組合在一起，具有較高的分辨力和信噪比，適用于薄工件、近表面缺陷的檢測(cè)。</p><p><b>　　交叉式</b></p><p>　　兩個(gè)探頭軸線(xiàn)交叉，交叉點(diǎn)為要檢

68、測(cè)的部位，此種檢測(cè)方法可用來(lái)發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面垂直的面狀缺陷，在焊縫檢測(cè)中，常用來(lái)發(fā)現(xiàn)橫向缺陷。</p><p><b>　　V型串列式</b></p><p>　　兩探頭相對(duì)放置在同一平面上，一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波剛好落在另一個(gè)探頭的入射點(diǎn)上，此中檢測(cè)方法主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)平面平行的面狀缺陷。</p><p><b>　

69、　K型串列式</b></p><p>　　兩探頭以相同的方向分別放置于工件的上下表面上。一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波進(jìn)入另一個(gè)探頭，此種檢測(cè)方法主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面垂直的面狀缺陷。</p><p><b>　　串列式</b></p><p>　　兩探頭一前一后，以相同方式放置在同一表面上，一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反

70、射的回波經(jīng)底面反射進(jìn)入另一探頭，此種檢測(cè)方法用來(lái)發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面垂直的片狀缺陷（如厚焊縫的中間未焊透、窄間隙焊縫的坡口面未熔合等）。</p><p>　　這種檢測(cè)方法的特點(diǎn)是，不論缺陷時(shí)處在焊縫的上部、中部或根部，其缺陷聲程始終相等，從而缺陷信號(hào)在熒光屏上的水平位置固定不變；上、下表面存在盲區(qū)；兩個(gè)探頭在一個(gè)表面上沿相反的方向移動(dòng)，用手工操作較困難，需要設(shè)計(jì)專(zhuān)用的掃查裝置。</p><p>　

71、　2.4.3 多探頭法</p><p>　　使用兩個(gè)以上的探頭組合在一起進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為多探頭法。多探頭法的應(yīng)用，主要是通過(guò)增加聲束來(lái)提高檢測(cè)速度或發(fā)現(xiàn)各種取向的缺陷。通常與多通道儀器和自動(dòng)掃查裝置配合，如圖所示。</p><p><b>　　多探頭法</b></p><p>　　2.5 按探頭接觸方式分類(lèi)的超聲檢測(cè)方法</p

72、><p>　　依據(jù)檢測(cè)時(shí)探頭與工件的接觸方式，可分為接觸法、液浸法和電磁超聲。</p><p>　　2.5.1 接觸法和液浸法</p><p>　　探頭與工件檢測(cè)面之間，涂有很薄的耦合劑層，因此可以看做為兩者直接接觸，這種檢測(cè)方法稱(chēng)為直接接觸法，或簡(jiǎn)稱(chēng)接觸法。</p><p>　　將探頭和工件浸與液體中以液體作耦合劑進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱(chēng)為液浸法

73、。耦合劑可以是水，也可以是油。當(dāng)以水為耦合劑時(shí)，稱(chēng)為水浸法。</p><p>　　液浸法檢測(cè)，探頭不直接接觸工件，所以此方法適用于表面粗糙的工件，探頭也不易磨損，耦合穩(wěn)定，檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性好，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)。</p><p>　　液浸法按檢測(cè)方式不同，又分為全浸沒(méi)式和局部浸沒(méi)式。</p><p>　　（1）全浸沒(méi)式 被檢工件全部浸沒(méi)于液體之中，適用于體積不大，

74、形狀簡(jiǎn)單的工件檢測(cè)。</p><p>　?。?）局部浸沒(méi)式 把被檢工件的一部分浸沒(méi)在水中或被檢工件與探頭之間保持一定的水層而進(jìn)行檢測(cè)的方法，適用于大體積的檢測(cè)。局部浸沒(méi)法又分為噴液式、通水式和滿(mǎn)溢式。</p><p>　　1）噴液式 超聲波通過(guò)以一定壓力噴射至檢測(cè)表面的水柱耦合方式。</p><p>　　2）通水式 借助于一個(gè)專(zhuān)用的有進(jìn)水、出水口的液罩，使液罩

