渦輪葉片殘芯中子照相檢測(cè).pdf

1、中子照相是20世紀(jì)60年代興起的一種射線照相無損檢測(cè)技術(shù)。中子與常規(guī)X射線原理相類似，但在穿透物體時(shí)的吸收特性顯著不同，兩種照相技術(shù)在適用范圍上有一定的互補(bǔ)關(guān)系。針對(duì)X射線照相檢測(cè)渦輪葉片殘留型芯靈敏度不高、容易漏檢問題，論文開展了中子射線照相檢測(cè)渦輪葉片殘芯的研究。
　　目前國(guó)內(nèi)尚無有關(guān)中子照相相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的報(bào)道，對(duì)熱中子照相圖像質(zhì)量評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)ASTM E545進(jìn)行分了析。分析發(fā)現(xiàn)，熱中子圖像質(zhì)量評(píng)價(jià)所用的兩個(gè)基本指示器是束流純度指示

2、器和靈敏度指示器。熱中子圖像質(zhì)量劃分為5個(gè)等級(jí)，葉片殘芯中子檢測(cè)的圖像質(zhì)量控制至少要達(dá)到ASTM E545規(guī)定的NC-H-G-I級(jí)影像質(zhì)量。
　　論文使用蒙特卡洛方法（MCNP）模擬了熱中子照相檢測(cè)渦輪葉片殘芯過程。設(shè)計(jì)了一個(gè)測(cè)試渦輪葉片反差靈敏度的階梯試塊模型，MCNP模擬與實(shí)際熱中子照相的結(jié)果表明，兩者在對(duì)型芯的檢測(cè)能力上非常接近，MCNP方法可準(zhǔn)確預(yù)測(cè)檢測(cè)圖像，對(duì)于指導(dǎo)開展熱中子照相工作有很重要意義。
　　在陶瓷型芯中