I-,DDT-測試故障模擬器的研究.pdf

1、隨著微電子技術的迅速發(fā)展，VLSI的集成度和復雜度不斷提高，給現(xiàn)有的測試技術和測試儀器帶來了嚴峻的挑戰(zhàn)。 20世紀80年代初，人們提出了通過測量電路穩(wěn)態(tài)電流(IDDQ)來測試CMOS電路的方法?；陔娏鞯腎DDQ測試方法與CMOS電路有很好的兼容性，它可檢測出電壓測試方法不能檢測的故障和物理缺陷，目前已成為一種廣為接受的重要的CMOS數(shù)字集成電路的測試方法。90年代中期，人們提出了瞬態(tài)電流測試方法(IDDT)，以便發(fā)現(xiàn)一些其他測

2、試方法所不能發(fā)現(xiàn)的故障，進一步從總體上提高測試的故障覆蓋率，滿足人們對高性能集成電路的需要。因而這種方法作為傳統(tǒng)測試方法的一個補充，正逐步受到研究領域和工業(yè)領域的關注和研究。 為了便于測試，將生產過程中集成電路出現(xiàn)的多種多樣的缺陷抽象為各種模型。目前常用的故障模型主要有：固定故障，開路故障，橋接故障，存儲故障，時滯故障等。電壓測試主要針對固定型故障模型，多年的研究也取得了令人滿意的結果；CMOS電路中的橋接故障則宜用穩(wěn)態(tài)電流測試

3、方法測試；對于電壓和穩(wěn)態(tài)電流難以測試的開路故障，可以使用瞬態(tài)電流測試的方法進行測試。 本文從故障激活的條件入手，利用五值邏輯，對瞬態(tài)電流測試中的延時變化進行波形分析和波形計算，采用并發(fā)模擬算法，編程實現(xiàn)了一個IDDT測試的故障模擬器。實際電路中由于制造工藝的限制，邏輯門的延時并不相同，而是在一定范圍內變化，引起波形變化的時間不確定。本文采用五維立方(v0，v1，f，h1，h0)來表示一條信號線在某一時間段內的波形，并給出了不同門

4、電路的輸出立方計算方法。利用向量對，采用瞬態(tài)電流測試方法對開路故障進行并發(fā)模擬；同時將一個向量對看成兩個獨立的向量來模擬固定故障。模擬結果取得了較好的故障覆蓋率，從而驗證了延時變化時進行故障并發(fā)模擬的可行性和有效性。 最后，針對IDDT測試的可行性，通過利用PSPICE軟件對S208電路中的一些故障做了模擬，這些故障包括開路故障和延時故障。從模擬的波形來看，無故障電路和故障電路的波形差別比較大，這充分論證了IDDT測試應用于工業(yè)