14針與20針jtag接口介紹

1、JTAG接口定義JTAG（Joint Test Action Group ,聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組）是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議，主 要用于芯片內(nèi)部測(cè)試及對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行仿真、調(diào)試，JTAG技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù)，它在芯 片內(nèi)部封裝了專門的測(cè)試電路TAP （ Test Access Port，測(cè)試訪問(wèn)口），通過(guò)專用的J TAG測(cè)試工具對(duì)內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。目前大多數(shù)比較復(fù)雜的器件都支持JTAG協(xié)議，如ARM、DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的 JTAG接口是

2、4線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為測(cè)試模式選擇、測(cè)試時(shí)鐘、測(cè)試 數(shù)據(jù)輸入和測(cè)試數(shù)據(jù)輸出。JTAG測(cè)試允許多個(gè)器件通過(guò)JTAG接口串聯(lián)在一起，形成一個(gè)JTAG鏈，能實(shí)現(xiàn)對(duì)各個(gè)器 件分別測(cè)試。JTAG接口還常用于實(shí)現(xiàn)ISP （ In-System Programmable在系統(tǒng)編程）功 能，如對(duì)FLASH器件進(jìn)行編程等。通過(guò)JTAG接口，可對(duì)芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行訪問(wèn)，因而是開(kāi)發(fā)調(diào)試嵌入式系統(tǒng)的一 種簡(jiǎn)潔高效的手段。目前JTAG接

3、口的連接有兩種標(biāo)準(zhǔn)，即14針接口和20針接口，其定 義分別如下所示。14針JTAG接口定義：14針JTAG接口定義引腳名稱描述1、 13 VCC接電源2、 4、6、8、10、14 GND 接地3 nTRST 測(cè)試系統(tǒng)復(fù)位信號(hào)5 TDI 測(cè)試數(shù)據(jù)串行輸入7 TMS 測(cè)試模式選擇9 TCK 測(cè)試時(shí)鐘11 TDO 測(cè)試數(shù)據(jù)串行輸出12 NC 未連接20針JTAG接口定義引腳名稱描述VTref 目標(biāo)板參考電壓，接電源接電源 2 VCC3 nT