基于剪切散斑干涉的無損檢測系統(tǒng)設計與研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、剪切散斑干涉是一種直接測量物體表面位移的空間梯度的光學測量技術,其在電子散斑干涉的基礎上發(fā)展而來。不僅具有非接觸,全場測量,高靈敏度等優(yōu)點,和電子散斑干涉相比,還具備光路簡單,對剛體位移不靈敏,抗干擾能力強等優(yōu)點,在復合材料的無損檢領域得到了廣泛的應用。
  本文設計開發(fā)了一套剪切散斑干涉系統(tǒng),針對傳統(tǒng)的剪切裝置測量視場角較小問題,將4f系統(tǒng)嵌入剪切裝置中,有效的增大了測量視場角;開發(fā)的系統(tǒng)既能靜態(tài)測量,又能滿足工業(yè)中動態(tài)測量要求

2、。本文的具體研究內容如下:
  (1)詳細介紹了剪切散斑干涉測量原理,對多種剪切裝置進行分析對比。將4f系統(tǒng)嵌入到剪切裝置中來增大測量視場角,實現(xiàn)在單次測量視場1m×1m的情況下能檢測出較小的缺陷,同時能滿足動態(tài)測量需求。
  (2)研究了剪切散斑干涉圖像處理關鍵技術,針對相位解包圖中的相位表征的是離面位移的一階導數(shù),本文研究位移的反演算法。論文采用積分求和方法,編寫了算法軟件,獲得了離面位移量,并進行了實驗驗證。
 

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