75、內(nèi)經(jīng)常保持一定容量的液體，這種方法稱(chēng)為通水式。</p><p>　　3）滿(mǎn)溢式 滿(mǎn)溢式液罩結(jié)構(gòu)與通水式相似，但只有進(jìn)水口，多余液體從罩的上部溢出，這種方法稱(chēng)為滿(mǎn)溢式。</p><p>　　根據(jù)探頭與工件檢測(cè)面之間液層的厚度，液浸法又可分為高液層法和低液層法。</p><p>　　接觸法和液浸法特點(diǎn)比較</p><p>　　（1） 接觸法優(yōu)點(diǎn)

76、 多為手工檢測(cè)，操作方便；設(shè)備簡(jiǎn)單，適用于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，且成本較低；直接耦合，入射聲能損失小，可以提供較大的厚度穿透能力；在相同的檢測(cè)參數(shù)下，可比液浸法提供更高的檢測(cè)靈敏度。</p><p>　?。?）接觸法缺點(diǎn) 手工操作受人為因素影響較大，耦合不易穩(wěn)定；要求被檢表面的粗糙度較小。</p><p>　　（3）液浸法優(yōu)點(diǎn) 探頭與被檢工件不接觸，超聲波的發(fā)射和接收均較穩(wěn)定，表面粗糙度的

77、影響較??；通過(guò)調(diào)節(jié)探頭角度，可方便的改變探頭發(fā)射的聲束方向；可縮小檢測(cè)盲區(qū)，從而可檢測(cè)較薄的工件；探頭不直接接觸工件，探頭損壞的可能性較小，探頭壽命長(zhǎng)；便于實(shí)現(xiàn)聚焦聲束檢測(cè)，滿(mǎn)足高靈敏度、高分辨率檢測(cè)的需要；便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)，減少影響檢測(cè)可靠性的人為因素。</p><p>　?。?）液浸法缺點(diǎn) 超聲波在液體和金屬表面的反射，損失了大量能量，需采用較高的增益。當(dāng)檢測(cè)高衰減材料或大厚度材料時(shí)，可能沒(méi)有足夠的能量。

78、在較高增益下，還可能出現(xiàn)噪聲干擾。</p><p>　　在實(shí)際檢測(cè)時(shí)，應(yīng)根據(jù)應(yīng)用的對(duì)象、目的和場(chǎng)合，結(jié)合兩種方法的優(yōu)缺點(diǎn)綜合選擇。</p><p>　　2.6 手工檢測(cè)和自動(dòng)檢測(cè)</p><p>　　按人工干預(yù)的程度分類(lèi)，超聲檢測(cè)可分為手工檢測(cè)和自動(dòng)檢測(cè)。</p><p>　　2.6.1 手工檢測(cè)</p><p&g

79、t;　　手工檢測(cè)一般指由操作者手持探頭進(jìn)行的A型脈沖反射式超聲檢測(cè)。</p><p>　　手工檢測(cè)方便易操作，大量應(yīng)用于特種設(shè)備的相關(guān)行業(yè)，對(duì)于保證產(chǎn)品質(zhì)量起了重要作用，我國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005主要的適用范圍即為手工檢測(cè)。</p><p>　　但是，也要看到，手工檢測(cè)結(jié)果受操作者的人為因素影響比較大，假定在儀器探頭等其他一切硬件條件均滿(mǎn)足工藝的情況下，這時(shí)操作者的責(zé)任

