如何進(jìn)行一次高質(zhì)量光纖接續(xù)過程：熔接與涂覆

1、如何進(jìn)行一次高質(zhì)量光纖接續(xù)過程：熔接與涂覆一、高質(zhì)量光纖接高質(zhì)量光纖接續(xù)工藝之熔接續(xù)工藝之熔接光纖熔接主要分為四個(gè)步驟：剝、切、熔、護(hù)。所謂的剝：是指將光纜中的光纖芯剝離出來，這其中包括了最外層的塑料層，中間的鋼絲，內(nèi)層中的塑料層及光纖表面的顏色油漆層。所謂的切：是指將剝好準(zhǔn)備熔接的光纖的端面用“切割機(jī)”切齊。所謂的熔：是指將兩根光纖在“熔接機(jī)”中熔接到一起。所謂的護(hù)：是指將已經(jīng)熔接好的光纖接頭部份用“熱縮管”保護(hù)起來。下面將詳細(xì)介紹各

2、個(gè)步驟地操作。一、端面的制備。光纖端面的制備包括剝覆、清潔和切割這幾個(gè)環(huán)節(jié)。合格的光纖端面是熔接的必要條件，端面質(zhì)量直接影響到熔接質(zhì)量。1.1光纖涂面層的剝除熟練掌握平、穩(wěn)、快三字剝纖法?！捌健保闯掷w要平。左手拇指和食指捏緊光纖，使之成水平狀，所露長度以5cm為它，余纖在無名指、小拇指之間自然打彎，以增加力度，防止打滑。“穩(wěn)”，即剝纖鉗要握得穩(wěn)?！翱臁?，即剝纖要快，剝纖鉗應(yīng)與光纖垂直，上方向內(nèi)傾斜一定角度，然后用鉗口輕輕卡住光纖，右手

3、隨之用力，順光纖軸向平推出去，整個(gè)過程要自兩根光纖的材料、型號(hào)是否匹配，切刀和熔接機(jī)是否被灰塵污染，并檢查電極氧化狀況，若均無問題，則應(yīng)適當(dāng)提高熔接電流。三、盤纖。盤纖是一門技術(shù)，也是一門藝術(shù)?？茖W(xué)的盤纖方法，可使光纖布局合理、附加損耗小、經(jīng)得住時(shí)間和惡劣環(huán)境的考驗(yàn)，可避免擠壓造成的斷纖現(xiàn)象。3.1盤纖規(guī)則（1）沿松套管或光纜分枝方向?yàn)閱挝贿M(jìn)行盤纖，前者適用于所有的接續(xù)工程；后者僅適用于主干光纜末端，且為一進(jìn)多出。分支多為小對(duì)數(shù)光纜。該

4、規(guī)則是每熔接和熱縮完一個(gè)或幾個(gè)松套管內(nèi)的光纖、或一個(gè)分技方向光纜內(nèi)的光纖后，盤纖一次。優(yōu)點(diǎn)：避免了光纖松套管間或不同分枝光纜間光纖的混亂，使之布局合理，易盤、易拆，更便于日后維護(hù)。（2）以預(yù)留盤中熱縮管安放單元為單位盤纖，此規(guī)則是根據(jù)接續(xù)盒內(nèi)預(yù)留盤中某一小段光纖連接LE型桶式接頭盒，在實(shí)際操作中每6芯為一盤，極為方便。優(yōu)點(diǎn)：避免了由于安放位置不同而造成的同一束光纖參差不齊、難以盤纖和固定，甚至出現(xiàn)急彎、小圈等現(xiàn)象。（3）特殊情況，如在接

5、續(xù)中出現(xiàn)光分路器、上／下路尾纖、尾纜等特殊器件時(shí)，要先熔接、熱縮、盤繞普通光纖，再依次處理上述情況，為安全常另盤操作，以防止擠壓引起附加損耗的增加。3.2盤纖的方法（1）先中間后兩邊，即先將熱縮后的套管逐個(gè)放置于固定槽中，然后再處理兩側(cè)余纖。優(yōu)點(diǎn)：有利于保護(hù)光纖接點(diǎn)，避免盤纖可能造成的損害。在光纖預(yù)留盤空間小，光纖不易盤繞和固定時(shí)，常用此種方法。（2）以一端開始盤纖，即從一側(cè)的光纖盤起，固定熱縮管，然后再處理另一側(cè)余纖。優(yōu)點(diǎn)：可根據(jù)一側(cè)

6、余纖長度靈活選擇效銅管安放位置，方便、快捷，可避免出現(xiàn)急彎、小圈現(xiàn)象。（3）特殊情況的處理，如個(gè)別光纖過長或過短時(shí)，可將其放在最后單獨(dú)盤繞；帶有特殊光器件時(shí)，可將其另盤處理，若與普通光纖共盤時(shí)，應(yīng)將其輕置于普通光纖之上，兩者之間加緩沖襯墊，以防擠壓造成斷纖，且特殊光器件尾纖不可太長。（4）根據(jù)實(shí)際情況，采用多種圖形盤纖。按余纖的長度和預(yù)留盤空間大小，順勢自然盤繞，切勿生拉硬拽，應(yīng)靈活地采用圓、橢圓、“CC”、“～”多種圖形盤纖（注意R≥

7、4cm），盡可能最大限度利用預(yù)留盤空間和有效降低因盤纖帶來的附加損耗。四、光纜接續(xù)質(zhì)量的確保加強(qiáng)OTDR的監(jiān)測，對(duì)確保光纖的熔接質(zhì)量，減少因盤纖帶來的附加損耗和封盒可能對(duì)光纖造成的損害，具有十分重要的意義。在整個(gè)接續(xù)工作中，必須嚴(yán)格執(zhí)行OTDR四道監(jiān)測程序：（1）熔接過程中對(duì)每一芯光纖進(jìn)行實(shí)時(shí)跟蹤監(jiān)測，檢查每一個(gè)熔接點(diǎn)的質(zhì)量；（2）每次盤纖后，對(duì)所盤光纖進(jìn)行例檢以確定盤纖帶來的附加損耗；（3）封接續(xù)盒前，對(duì)所有光纖進(jìn)行統(tǒng)測，以查明有無漏