光學綜合孔徑陣列的優(yōu)化研究.pdf

1、　　光學綜合孔徑成像技術是高分辨率光學成像技術方法之一，它實現(xiàn)并應用于天文觀測研究。光學綜合孔徑陣列的優(yōu)化在光學綜合孔徑成像技術中起著至關重要的作用。本文的主要工作就是對光學綜合孔徑陣列進行優(yōu)化。本文在綜述了國內(nèi)外光學綜合孔徑成像技術的發(fā)展基礎上，介紹了光學綜合孔徑干涉成像技術所用到的uv覆蓋、閉合相位和圖像重構三個關鍵技術及子孔徑排列的原理。重點對子孔徑陣列進行了詳細研究，提出了直線陣列的優(yōu)化方案，求出了子孔徑數(shù)目不大于9個的有缺失小

2、冗余的陣列和無缺失的陣列。為了對提出的孔徑陣列的優(yōu)化效果進行評價，本文采用了一種新的利用采樣頻譜圖分析的評價方法，著重對直線陣列的優(yōu)化結果進行了分析，以四個孔徑為例，對直線陣列的成像結果進行了計算機模擬，得到干涉圖以及干涉頻譜圖，并用干涉圖的信息熵對直線陣列性能做了定量分析。通過對不同參數(shù)條件下的兩孔徑干涉實驗結果的分析，確定了實驗室中直線陣列孔徑半徑大小，并對四個孔徑的直線陣列進行了實驗。實驗結果表明，本文采用的孔徑陣列的優(yōu)化判斷方法