光無源器件

1、光無源器件百科名片百科名片光無源器件光無源器件是光纖通信設(shè)備的重要組成部分，也是其它光纖應(yīng)用領(lǐng)域不可缺少的元器件。具有高回波損耗、低插入損耗、高可靠性、穩(wěn)定性、機(jī)械耐磨性和抗腐蝕性、易于操作等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于長距離通信、區(qū)域網(wǎng)絡(luò)及光纖到戶、視頻傳輸、光纖感測等等。目錄目錄光無源器件的品種光無源器件的測試方法?光無源器件的測試結(jié)論光源選擇?功率計(jì)選擇?偏振控制器選擇?測試系統(tǒng)的選擇?本文結(jié)論原理及應(yīng)用簡介?光纖活動連接器連接器插頭?跳線?

2、轉(zhuǎn)換器?變換器?光纖活動連接器的表征指標(biāo)插入損耗?回波損耗?重復(fù)性?互換性活動連接器的使用?光分路器光分路器的分光原理然而問題還沒有解決，PDL是可以了，但回波損耗測試卻受到影響。我們知道，測試DUT回波損耗需要先測出測試系統(tǒng)本身的回光功率，然后測出系統(tǒng)與DUT共同的回光功率，相減得出DUT回光功率。從數(shù)學(xué)上容易理解，系統(tǒng)回光功率相對越小，DUT回?fù)p值的精確度、可靠性以及動態(tài)范圍就會越好，反之則越差。在第二種系統(tǒng)中，系統(tǒng)回光功率包含了偏

3、振控制器回光功率，所以比較大，進(jìn)而限制了DUT回?fù)p測試的可靠性和動態(tài)范圍。但一般而言，只要不是測試60dB以外的回?fù)p值，這種配置的問題還不大，因此它在回?fù)p要求不高的場合是一種還算過得去的測試方法。除了上述兩種測試方案以外，還有一種基于Mueller矩陣法的測試系統(tǒng)(圖3)。這種測試系統(tǒng)采用基于摻鉺光纖環(huán)的可調(diào)諧激光器(EDFTLS)而并非普通外腔式激光器，這點(diǎn)很重要，后文還有論述，此外它還加上Mueller矩陣分析法專用的偏振控制器、回

4、損儀和光功率計(jì)。由于采用Mueller矩陣法測試PDL時要求測試光有穩(wěn)定的偏振狀態(tài)，所以可調(diào)諧光源與偏振控制器之間以及偏振控制器與回?fù)p儀之間要用硬跳線連接，這樣可以排除光纖擺動對測試的影響。用Mueller矩陣法測試PDL需要做參考，所以在一定程度上可以排除測試鏈路對PDL測試的影響，因此這個系統(tǒng)可以得到較高的PDL測試精度以及回?fù)p與插損精度，測試的可靠性和可操作性都很好。在該系統(tǒng)中每個測試單元不是獨(dú)立地工作，它們必須整合為一體，可調(diào)諧

5、光源不停掃描，功率計(jì)不停采集數(shù)據(jù)，測試主機(jī)分析采集所得數(shù)據(jù)，最后得出IL、PDL和L隨波長變化的曲線。這種方法目前主要用在像DWDM器件等多通道器件測試上，是目前非常先進(jìn)的測試方法。上述三種測試方法中，筆者認(rèn)為除了最后一種方法是測試DWDM多通道器件實(shí)現(xiàn)快速測試的最佳方案以外，其它兩種方法都不足取，原因是它們都一味強(qiáng)調(diào)方便，而忽略了精密測試的精確、可靠性及重復(fù)性的要求。這也是為什么很多器件廠家測試同樣的產(chǎn)品，今天測和明天測結(jié)果會大相徑庭

6、的原因。解決辦法參見圖4的耦合器測試裝配方式。利用圖4的配置可以一次得出器件的回?fù)p和方向性參數(shù)，以及器件PDL和平均IL。由于測試激光光源為偏振光源，這樣對于器件插損測試就有一個PDL值大小系統(tǒng)測試的不確定性，如果器件本身PDL較大會比較成問題，所以采用去偏振器進(jìn)行平均損耗測試。這種測試方法的優(yōu)點(diǎn)是測試穩(wěn)定準(zhǔn)確，基本排除了理論或系統(tǒng)誤差，甚至抑制了隨機(jī)誤差，如插損采用無源去偏振器測試，缺點(diǎn)是需要搭建三個工位。EXFO公司資深專家、國際電

7、聯(lián)PMD組主席reGirard有一句口頭禪，叫做Nothingperfect！器件測試也是這樣，是想要測試方便，但測試可靠性、重復(fù)性下降，還是想要測試可靠性與精度較高，但測試相對麻煩呢？一切都在個人取舍之間。上面是從測試工位的搭建即測試工位的拓?fù)潢P(guān)系來討論器件最佳測試，其實(shí)測試工藝中測試設(shè)備的選型占有更重要的位置。編輯本段光無源器件的測試結(jié)論下面分別論述測試光源、功率計(jì)、偏振控制器以及測試系統(tǒng)對測試精確性、可靠性和重復(fù)性的影響。光源選擇