邊緣切趾顯微技術(shù)基礎(chǔ)理論研究.pdf

1、寬場(chǎng)顯微鏡具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單易于實(shí)現(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)，在表面形貌測(cè)量、生物醫(yī)學(xué)檢測(cè)、地質(zhì)研究等方面都有著重要的應(yīng)用。但這種方法的成像對(duì)比度受到衍射極限的限制，在需要更清晰成像的場(chǎng)合下無(wú)法滿足要求。因此本文在寬場(chǎng)顯微鏡和共焦掃描技術(shù)的基礎(chǔ)上提出了同時(shí)獲得較高的成像對(duì)比度和速度的邊緣切趾方法。本課題主要研究?jī)?nèi)容如下：
　　首先，提出了邊緣切趾顯微技術(shù)，建立了該系統(tǒng)的成像模型，并通過(guò)在照明和探測(cè)系統(tǒng)加入兩個(gè)光學(xué)刀口對(duì)光束進(jìn)行邊緣切趾，從而降低成像信息混

2、疊而提高成像對(duì)比度；在明確兩個(gè)光學(xué)刀口的作用后對(duì)成像系統(tǒng)進(jìn)行簡(jiǎn)化處理，并通過(guò)理論推導(dǎo)從原理上比較了該方法與寬場(chǎng)顯微的成像信息混疊率，得出了前者具有更小的成像信息混疊的結(jié)論。
　　其次，采用線掃描方式實(shí)現(xiàn)邊緣切趾系統(tǒng)的成像整合，并通過(guò)對(duì)比階躍強(qiáng)度分布樣品在不同時(shí)刻下的成像結(jié)果，闡述了邊緣切趾系統(tǒng)的掃描成像過(guò)程；對(duì)三線條樣品進(jìn)行仿真計(jì)算并考察了不同探測(cè)位置對(duì)成像結(jié)果的影響，推斷出可以獲得最高對(duì)比度的探測(cè)區(qū)間為靠近過(guò)渡帶中心偏向暗場(chǎng)側(cè)；