80、心、情緒狀態(tài)、掃查探頭的方式和手法、技術(shù)水平等均會(huì)直接關(guān)系到缺陷的檢出率和缺陷判斷的準(zhǔn)確率，同時(shí)檢測(cè)過(guò)程中的超聲信號(hào)無(wú)法連續(xù)記錄，檢測(cè)結(jié)果的可靠性、復(fù)現(xiàn)性難以保證。</p><p>　　2.6.2 自動(dòng)檢測(cè)</p><p>　　自動(dòng)檢測(cè)指使用自動(dòng)化超聲檢測(cè)設(shè)備，在最少的人工干預(yù)下進(jìn)行并完成檢測(cè)的全部過(guò)程。一般指采用自動(dòng)掃查裝置，或在檢測(cè)過(guò)程中可自動(dòng)記錄聲束位置信息、自動(dòng)采集和記錄數(shù)據(jù)的

81、檢測(cè)方式。在自動(dòng)檢測(cè)中，檢測(cè)結(jié)果受人因素影響較小。</p><p>　　若滿(mǎn)足以下任何一個(gè)條件，可稱(chēng)為自動(dòng)檢測(cè)：</p><p>　?。?）采用自動(dòng)掃查裝置。探頭固定于機(jī)械掃查裝置上，掃查裝置或工件按照設(shè)定的方式運(yùn)動(dòng)，從而完成超聲檢測(cè)全過(guò)程。如鋼管制造企業(yè)采用的無(wú)縫鋼管自動(dòng)超聲檢測(cè)，煉鋼廠(chǎng)采用的板材自動(dòng)超聲檢測(cè)等。</p><p>　?。?）自動(dòng)記錄聲束位置信息、自

82、動(dòng)采集和記錄數(shù)據(jù)。為跟蹤和記錄探頭位置，自動(dòng)超聲設(shè)備必須配備位置傳感器，一般采用編碼器或聲定位技術(shù)，但相控陣方法是個(gè)例外，因?yàn)橄嗫仃嚳梢圆捎秒娮訏呙枰蕴娲鷻C(jī)械掃描。在掃查過(guò)程中，自動(dòng)超聲設(shè)備應(yīng)能夠自動(dòng)采集超聲信號(hào)以及相對(duì)應(yīng)的位置信息，并以不可更改的方式記錄下來(lái)。一般也使用掃查裝置，按照驅(qū)動(dòng)掃查裝置的動(dòng)力而言，可分為馬達(dá)驅(qū)動(dòng)和人驅(qū)動(dòng)。若采用馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，稱(chēng)為全自動(dòng)；若采用人驅(qū)動(dòng)，則稱(chēng)為半自動(dòng)。全自動(dòng)和半自動(dòng)均簡(jiǎn)稱(chēng)為自動(dòng)檢測(cè)。</p>

83、;<p>　　超聲成像技術(shù)涉及二維或三維成像，成像算法中需要超聲信號(hào)以及相對(duì)應(yīng)的位置信息，因此都屬于自動(dòng)超聲檢測(cè)。</p><p>　　自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)是超聲檢測(cè)技術(shù)的重要應(yīng)用和發(fā)展方向，在歐美國(guó)家的鍋爐壓力容器制造中，出現(xiàn)逐漸替代射線(xiàn)檢測(cè)的現(xiàn)象和趨勢(shì)。</p><p>　　第三章 脈沖反射法超聲檢測(cè)技術(shù)</p><p>　　脈沖反射法超聲檢測(cè)在檢測(cè)條件

84、、耦合與補(bǔ)償、儀器的調(diào)節(jié)、缺陷的定位、定量、定性等方面都有一些通用的技術(shù)，掌握這些通用技術(shù)對(duì)于發(fā)現(xiàn)缺陷并正確評(píng)價(jià)是很重要的。</p><p>　　脈沖反射法超聲檢測(cè)的基本步驟是：檢測(cè)前的準(zhǔn)備，儀器、探頭、試塊的選擇，儀器調(diào)節(jié)與檢測(cè)靈敏度確定，耦合補(bǔ)償，掃查方式，缺陷的測(cè)定、記錄和等級(jí)評(píng)定，儀器和探頭系統(tǒng)復(fù)核等。</p><p><b>　　檢測(cè)面的選擇和準(zhǔn)備</b>&

