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文檔簡(jiǎn)介
1、試驗(yàn)束位于BEPCⅡ(北京正負(fù)電子對(duì)撞機(jī))-LINAC(電子直線(xiàn)加速器)末端,由E1、E2和E3三條束流線(xiàn)組成,其中E1初級(jí)束專(zhuān)供強(qiáng)流慢正電子裝置使用,E2束為高能混合粒子束用于輻照實(shí)驗(yàn),E3束通過(guò)磁譜儀和探測(cè)器篩選為探測(cè)器束流實(shí)驗(yàn)提供e,π介子和p次級(jí)單粒子束。隨著B(niǎo)EPCⅡ的改造完成,E3束中多粒子事例將會(huì)增多。為了增強(qiáng)雙粒子事例的鑒別能力,進(jìn)一步提高單粒子的動(dòng)量分辨率,試驗(yàn)束E3線(xiàn)的磁譜議系統(tǒng)需要重新做出設(shè)計(jì)。我們將用閃爍光纖探測(cè)
2、器和基于GEM讀出的TPC來(lái)代替原有的多絲正比室,此外相關(guān)的探測(cè)器設(shè)備的位置也做出了調(diào)整。本文簡(jiǎn)要介紹磁譜議系統(tǒng)的設(shè)計(jì),E3束流線(xiàn)上的系統(tǒng)與探測(cè)器,詳細(xì)介紹了它們的工作原理和性能參數(shù)。此外,本文還給出基于3個(gè)探測(cè)器所提供的位置信息重建粒子在磁譜議中的徑跡與動(dòng)量的方法,從而從理論上給出磁譜議的動(dòng)量分辨率。為了增加E3線(xiàn)的π介子的單粒子事例,基于光生π介子理論,利用Geant4模擬設(shè)計(jì)了一個(gè)π介子復(fù)合靶。同時(shí)為了檢測(cè)磁譜議的單粒子的探測(cè)效率
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