增廣最小二乘限定記憶參數(shù)估計(jì)算法與仿真研究及基于CAN總線的汽車電子產(chǎn)品檢測(cè)平臺(tái)設(shè)計(jì).pdf

1、最小二乘辨識(shí)是一種經(jīng)典的參數(shù)估計(jì)方法，成為估計(jì)理論的奠基石。由于最小二乘法簡(jiǎn)單、實(shí)用，遞推算法收斂可靠，從而得到廣泛應(yīng)用。但當(dāng)模型噪聲是有色噪聲時(shí)，最小二乘參數(shù)估計(jì)不是無偏估計(jì)，且隨著數(shù)據(jù)的增長(zhǎng)，最小二乘遞推辨識(shí)算法將出現(xiàn)數(shù)據(jù)飽和現(xiàn)象，以致遞推算法慢慢失去修正的能力。本部分在增廣最小二乘遞推算法(RELS)的基礎(chǔ)上引入限定記憶方式，獲得了增廣最小二乘限定記憶參數(shù)估計(jì)遞推算法(RFMELS)，解決了最小二乘算法在有色噪聲下不是無偏估計(jì)和數(shù)

2、據(jù)飽和問題，提高了系統(tǒng)辨識(shí)的有效性和快速性。在MATLAB環(huán)境下仿真，并將仿真結(jié)果與增廣最小二乘算法進(jìn)行了比較，其結(jié)果表明了RFMELS算法的優(yōu)越性。 基于CAN總線的汽車電子產(chǎn)品檢測(cè)平臺(tái)設(shè)計(jì) 汽車電子技術(shù)的發(fā)展對(duì)汽車電子產(chǎn)品質(zhì)量的要求越來越高，而電路板的故障檢測(cè)是汽車電子生產(chǎn)的重要環(huán)節(jié)。采用傳統(tǒng)的檢測(cè)硬件電路是否正確的方法已無法探明該類電路板的功能是否正常。本部分設(shè)計(jì)了一種基于CAN總線的汽車電子產(chǎn)品電路板的故障自動(dòng)檢