相對(duì)論驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)的本底研究

1、相對(duì)論驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)中神秘的峰,0519028 B24,在進(jìn)行相對(duì)論驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)，B—粒子的峰旁邊還有一個(gè)峰。,拿下放射源之后進(jìn)行本底掃描，這個(gè)峰還是存在的。,這個(gè)峰是怎么產(chǎn)生的呢 ?,,,,,掃描得到的峰道址恒為ch=26,峰的能量為定值,標(biāo)志X譜線 說(shuō)你呢 就是你,驗(yàn)證,通過(guò)定標(biāo)曲線計(jì)算得到E=26*0.036-0.93=0.006Mev但是誤差>0.006所以這個(gè)方法……,,不同探頭位置與B-粒子記數(shù)用O

2、RIGIN擬合得到直線N1=-540x+19000(掃描時(shí)間:1000s),有源時(shí)探頭位置與A峰記數(shù)ORIGIN擬合得到直線 N2=-277x+9656 (掃描時(shí)間:1000s),設(shè)KN2=N1K（-277x+9656）=-540x+18375,,則得到兩個(gè)K值1.95和1.90N2,N1成正比 X射線的強(qiáng)度是與入射電子的強(qiáng)度成正比的又由于峰值的能量不變,所以峰就是標(biāo)志X譜線,探測(cè)器結(jié)構(gòu),陶瓷外殼，鐵層， Pb防護(hù)層以及內(nèi)核

3、。　內(nèi)核中含有NaI,微量的TI元素。,,,,考慮到Tl含量的稀少，其形成的譜線強(qiáng)度有限，我們排除了元素Tl。 作為NaI閃爍體的組成元素I，其發(fā)射的光子在光電倍增管的馳豫時(shí)間內(nèi)被一并輸出，含在了入射電子的單能峰里面。 而Fe殼在Pb防護(hù)層的外側(cè)，經(jīng)過(guò)Pb的兩次屏蔽Fe的特征射線不可能這這么強(qiáng)。 因此，特征X射線的小峰，只能是散射或透射的電子打在探頭周圍的 Pb防護(hù)層所發(fā)出的 。,,終于確認(rèn)你啦! Pb的標(biāo)志x譜線