光學(xué)綜合孔徑成像技術(shù)的實(shí)驗(yàn)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、該文對(duì)光學(xué)綜合孔徑干涉成像技術(shù)特別是干涉條紋的形成機(jī)理進(jìn)行了理論上的初步探討,并結(jié)合實(shí)際條件,在泰曼-格林干涉儀的基礎(chǔ)上,對(duì)干涉儀的干涉方式進(jìn)行了改造,利用掩模干涉法,提出了可以用泰曼-格林干涉儀實(shí)現(xiàn)雙孔徑共光路干涉并獲取干涉條紋的實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｐ?在共光路的基礎(chǔ)上,考慮到雙孔徑兩支光路要改變光程差的需要,又提出了只改變掩模方式,就可實(shí)現(xiàn)雙孔徑分光路獲取干涉條紋的實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｐ?結(jié)果在不同的掩模方式下,實(shí)驗(yàn)成功獲取了清晰的干涉條紋.文中還根據(jù)實(shí)驗(yàn)的結(jié)

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