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文檔簡介
1、由于資源的日益匱乏,人類對(duì)資源的利用、儲(chǔ)存的效率都有更高的要求,因此相關(guān)領(lǐng)域的研究備受重視。高儲(chǔ)能密度電容器是電子電力行業(yè)中最重要的儲(chǔ)能類元件之一,而儲(chǔ)能類電容器中的高介電薄膜層更是直接影響儲(chǔ)能電容器性質(zhì)的關(guān)鍵。本論文采用溶液流延法制備高介電PVDF薄膜以及3PVDF/納米BaTiO復(fù)合薄膜,通過表面形貌,結(jié)晶情況,熱穩(wěn)定性以及介電性能幾個(gè)方面綜合評(píng)價(jià)薄膜特性。
運(yùn)用溶液流延法制備了不同濃度,不同厚度的PVDF薄膜,利用阻抗分
2、析儀和耐壓測試儀分析薄膜的三項(xiàng)介電指標(biāo)發(fā)現(xiàn),當(dāng)PVDF濃度達(dá)到6 wt%時(shí),所得薄膜的介電常數(shù)達(dá)到最大值為9.37,濃度達(dá)到8 wt%時(shí),損耗最小為0.02,同時(shí)擊穿場強(qiáng)達(dá)到最大值53V/μm,綜合判斷選定8 wt%作為PVDF薄膜的最佳濃度;分析8 wt%濃度的PVDF薄膜的表面形貌,結(jié)晶情況以及熱穩(wěn)定性,發(fā)現(xiàn)其溶液流延法制得的PVDF薄膜中結(jié)晶區(qū)與非晶區(qū)共存,且存在的晶型主要是無極性的α晶型,熱分解溫度為440℃;研究薄膜厚度對(duì)PV
3、DF薄膜性能的影響,發(fā)現(xiàn)其介電常數(shù),損耗以及擊穿場強(qiáng)均隨著薄膜厚度的減小而增大,10μm時(shí)三項(xiàng)指標(biāo)分別為10.04,0.024,76 V/μm;選取8 wt%濃度的PVDF厚膜進(jìn)行拉伸調(diào)制,發(fā)現(xiàn)較未拉伸的PVDF薄膜的介電常數(shù)9.21提高了9.88%達(dá)到10.12;損耗為0.018,較未拉伸的PVDF薄膜損耗0.021亦有所降低,測試擊穿電壓為44 V/?m較未拉伸的PVDF薄膜的53 V/?m下降了16.98%。
通過溶液流
4、延法制備3PVDF/納米BaTiO復(fù)合薄膜,研究復(fù)合薄膜的相關(guān)性能,復(fù)合薄膜體系的介電常數(shù)隨著薄膜中3納米BaTiO質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增大而增大,3納米BaTiO占30 wt%時(shí),介電常數(shù)增大到32.41較純PVDF薄膜增大了250%;介電損耗在納米BaTiO3占30 wt%質(zhì)量分?jǐn)?shù)時(shí)也迅速增大到了0.082;擊穿場強(qiáng)則隨著納米 BaTiO3質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增大經(jīng)歷了一個(gè)先增大在減小的過程,納米 BaTiO3質(zhì)量分?jǐn)?shù)為10 wt%時(shí),擊穿場強(qiáng)達(dá)到了7
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