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1、碳化硅(SiC)具有寬禁帶,高擊穿電場(chǎng),高熱導(dǎo)率等優(yōu)點(diǎn),是優(yōu)良的第三代半導(dǎo)體材料。SiC MOS器件特別適用于高溫,高頻大功率,強(qiáng)輻射的工作條件,在航空航天,核能,通訊等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。然而SiC/SiO2界面質(zhì)量較差,界面態(tài)密度較高,這樣會(huì)導(dǎo)致反型溝道遷移率較低,閾值電壓,柵可靠性等問題,極大地限制了SiC MOS器件的性能。改善界面質(zhì)量,降低器件界面態(tài)密度仍是當(dāng)前的熱點(diǎn)問題,其中氧化后退火被證明是一種有效的手段。
2、本文研究了三種SiC熱氧化退火氣氛(NO,Ar,N2)的效果,對(duì)這三種氣氛下退火的n型4H-SiC MOS電容樣品進(jìn)行了測(cè)試與分析。
樣品的C-V測(cè)試結(jié)果表明:NO退火樣品的平帶電壓正偏較小,氧化層陷阱密度Not,近界面陷阱密度Niot以及界面態(tài)密度Dit也均明顯小于另兩個(gè)樣品。這說明NO退火能更有效的減少界面態(tài),氧化層中的近界面陷阱與氧化層中的陷阱。
I-V測(cè)試結(jié)果表明,界面態(tài)密度較低的NO退火樣品相比于Ar和N2
3、退火樣品,其半導(dǎo)體材料與氧化絕緣層之間的勢(shì)壘高度Fb值較高,漏電流較低。
電壓應(yīng)力測(cè)試的結(jié)果表明:隨電壓應(yīng)力時(shí)間累積,三個(gè)樣品的平帶電壓均發(fā)生正向漂移。不過NO與Ar氣退火的樣品的平帶電壓在一定加壓時(shí)間后即趨于穩(wěn)定,之后基本不再隨電壓應(yīng)力時(shí)間增加繼續(xù)漂移;而N2退火樣品平帶電壓的漂移隨電壓應(yīng)力時(shí)間累積不斷增加,說明N2退火樣品可靠性較差。
高溫測(cè)試中,分別在25℃,75℃,150℃下測(cè)試了樣品的C-V與G-V曲線。高
4、溫條件下更容易發(fā)生電荷陷阱的填充。電子向陷阱的填充導(dǎo)致了Ar與N2樣品的C-V曲線隨溫度升高的正向延展,以及距Ec約0.2eV處G-V峰下降。而NO樣品中由于NO退火引入了空穴陷阱,測(cè)試過程中空穴填充與電子填充兩種效應(yīng)的競(jìng)爭(zhēng)導(dǎo)致其C-V曲線的趨勢(shì)產(chǎn)生抖動(dòng),不過整體上還是空穴填充占優(yōu)勢(shì)導(dǎo)致C-V曲線整體上還是隨溫度升高向負(fù)向延展。而NO樣品的距Ec約0.2eV處的G-V峰隨溫度升高峰值的下降,與深能級(jí)位置的G-V峰(對(duì)應(yīng)于ON1陷阱)峰值
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