基于誤碼率的磁頭折片可靠性測(cè)量工藝研究.pdf

1、硬盤驅(qū)動(dòng)器的發(fā)展方向是達(dá)到盡可能高的單位面積容量同時(shí)滿足可靠性要求。誤碼率是硬盤驅(qū)動(dòng)器可靠性測(cè)試的主要指標(biāo)。磁頭(磁頭折片組合)是決定硬盤驅(qū)動(dòng)器可靠性的核心部件，如何準(zhǔn)確測(cè)量其可靠性是一個(gè)長(zhǎng)期和關(guān)鍵的課題，本文提出應(yīng)用誤碼率配合特定的測(cè)量工藝來改善可靠性評(píng)測(cè)的準(zhǔn)確性。
　　本文對(duì)磁頭折片階段誤碼率及讀寫性能與硬盤誤碼率的相關(guān)性進(jìn)行了研究，確認(rèn)了磁頭讀寫性能并不等同于磁頭的可靠性，采用誤碼率對(duì)磁頭折片的可靠性進(jìn)行測(cè)試可獲得磁頭折片階

2、段可靠性測(cè)試值與硬盤階段誤碼率測(cè)試值較強(qiáng)的相關(guān)性。硬盤通過硬件軟件優(yōu)化提高了整體可靠性，磁頭折片階段誤碼率的測(cè)試應(yīng)該以預(yù)測(cè)在硬盤階段的表現(xiàn)為目標(biāo)，測(cè)試工藝需要進(jìn)行相應(yīng)優(yōu)化。
　　本文系統(tǒng)研究分析了誤碼率測(cè)量工藝主要參數(shù)對(duì)誤碼率測(cè)量的影響：信號(hào)增益放大可以調(diào)節(jié)讀取的信號(hào)幅值從而改善可靠性，測(cè)試頻率影響信號(hào)強(qiáng)度、信噪比以及可靠性,動(dòng)態(tài)飛行高度通過調(diào)節(jié)磁頭到磁碟距離以獲得更強(qiáng)的讀寫信號(hào)提高誤碼率，測(cè)試磁碟的磁特性、電磁變換特性會(huì)影響誤碼

3、率。通過正交實(shí)驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)信號(hào)增益放大會(huì)顯著影響誤碼率讀數(shù)的離散度，信號(hào)增益放大，測(cè)試信號(hào)頻率和測(cè)試磁碟會(huì)顯著影響誤碼率讀數(shù)的測(cè)量值。根據(jù)正交實(shí)驗(yàn)和硬盤測(cè)試條件提出優(yōu)化測(cè)試工藝為：信號(hào)增益放大范圍為(160+/-25)；測(cè)試信號(hào)頻率為正常(210 MHz)；測(cè)試磁碟為三代 K型；動(dòng)態(tài)飛行高度為無調(diào)節(jié)。在原始的磁頭折片測(cè)試條件下誤碼率的測(cè)量值并不是磁頭可以達(dá)到的最優(yōu)表現(xiàn)，優(yōu)化測(cè)試工藝可以改善誤碼率的表現(xiàn)。通過采用接近硬盤最新條件的優(yōu)化測(cè)試工藝

4、可以提高在磁頭折片階段預(yù)測(cè)硬盤誤碼率的準(zhǔn)確性。
　　從測(cè)量的重復(fù)性、再現(xiàn)性和相關(guān)性進(jìn)行驗(yàn)證：優(yōu)化后的誤碼率測(cè)量工藝改善了測(cè)量的穩(wěn)定性和提高了不同測(cè)試設(shè)備之間的相關(guān)性。通過磁頭折片階段測(cè)試校驗(yàn)確認(rèn)了優(yōu)化條件成功改善了信號(hào)幅值較小和較大的磁頭的誤碼率，減小了磁頭折片誤碼率的離散度。通過磁頭折片誤碼率測(cè)試到硬盤誤碼率測(cè)試的相關(guān)確認(rèn)了優(yōu)化條件顯著提高了磁頭階段誤碼率與硬盤誤碼率的相關(guān)性。
　　本文的研究對(duì)在磁頭折片組合階段如何基于誤