85、lt;/p><p>　　1.檢測(cè)面的選擇原則 ：</p><p>　　當(dāng)一個(gè)確定的工件存在多個(gè)可能的聲入射面時(shí)，首先要考慮缺陷的最大可能取向。根據(jù)缺陷的可能取向，選擇入射超聲波的方向，使聲束軸線(xiàn)與缺陷的主反射面接近垂直。</p><p>　　檢測(cè)面的選擇應(yīng)該與檢測(cè)技術(shù)的選擇相結(jié)合:</p><p>　?。?） 鍛件：縱波垂直入射檢測(cè)，檢測(cè)面選與鍛

86、件流線(xiàn)相 平行的表面； </p><p>　　（2）棒材：入射面為圓周面，縱波檢測(cè)位于棒材中心區(qū)的、延伸方向與棒材軸向平行的缺陷；橫波檢測(cè)位于表面附近垂直于表面的裂紋，或沿圓周延伸的缺陷。 </p><p>　　需要從多個(gè)檢測(cè)面入射檢測(cè)：</p><p>　　（1） 變形過(guò)程使缺陷有多種取向時(shí)；</p><p>　?。?）單面檢測(cè)存在盲區(qū)，而

87、另一面檢測(cè)可以彌補(bǔ)時(shí)；</p><p>　?。?）單面檢測(cè)靈敏度不能在整個(gè)工件厚度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)時(shí)。</p><p>　　2. 檢測(cè)面的準(zhǔn)備 </p><p>　　保證檢測(cè)面能提供良好的聲耦合。去除松動(dòng)的氧化皮、毛刺、油污、切削或磨削顆粒等。如果個(gè)別部位不可能清除，應(yīng)作出標(biāo)記并留下記錄，供質(zhì)量評(píng)定時(shí)參考。 </p><p><b>　　

88、儀器與探頭的選擇</b></p><p>　　正確選擇儀器和探頭對(duì)于有效的發(fā)現(xiàn)缺陷，并對(duì)缺陷定位、定量和定性是至關(guān)重要的。實(shí)際檢測(cè)中要根據(jù)工件結(jié)構(gòu)形狀、加工工藝和技術(shù)要求來(lái)選擇儀器與探頭。</p><p><b>　　檢測(cè)儀器的選擇</b></p><p>　　目前國(guó)內(nèi)外檢測(cè)儀器種類(lèi)繁多，性能各異，檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)檢測(cè)要求和現(xiàn)場(chǎng)條件來(lái)選

89、擇檢測(cè)儀器。一般根據(jù)以下情況來(lái)選擇儀器：</p><p>　　對(duì)于定位要求高的情況，應(yīng)選擇水平線(xiàn)性誤差小的儀器。</p><p>　　對(duì)于定量要求高的情況，應(yīng)選擇垂直線(xiàn)性好，衰減器精度高的儀器。</p><p>　　對(duì)于大型零件的檢測(cè)，應(yīng)選擇靈敏度余量高、信噪比高、功率大的儀器。</p><p>　　為了有效的發(fā)現(xiàn)近表面缺陷和區(qū)分相鄰缺陷，應(yīng)

90、選擇盲區(qū)小、分辨力好的儀器。</p><p>　　對(duì)于室外現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，應(yīng)選擇重量輕、熒光屏亮度好、抗干擾能力強(qiáng)的攜帶式儀器。</p><p>　　此外要求選擇性能穩(wěn)定、重復(fù)性好和可靠性好的儀器。</p><p><b>　　探頭的選擇</b></p><p>　　超聲檢測(cè)中，超聲波的發(fā)射和接收都是通過(guò)探頭來(lái)實(shí)現(xiàn)的。探頭的種

