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文檔簡介
1、隨著現(xiàn)代計算機系統(tǒng)的高速發(fā)展，CPU與內(nèi)存之間數(shù)據(jù)交換速率要求越來越高，CPU與內(nèi)存之間的速度差異，已經(jīng)成為制約整個系統(tǒng)性能的瓶頸。使用集成于北橋芯片中的存儲器接口，為CPU與內(nèi)存之間提供數(shù)據(jù)交換通路，是當前解決這一問題主流方法。
本文的研究對象是一款X高性能北橋芯片中存儲器接口。從驗證方法學(xué)基礎(chǔ)學(xué)習(xí)出發(fā)，介紹了X北橋芯片基本架構(gòu)，研究了其中存儲器接口的相關(guān)內(nèi)容，在充分了解存儲器接口相關(guān)時序和設(shè)計的基礎(chǔ)上搭建了驗證平臺，提
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