微束微區(qū)X射線熒光探針儀在大氣降塵顆粒物測量和評價中的應用研究.pdf

1、大氣降塵顆粒物的成分是環(huán)境監(jiān)測的重要對象，大氣顆粒物的危害程度與自身有害組分的含量、顆粒微形貌、粒度大小及所吸附的有害物質等物理特性密切相關。此外，大氣顆粒物除本身是有害物質外，還是其他污染物的運載體和反應床，因此研究大氣單一顆粒物的物理性質和化學成分，對防治重金屬污染，保障人體健康，研究城市大氣污染具有重要意義。
　　 觀察微小顆粒以及測量微小區(qū)域內的元素含量，常規(guī)的統(tǒng)計分析方法已不能滿足要求。目前，國內外對大氣單顆粒的研究主

2、要通過SEM 一EDX和微探針技術相結合的方法對顆粒物的物理、化學特征與組分、形態(tài)分布特征及其和周圍環(huán)境的關系進行分析，但對各元素定量分析、尤其是對其中的重金屬元素的定量分析很少見。
　　 本論文來源于“863計劃”“海底原位X 射線探針分析系統(tǒng)研制”（2006AA09ZZ19）和“中國地質調查局項目”（1212010706501），將微束微區(qū)X射線熒光探針儀，用于大氣顆粒物的微區(qū)分析，該儀器X 射線亮度高、準直性高，使得儀器靈

3、敏度大大提高。儀器中X 光管產生的熒光焦斑直徑可達34 m μ左右，能夠精確提供樣品微區(qū)內顆粒外貌的信息，對樣品內多元素進行定量分析。
　　 本論文旨在解決大氣單顆粒中多元素含量的定量分析問題，為環(huán)境監(jiān)測引進一種新測量工具，同時還為野外微分析儀的研制提供參考數據。
　　 論文中實驗采用我院自行研制的IED-6000 微束微區(qū)X 射線熒光探針儀。在對熒光強度理論、基本參數法理論和各個基本參數的擬合公式進行研究的基礎上，應用

4、已開發(fā)的微束微區(qū)X 射線熒光探針儀的基本參數法定量分析程序，自主配置基準樣品，通過一次熒光強度、二次熒光強度、相對熒光強度、標樣元素熒光強度和各種所需基本參數的理論計算，對儀器定量分析程序進行標定，實現了對環(huán)境樣品中單顆粒所含的元素進行定量分析。
　　 本文主要針對成都理工大學校園內及附近路口大氣單顆粒的無機成分、來源和分布進行了初步研究。一方面從理論的角度，根據普遍適用的源解析模型對大氣中可吸入顆粒物進行了源解析，首先把著眼點

5、由排放源轉到了受污染源影響的某一局部大氣環(huán)境，即受體。通過分析采集的顆粒物樣品推斷顆粒物的來源，然后通過對大氣顆粒物環(huán)境監(jiān)測和顯微分析確定各類污染源對受體貢獻值；另一方面從實驗角度，探索采集和分析大氣中顆粒物的新方法，采用手工方法采集大氣降塵樣品，并將采集到的樣品放到玻璃片上，壓平后，不經過任何化學處理，由儀器定量測量樣品顆粒所含主要元素的含量。最后用相關軟件分析數據，繪制了成都理工大學校園內及附近路口顆粒中所含元素的相對強度分布圖，揭