91、類(lèi)很多，結(jié)構(gòu)形式也不一樣。檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象的形狀、聲學(xué)特點(diǎn)和技術(shù)要求來(lái)選擇探頭。探頭的選擇包括探頭的型式、頻率、帶寬、晶片尺寸和橫波斜探頭K值的選擇等。</p><p><b>　　探頭型式的選擇</b></p><p>　　一般根據(jù)工件形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來(lái)選擇，使聲束軸線(xiàn)盡量與缺陷垂直。</p><p>　　縱波直探頭：

92、波束軸線(xiàn)垂直于探測(cè)面。主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行或近似平行的缺陷。</p><p>　　橫波斜探頭：通過(guò)波型轉(zhuǎn)換來(lái)實(shí)現(xiàn)橫波檢測(cè)。主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷。</p><p>　　縱波斜探頭：利用小角度的縱波進(jìn)行檢測(cè)，或在橫波衰減過(guò)大的情況下，利用縱波穿透能力強(qiáng)的特點(diǎn)進(jìn)行斜入射縱波檢測(cè)。</p><p>　　雙晶探頭：探測(cè)薄壁工件或近表面缺陷。</

93、p><p>　　聚焦探頭：用于水浸探測(cè)管材或板材。</p><p><b>　　2. 探頭頻率</b></p><p>　　超聲波檢測(cè)頻率范圍為0.5～10MHz，選擇頻率時(shí)應(yīng)考慮的因素：</p><p>　　檢測(cè)靈敏度：檢測(cè)靈敏度約為1/2λ，頻率高可提高檢測(cè)靈敏度。</p><p>　　分辨力：頻

94、率高，脈沖寬度小，分辨力高。</p><p>　?。?）聲束指向性： ，頻率高，半擴(kuò)散角小，聲束指向性好，能量</p><p>　　集中，檢測(cè)靈敏度高，相對(duì)的檢測(cè)區(qū)域小。</p><p>　　（4）近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度： ，頻率高，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加。</p><p>　?。?）衰減：αs=C2

95、Fd 3f 4，頻率高，衰減增加，信噪比下降。</p><p>　　缺陷反射指向性：面積狀缺陷，頻率太高會(huì)形成顯著的反射指向性。</p><p>　　頻率的高低對(duì)檢測(cè)有較大影響，實(shí)際檢測(cè)中要全面分析考慮各方面的因素，合理選擇頻率以取得最佳平衡。</p><p>　　對(duì)于小缺陷、厚度不大的工件，晶粒較細(xì)的鍛件、軋制件和焊接件，一般選擇較高頻率（2.5~10MHz）；對(duì)

96、于大厚度工件、高衰減材料選擇較低頻率（0.5~2.5MHz）。</p><p><b>　　3. 探頭帶寬</b></p><p>　　寬帶探頭：脈沖寬度較小，深度分辨率好，盲區(qū)小，靈敏度較低；</p><p>　　窄帶探頭：脈沖較寬，深度分辨率變差，盲區(qū)大，靈敏度較高，穿透能力強(qiáng)。</p><p>　　4. 探頭晶

97、片尺寸</p><p>　　晶片面積≤500mm2，圓晶片≤φ25mm。</p><p>　　晶片大小影響：聲束指向性、近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度、近距離掃查范圍、遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力。</p><p>　　選擇晶片尺寸時(shí)應(yīng)考慮的因素：</p><p>　?。?）聲束指向性； ；晶片尺寸越大，半擴(kuò)散角將越小，波束指向性將<

98、;/p><p>　　越好，超聲波能量就會(huì)越集中，這對(duì)聲束軸線(xiàn)附近的缺陷檢出十分有利。</p><p>　?。?）近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度； ；隨著晶片尺寸的增大，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度也將迅速增大，這對(duì)檢測(cè)不利。</p><p>　?。?）掃查范圍；晶片尺寸越大，輻射的超聲波能量就越大，探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍也將變大，而遠(yuǎn)距離掃查范圍相對(duì)就會(huì)變小，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷的能力就會(huì)增強(qiáng)。&

