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文檔簡介
1、鐵電材料基于其獨特的物化性能及廣闊的應用前景,已成為21世紀高新科技領域重要的研究熱點之一。近年來,基于聚偏氟乙烯(PVDF)的鐵電聚合物材料吸引了越來越多的關注。因為其具有突出的介電,鐵電,壓電,電熱,熱釋電以及高能量密度等特性,能夠覆蓋到傳感器,探測器,存儲器,致冷器以及儲能器等應用領域。二元鐵電聚合物P(VDF-TrFE)(70/30,mol%)薄膜在經過特殊處理后,具有較高的結晶度和較高剩余極化強度,是廣為人知的性能優(yōu)秀的鐵電聚
2、合物之一。
基于此,本文利用溶膠,凝膠法結合旋涂法制備了P(VDF-TrFE)薄膜以及銀納米顆粒(Ag NPs)摻雜的P(VDF-TrFE)復合薄膜,并對其微觀形貌、結晶特性、介電鐵電特性以及光學性質進行了系統(tǒng)的研究,同時也探索了機械彎曲形變對P(VDF-TrFE)薄膜的電學性能調控,結合界面極化(interfacialpolarization)和撓曲電效應(flexoelectricity effect)理論對實驗結果進行分
3、析探討。本論文主要進行了以下研究:
一、采用溶膠-凝膠法和旋涂法制備銀納米顆粒復合的P(VDF-TrFE)薄膜
利用溶膠,凝膠法制各AgNO3和P(VDF-TrFE)的混合前驅液,采用旋涂法將該前驅液均勻地旋涂于潔凈襯底上得到AgNO3摻雜的P(VDF-TrFE)薄膜。將薄膜置于氮氣氛中135℃退火4小時,爐冷后獲得銀納米顆粒復合P(VDF-TrFE)薄膜。利用X射線衍射分析復合薄膜的物相組成,位于2θ=19.90°
4、的衍射峰對應了P(VDF-TrFE)的鐵電β(110,200)相,2θ=38.1°的衍射峰則對應Ag(111)相,證實銀單質成分的存在。同時,原子力顯微鏡(AFM)表征的薄膜表面微觀形貌觀察到了銀納米球形顆粒復合于P(VDF-TrFE)薄膜基質中,且銀納米顆粒尺寸隨前驅液中AgNO3的摻雜質量分數(shù)增加而增大,絕大多數(shù)的顆粒直徑在5~20nm之間。
二、銀納米顆粒對P(VDF-TrFE)薄膜的電、光學性能的調控
銀納米
5、顆粒復合P(VDF-TrFE)薄膜的剩余極化強度及相對介電常數(shù)隨前驅液中AgNO3含量的增加而增大。當AgYO3摻雜質量分數(shù)為7.5%時,銀納米顆粒復合P(VDF-TrFE)薄膜的剩余極化強度最大,達到7.8μC/cm2,相較于純的P(VDF-TrFE)薄膜的剩余極化強度5.6μC/cm2增加了38%左右,此時鐵電性能達到最佳。當AgNO3摻雜質量分數(shù)從0%增加到10%時,復合薄膜的相對介電常數(shù)從9.3增大到13.7,與此同時,介電損耗
6、始終保持在一個較低的水平。同時,我們在壓電力顯微鏡(PFM)的測試中發(fā)現(xiàn)鐵電薄膜的矯頑場隨AgNO3摻雜質量分數(shù)增加而減小。銀納米顆粒嵌入P(VDF-TrFE)薄膜后,產生了額外的金屬顆粒與聚合物基之間的界面,從而誘發(fā)的界面極化是導致這些顯著的性能變化的主要原因。同時,銀納米顆粒在450nm波段附近的等離子激元共振吸收峰的峰值強度隨AgNO3摻雜質量分數(shù)增加而增大。
三、機械彎曲形變對P(VDF-TrFE)薄膜電學性能的調控<
7、br> 將優(yōu)質P(VDF-TrFE)鐵電薄膜制備于聚酰亞胺柔性襯底上,利用機械彎曲形變實現(xiàn)了對薄膜鐵電、介電以及熱釋電性能的調控。通過實驗我們發(fā)現(xiàn)P(VDF-TrFE)鐵電薄膜的剩余極化強度隨正向彎曲形變量的增加而增加,其值從最大負向彎曲形變對應的6.14μC/cm2增至最大正向彎曲形變對應的6.87μC/cm2,即正向彎曲能夠提高P(VDF-TrFE)薄膜的剩余極化強度,然而其極化翻轉疲勞較未彎曲形變的樣品更顯著,這個負面的影響主要
8、來自彎曲過程中產生的額外的電荷注入。我們同樣考察了P(VDF-TrFE)薄膜的介電特性隨彎曲形變的變化關系,對比了極化和彎曲形變對P(VDF-TrFE)薄膜介電常數(shù)和介電損耗的影響。在熱釋電壓響應測試中,我們成功捕捉到了彎曲形變下P(VDF-TrFE)薄膜的熱釋電壓響應,并且響應值同樣隨著正向彎曲形變量的增加而增加,從2.95mV提高到3.35mV。撓曲電效應較好地解釋了這些現(xiàn)象,彎曲產生的應力梯度使得圍繞在P(VDF-TrFE)碳鏈周
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