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1、搭建了蒙特卡羅計(jì)算機(jī)數(shù)值模擬平臺(tái)。應(yīng)用C++編程語(yǔ)言在Win32平臺(tái)上開(kāi)發(fā)出針對(duì)InP材料的半導(dǎo)體模擬程序。該程序可以對(duì)InP的材料特性如穩(wěn)態(tài)漂移速度,瞬態(tài)輸運(yùn)特性和碰撞電離等現(xiàn)象進(jìn)行模擬,同時(shí)該程序還能對(duì)InPp+—i—n+ APD器件進(jìn)行模擬,計(jì)算增益,過(guò)剩噪聲系數(shù)和電流響應(yīng)等參數(shù)。 利用蒙特卡羅計(jì)算機(jī)數(shù)值模擬平臺(tái)對(duì)InP p+—i—n+ APD結(jié)構(gòu)的特性進(jìn)行模擬研究。通過(guò)對(duì)InP p+—i—n+ APD雪崩倍增過(guò)程的蒙特卡
2、羅研究,證實(shí)了薄層器件對(duì)過(guò)剩噪聲的抑制作用。在超薄層器件中,隨著弛豫空間(Dead Space)等非局域效應(yīng)的增強(qiáng),雪崩倍增過(guò)程的過(guò)剩噪聲將會(huì)下降。本論文利用了碰撞電離事件概率分布的觀點(diǎn)去研究薄層器件的噪聲特性,我們發(fā)現(xiàn)隨著電場(chǎng)的變強(qiáng)和弛豫空間變得顯著,整個(gè)雪崩倍增過(guò)程變得更有確定性,從而噪聲下降了。同時(shí),還對(duì)APD器件的電流響應(yīng)速度就行研究。模擬發(fā)現(xiàn)隨著電場(chǎng)的加強(qiáng),載流子的速度過(guò)沖現(xiàn)象變得更強(qiáng)并明顯縮短了碰撞電離事件之間時(shí)間,從而導(dǎo)致
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