基于激光錯位散斑干涉的無損檢測技術(shù)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、無損檢測技術(shù)在航空航天、機械、材料及先進制造中的產(chǎn)品部件的機械力學(xué)性能(變形、缺陷等)的監(jiān)測和設(shè)備在役檢查中發(fā)揮著重要作用。激光錯位散斑干涉技術(shù)(Shearography)因其具有全場、非接觸、高精度和高靈敏度的優(yōu)勢,從而成為無損檢測技術(shù)中一種常用的高效方法,目前基于激光錯位散斑干涉的無損檢測技術(shù)的基本測量理論與實現(xiàn)方法已得到較多研究,但是一些關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用潛力還有待于進一步分析研究。
  本文針對激光錯位散斑干涉技術(shù)中的相關(guān)關(guān)鍵

2、技術(shù)問題進行研究,具體的研究工作主要包括:
  (1)詳細介紹了激光錯位散斑干涉的無損檢測技術(shù)原理,并對其關(guān)鍵技術(shù)進行了理論分析與實驗研究。
  (2)對空間載波相移技術(shù)中關(guān)鍵參數(shù)的確定進行了理論分析以及實驗驗證。詳細討論了光路中光闌類型、光闌尺寸、CCD的空間分辨率、錯位量、錯位方向等參數(shù)與錯位散斑干涉技術(shù)應(yīng)用的關(guān)系,確定了它們的選取類型和取值范圍。
  (3)討論了使用大錯位量錯位散斑干涉測量和位移導(dǎo)數(shù)積分直接測量

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