某SCB點(diǎn)火具貯存性能及失效機(jī)理研究.pdf

1、火工品在使用前通常會(huì)有很長(zhǎng)的貯存期，在貯存的過(guò)程中其可靠性和安全性有可能會(huì)產(chǎn)生變化。SCB火工品作為一種新技術(shù)火工品已在國(guó)內(nèi)外得到應(yīng)用，對(duì)其長(zhǎng)期貯存過(guò)程中性能變化及失效機(jī)理開(kāi)展研究是非常必要的。本文通過(guò)加速壽命試驗(yàn)的方法，研究某SCB點(diǎn)火具的貯存性能和失效機(jī)理。通過(guò)外觀檢測(cè)和性能試驗(yàn)，得到了某SCB點(diǎn)火具的性能與貯存時(shí)間的關(guān)系，并且確定了其失效模式和失效機(jī)理，預(yù)估了某SCB點(diǎn)火具的貯存壽命。主要結(jié)論如下:
　　(1)該SCB點(diǎn)火具

2、密封性能良好，內(nèi)部藥劑在貯存過(guò)程中主要受溫度影響，僅外部封裝結(jié)構(gòu)會(huì)受到溫濕度雙應(yīng)力的影響;
　　(2)貯存對(duì)該SCB點(diǎn)火具電阻沒(méi)有出現(xiàn)顯著性影響，自加速壽命試驗(yàn)時(shí)間到21天開(kāi)始，少量SCB點(diǎn)火具腳線開(kāi)始出現(xiàn)腐蝕點(diǎn)，腐蝕點(diǎn)的出現(xiàn)未造成點(diǎn)火具斷路、短路、電阻超差，可通過(guò)提高工藝水平，進(jìn)一步減少腐蝕點(diǎn)出現(xiàn)的可能;
　　(3)貯存未對(duì)SCB芯片產(chǎn)生影響，在電容68μF、發(fā)火電壓23V條件下，均可靠發(fā)火，且SCB芯片的爆發(fā)時(shí)間具有很好

3、一致性;
　　(4)貯存造成該SCB點(diǎn)火具藥劑發(fā)火時(shí)間增大，自加速壽命試驗(yàn)時(shí)間到21天開(kāi)始，點(diǎn)火具藥劑發(fā)火時(shí)間出現(xiàn)顯著性變化，并呈現(xiàn)線性增大的趨勢(shì)，這說(shuō)明貯存對(duì)藥劑產(chǎn)生了影響。隨著加速壽命時(shí)間的增加，SCB點(diǎn)火具的50％電壓增大，SCB點(diǎn)火具變鈍感;
　　(5)貯存未對(duì)該SCB點(diǎn)火具在電磁環(huán)境下的安全性和可靠性產(chǎn)生影響，不同貯存時(shí)間的SCB點(diǎn)火具在靜電放電和1A1W5min中試驗(yàn)均未出現(xiàn)意外發(fā)火，且試驗(yàn)后仍能可靠發(fā)火。

4、>　　(6)通過(guò)外觀檢測(cè)和性能測(cè)試，最終確定該SCB點(diǎn)火具的失效模式為藥劑發(fā)火時(shí)間延遲，其貯存失效機(jī)理為火工藥劑貯存期間的藥劑的熱分解。通過(guò)DSC藥劑熱分析，對(duì)該點(diǎn)火具的裝藥進(jìn)行相容性分析，結(jié)果顯示該SCB點(diǎn)火具所用裝藥LTNR和亞鐵氰化鉛具有良好的化學(xué)相容性，能夠長(zhǎng)期貯存，但藥劑的熱分解一直緩慢存在，由于熱分解，有效藥量減少，最終導(dǎo)致點(diǎn)火具的藥劑發(fā)火時(shí)間隨著貯存時(shí)間的增加而增大;
　　(7)通過(guò)廣義艾林模型和趨勢(shì)線分析兩種方法分