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文檔簡介
1、本文采用了新穎的常壓化學(xué)氣相沉積(APCVD)的方法,以 SiH4和TiCl4為反應(yīng)前驅(qū)體,N2氣作為稀釋氣體和保護氣體,在玻璃基板上先沉積生成Ti5Si3薄膜層,然后在誘導(dǎo)薄膜層基礎(chǔ)上以熱氧化法自誘導(dǎo)生長出了高密度的單晶TiO2納米線。摸索了反應(yīng)參數(shù)(沉積溫度、沉積時間、反應(yīng)總氣流量以及Si/Ti摩爾比)對TiO2納米線結(jié)構(gòu)和性能的影響規(guī)律,并對生長機制進行了討論。本課題研究表明:
?。?)采用自誘導(dǎo)APCVD法在玻璃基板上成
2、功地制備了高密度的單晶TiO2納米線,誘導(dǎo)層薄膜為六方結(jié)構(gòu)的Ti5Si3相。納米線長約0.5-2μm,直徑20-40nm左右,長徑比超過25。所制備的TiO2納米線為四方晶系的金紅石相,納米線的生長是垂直于其(110)面的[001]方向,由薄膜層開始向上生長,此過程可以稱之為自誘導(dǎo)生長。
?。?)Ti5Si3薄膜層上TiO2納米線的晶相結(jié)構(gòu)和表面形貌受制備工藝條件(沉積溫度、沉積時間、反應(yīng)總氣流量以及Si/Ti摩爾比)的影響。沉
3、積溫度越高,TiO2納米線成核驅(qū)動力越大,其成核和生長速率快,從而導(dǎo)致其結(jié)晶度和密度越大,且長度越長,長徑比越大。720℃為最佳的沉積溫度,此時 TiO2晶相含量最高,Ti5Si3薄膜層上有濃密的納米線生成,長度約0.5-2μm,直徑20-40nm。
?。?)沉積時間主要是影響 Ti5Si3薄膜層的厚度與結(jié)晶度,再對下一步自誘導(dǎo) TiO2納米線的形成產(chǎn)生影響。隨著沉積時間增加,玻璃表面形成的Ti5Si3薄膜層厚度增加、顆粒尺寸減
4、小、排列分布平整致密、比表面積增大,氧原子與鈦原子接觸反應(yīng)的幾率變大,誘導(dǎo)形成的TiO2晶相含量增加,生長出較長和較大長徑比的納米線。
(4)反應(yīng)總氣流量的變化會影響噴頭處的氣流速度以及單位體積內(nèi)反應(yīng)氣體中SiH4和TiCl4的濃度,從而影響Ti5Si3薄膜層的結(jié)晶程度及表面形貌和TiO2納米線的誘導(dǎo)生成。隨著反應(yīng)總氣流量的增大,氣體流速變大,反應(yīng)沉積速率以及原子的擴散速率增加,使得Ti5Si3薄膜層有足夠的時間結(jié)晶,致密度增
5、加,有利于進一步自誘導(dǎo)生成TiO2納米線,從而TiO2晶相含量的增加及生長出較高密度和長徑比的納米線。但當總氣流量過大時(2000sccm)時,氣流速度太快,使得噴頭與玻璃基板間產(chǎn)生氣流紊亂區(qū),不利于Ti5Si3的成核生長,樣品成非晶態(tài),無TiO2納米線的生成。
?。?)反應(yīng)Si/Ti摩爾比是控制硅化鈦誘導(dǎo)薄膜層中Ti5Si3晶相的形成的根本因素,進而影響TiO2納米線的自誘導(dǎo)生成,最佳生成Ti5Si3晶相的Si/Ti摩爾比為1
6、,此時Ti5Si3結(jié)晶度好且晶相含量高,誘導(dǎo)生成的TiO2納米線細長濃密。
?。?)通過實驗發(fā)現(xiàn),TiO2納米線的光催化性能和親水性能隨TiO2的表面形貌、晶粒大?。ū缺砻娣e)、晶相結(jié)構(gòu)及含量的改變而改變。結(jié)晶度高,TiO2晶相含量高,比表面積大,生長濃密的納米線表現(xiàn)出最佳的光催化活性,對亞甲基藍溶液的光催化降解率最高可達80%,同時其也更有利于水滴的鋪展,親水性更好。
?。?)制備的樣品表面形成的TiO2/Ti5Si3
7、復(fù)合薄膜體系表面出優(yōu)異的電學(xué)性能,方塊電阻低,導(dǎo)電性好,方塊電阻最小值為0.723?/sq。結(jié)果表明:樣品表面的方塊電阻除了與 TiO2與 Ti5Si3晶相種類和含量有關(guān),還極大地取決于其表面形貌(堆積密度、顆粒尺寸及分布排列),樣品表面的致密度越大,顆粒尺寸越小,排列分布均勻,則單位厚度上所含的TiO2與 Ti5Si3晶相數(shù)量越多,從而其導(dǎo)電性越好。
總之,本方法對設(shè)備要求低,效率高,產(chǎn)量大;可以在各種固態(tài)基板上方便制備氧化
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