數(shù)字電路橋接故障的測試與診斷.pdf

1、隨著集成電路設(shè)計與加工技術(shù)的飛速發(fā)展，電路系統(tǒng)的規(guī)模和復(fù)雜性急劇上升，超大規(guī)模集成電路(VLSI)的測試已經(jīng)成為一個越來越困難的問題，測試和可測試性設(shè)計的理論與技術(shù)已經(jīng)成為VLSI領(lǐng)域中的一個重要研究方向，在理論和實踐方面都有十分突出的價值。
　　 本文從數(shù)字電路的橋接故障入手，分析了橋接故障的特點，以及常用的測試診斷方法，結(jié)合現(xiàn)有理論中的各種故障模擬方法，提出了幾種針對橋接故障的測試生成方法以及測試集的優(yōu)化方法，可以達到縮減測

2、試集的大小，提高診斷的故障覆蓋率的目的。
　　 文中提出的橋接故障的測試生成算法有：利用BDD電路來生成完整的測試集的確定性測試生成方法；根據(jù)電路中門的類型來確定輸入的偽隨機測試生成方法。此外，還提出了對測試集進行排序縮減的方法可以有效地精簡測試集達到優(yōu)化的目的。文章中結(jié)合ISCAS85測試電路來進行實驗驗證以上的測試生成算法和測試集優(yōu)化方法。
　　 最后，我們對文中提出的橋接故障測試生成的方法進行了總結(jié)分析，顯示了這些