2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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1、組合邏輯電路的設計組合邏輯電路的設計一實驗目的一實驗目的1、加深理解組合邏輯電路的工作原理。2、掌握組合邏輯電路的設計方法。3、掌握組合邏輯電路的功能測試方法。二二實驗器材實驗器材實驗室提供的芯片:74LS00與非門、74LS86異或門,74LS54與或非門,實驗室提供的實驗箱。三實驗任務及要求三實驗任務及要求1、設計要求(1)用與非門和與或非門或者異或門設計一個半加器。(2)用與非門和與或非門或者異或門設計一個四位奇偶位判斷電路。2、

2、實驗內容(1)測試所用芯片的邏輯功能。(2)組裝所設計的組合邏輯電路,并驗證其功能是否正確。三實驗原理及說明三實驗原理及說明1、簡述組合邏輯電路的設計方法。(1)分析實際情況是否能用邏輯變量來表示。(2)確定輸入、輸出邏輯變量并用邏輯變量字母表示,作出邏輯規(guī)定。(3)根據實際情況列出邏輯真值表。(4)根據邏輯真值表寫出邏輯表達式并化簡。(5)畫出邏輯電路圖,并標明使用的集成電路和相應的引腳。(6)根據邏輯電路圖焊接電路,調試并進一步驗證

3、邏輯關系是否與實際情況相符。2、寫出實驗電路的設計過程,并畫出設計電路圖。(1)半加器的設計如果不考慮有來自低位的進位將兩個1位二進制數(shù)相加。A、B是兩個加數(shù),S是相加的和,CO是向高位的進位。邏輯表達式S=A’BA’B=A⊕B⊕BCO=ABCO=AB(2)設計一個四位奇偶位判斷電路。當四位數(shù)中有奇數(shù)個1時輸出結果為1否則為0。0000000011001010011001001010100110001111100011001010100

4、10111110001101111101111102、寫出檢查芯片好壞的辦法。試連芯片,檢測芯片的輸入和輸出是否符合芯片的邏輯功能3、記錄所設計電路的測試結果。實驗電路的測試結果與仿真結果一致。五實驗總結五實驗總結1、實驗故障及解決方法實驗2中74LS86芯片接反了,實驗中未留意導致燒壞了,在實驗中導致無法顯示出Y的狀態(tài),得去換芯片,同時實驗箱儀器的老化,高低水平狀態(tài)的顯示有所影響,有時只能顯示出低水平狀態(tài),得換另外的狀態(tài)燈才行2、實驗

5、體會實驗中得提前檢查好導線的好壞,不然后續(xù)操作一旦出錯要檢查起來會比較麻煩,同時,盡量少用導線,能在同一個芯片上進行的就用一個芯片。六思考題六思考題1、邏輯門電路不用的輸入端該如何處置?TTL與COMS有差別,但為了避免干擾及邏輯清晰,將多余的輸入端依據邏輯關系或接地或接電源端2.如何用兩個半加器和一個或門來實現(xiàn)全加器電路?全加器就是帶進位相加,把圖里的AB對應A,B,它的和輸出作為上一個半加器的下面的輸入,上面半加器的和輸出就是真正的

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