99、lt;/p><p>　　大晶片探頭:提高檢測(cè)效率，檢測(cè)厚工件時(shí)有效發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的缺陷；</p><p>　　小晶片探頭:檢測(cè)小工件時(shí)提高缺陷定位、定量精度，檢測(cè)表面不太平整或曲率較大工件時(shí)減少耦合損失。</p><p>　　5. 橫波斜探頭K值：</p><p>　　橫波檢測(cè)中，斜探頭K值影響缺陷檢出率、檢測(cè)靈敏度、聲束軸線(xiàn)方向，一次波的聲程。&

100、lt;/p><p>　　實(shí)際檢測(cè)中，工件厚度較小時(shí)，應(yīng)選用較大K值，工件厚度較大時(shí)，應(yīng)選用較小K值。</p><p>　　焊縫檢測(cè)中，K值的選擇應(yīng)考慮可能產(chǎn)生的與檢測(cè)面的角度，并保證主聲束能掃查整個(gè)焊縫截面。檢測(cè)根部未焊透應(yīng)考慮端角反射率問(wèn)題.</p><p>　　有機(jī)玻璃/鋼界面上的聲壓往復(fù)透射率</p><p>　　3.3 耦合劑的選用&

101、lt;/p><p>　　3.3.1 耦合劑</p><p>　　超聲耦合：超聲波在檢測(cè)面上的聲強(qiáng)透射率。</p><p>　　耦合劑作用：排除探頭與工件表面之間的空氣，使超聲波有效的傳入工件，達(dá)到檢測(cè)的目的。</p><p>　　3.3.2 影響聲耦合的主要因素</p><p>　　1. 耦合層厚度：厚度為λ/4的

102、奇數(shù)倍時(shí)，透聲效果差；為λ/2的整數(shù)倍或很薄時(shí)，透聲效果好。</p><p>　　2. 工件表面粗糙度：對(duì)聲耦合有明顯的影響，要求工件檢測(cè)面Ra≤6.3μm。</p><p>　　3. 耦合劑聲阻抗：對(duì)耦合效果有較大的影響。</p><p>　　4. 工件表面形狀：平面耦合效果最好，凸曲面次之，凹曲面最差。曲率半徑大，耦合效果好。</p><p&

103、gt;　　耦合層厚度d對(duì)耦合的影響</p><p>　　表面粗糙度對(duì)耦合的影響</p><p>　　3.4 縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)</p><p>　　3.4.1 檢測(cè)設(shè)備的調(diào)整</p><p>　　調(diào)整內(nèi)容：a.儀器的掃描速度調(diào)整；b.檢測(cè)靈敏度調(diào)整。</p><p>　　調(diào)整目的：保證在確定的檢測(cè)范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定

104、尺寸的缺陷，并確定缺陷的位置和大小。</p><p>　　1. 時(shí)基線(xiàn)的調(diào)整</p><p><b>　　調(diào)整目的：</b></p><p>　?。?）使時(shí)基線(xiàn)顯示的范圍足以包含需檢測(cè)的深度范圍</p><p>　　（2） 使時(shí)基線(xiàn)刻度與在材料中聲傳播的距離成一定比例，以便準(zhǔn)確測(cè)定缺陷的深度位置。</p>

105、<p><b>　　調(diào)整內(nèi)容：</b></p><p>　?。?）根據(jù)所需掃描聲程范圍確定時(shí)基掃描線(xiàn)比例；</p><p>　?。?）零位調(diào)節(jié)，將聲程零位設(shè)置在選定的水平刻度線(xiàn)上。</p><p><b>　　調(diào)整方法：</b></p><p>　　根據(jù)檢測(cè)范圍，利用已知尺寸的試塊或工件

