基于電容傳感器的薄膜厚度測量系統(tǒng)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、薄膜厚度的均勻性是評價薄膜質(zhì)量的重要指標之一。隨著印刷、包裝、絕緣材料等行業(yè)對高品質(zhì)薄膜需求的增加,傳統(tǒng)的離線檢測方式已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)測試的需求,這就需要研制出一種能夠在線檢測薄膜厚度的系統(tǒng),可以在保證薄膜質(zhì)量的同時滿足產(chǎn)量的要求。本文正是基于上述原因?qū)Ρ∧ず穸葴y量系統(tǒng)進行研究。
  本文利用電容傳感器精度高、能量損耗小、無接觸磨損等特點,制作了符合薄膜厚度測量要求的傳感器探頭,并在此基礎上設計了電容傳感器信號檢測電路。在傳感器探

2、頭的設計中,采用保護環(huán)技術及驅(qū)動電纜技術來避免邊緣電場的影響和寄生電容的產(chǎn)生。在檢測電路的設計中,通過對多種常用方案的比較,選用了電容容抗測量方案,在方案的設計中采用了信號處理技術、數(shù)?;旌霞夹g、數(shù)據(jù)采集技術、單片機編程技術及數(shù)碼顯示技術。
  在系統(tǒng)搭建完成后,本文首先進行了系統(tǒng)標定,得出系統(tǒng)的測量精度,然后通過溫度漂移特性的測量,對系統(tǒng)進行了校正,最后給出系統(tǒng)的測量誤差,并對誤差產(chǎn)生的原因作了詳細的分析。
  通過對系統(tǒng)

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