106、上的兩次不同反射波， 通過(guò)調(diào)節(jié)儀器的掃描范圍和延遲旋鈕，使兩個(gè)信號(hào)的前沿分別位相應(yīng)的水平刻度處。</p><p>　　注意：調(diào)節(jié)掃描速度用的試塊應(yīng)與被檢工件具有相同的聲速。</p><p>　　2. 檢測(cè)靈敏度的調(diào)整</p><p>　　檢測(cè)靈敏度：在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定。</p><p&

107、gt;　　調(diào)整目的：發(fā)現(xiàn)工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷定量。</p><p>　　調(diào)節(jié)方法：試塊調(diào)整法和工件底波調(diào)整法。</p><p>　?。?）試塊調(diào)整法：根據(jù)工件的厚度和對(duì)靈敏度的要求選擇相應(yīng)的試塊。將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上的人工反射體，調(diào)整儀器，使示波屏上人工反射體的最高反射回波達(dá)到基準(zhǔn)高度。</p><p><b>　　注意問(wèn)題：</b>&l

108、t;/p><p>　　a.工件厚度x<3N或不能獲得底波情況時(shí)，較為適宜。</p><p>　　b.試塊表面狀態(tài)和材質(zhì)衰減是否與被檢工件相近，應(yīng)考慮兩者的差異引起的反射波高差異值，并對(duì)靈敏度進(jìn)行補(bǔ)償。</p><p>　　（2）試塊計(jì)算法：對(duì)于厚度x≥3N的工件，可選用一塊材質(zhì)與工件相同（衰減系數(shù)相同）的平底孔試塊（孔埋深xj≥3N）來(lái)調(diào)節(jié)不同工件的檢測(cè)靈敏度。調(diào)

109、節(jié)時(shí)要計(jì)算試塊基準(zhǔn)平底孔與檢測(cè)靈敏度所要求埋深與孔徑的平底孔的回波聲壓分貝差。</p><p>　　不同直徑不同埋深的平底孔翻身回波的聲壓分貝差為：</p><p>　　Pf —— 檢測(cè)靈敏度所要求的平底孔的回波聲壓；</p><p>　　Pj —— 試塊基準(zhǔn)平底孔的回波聲壓；</p><p>　　df —— 檢測(cè)靈敏度所要求的平

110、底孔的孔徑；</p><p>　　dj —— 試塊基準(zhǔn)平底孔的孔徑。</p><p>　　ΔdB為檢測(cè)靈敏度的調(diào)節(jié)量，計(jì)算值為負(fù)值時(shí)需要提高儀器增益，計(jì)算值為正值時(shí)需要降低儀器增益。</p><p>　　考慮試塊與受檢工件表面狀態(tài)的差異，應(yīng)需要預(yù)先測(cè)定傳輸修正值，并在調(diào)節(jié)增益時(shí)進(jìn)行補(bǔ)償。</p><p>　　如果基準(zhǔn)平底孔與檢測(cè)靈敏度要求

111、的平底孔埋深相差較大，在計(jì)算調(diào)節(jié)量時(shí)還應(yīng)考慮材質(zhì)衰減的影響，試塊計(jì)算法要求試塊衰減系數(shù)與工件相同，因此采用下式計(jì)算總的增益調(diào)節(jié)量：</p><p>　　α—— 被檢材料和試塊的衰減系數(shù)。</p><p>　　(3) 工件底波調(diào)整法：根據(jù)工件底面回波與同深度的人工缺陷（如平底孔）回波分貝差ΔdB為定值的原理進(jìn)行的。 </p><p>　　ΔdB理論計(jì)算公式：（x

112、≥3N）</p><p>　　式中：x ── 工件厚度，mm ；</p><p>　　Df ── 要求探出的最小平底孔尺寸，mm。</p><p>　　注意問(wèn)題：只能用于厚度x≥3N的工件，要求工件具有平行底面或圓柱底面，且底面光潔干凈。</p><p>　　3. 傳輸修正值的測(cè)定</p><p>　　在利用試塊調(diào)節(jié)