版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、隨著集成電路工藝的進(jìn)步及集成度的提高,特別是片上系統(tǒng)SoC的出現(xiàn),越來越多的IP(Intellectual Property)核被集成到一個(gè)芯片上。這使得芯片在整個(gè)測試中的目標(biāo)故障數(shù)目大大增加,從而導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)量隨之激增。測試數(shù)據(jù)量的增加使得測試成本顯著增加。
BIST擺脫了對昂貴的ATE的依賴,儀儀依靠片上的資源完成電路的測試,是解決SoC測試難題的有效方法之一。掃描設(shè)計(jì)因其良好的可控制性和可觀察性,是目前比較流行的DFT方
2、法之一。但是,每個(gè)測試向量在移入掃描鏈的過程中會(huì)帶來不必要的節(jié)點(diǎn)翻轉(zhuǎn),這帶來了芯片測試中的高功耗問題。過高的功耗引起一些問題,如電路損壞,降低系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性,良品率下降等。本論文主要關(guān)注集成電路測試中大的測試數(shù)據(jù)量和高測試功耗。本文研究工作如下:
第一,本文介紹了集成電路發(fā)展現(xiàn)狀和SoC的測試相關(guān)基本知識(shí),并且介紹了SoC測試過程中功耗產(chǎn)生的原因、測試功耗的模型,然后簡述了降低測試功耗方法的分類,說明控制移位功耗對芯片測
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 并行折疊計(jì)數(shù)器在SoC測試中的研究.pdf
- 漫談?dòng)?jì)數(shù)器在實(shí)際生活中的應(yīng)用
- plc高速計(jì)數(shù)器在雙速電梯中的應(yīng)用
- 基于折疊計(jì)數(shù)器的多掃描鏈SoC內(nèi)建自測試方法研究.pdf
- 基于折疊計(jì)數(shù)器的集成電路低功耗BIST研究.pdf
- 環(huán)形計(jì)數(shù)器和扭環(huán)形計(jì)數(shù)器設(shè)計(jì)
- 計(jì)數(shù)器的原理
- 設(shè)計(jì)的cmos計(jì)數(shù)器與傳統(tǒng)的計(jì)數(shù)器的比較
- 虛擬多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及其在塵埃粒子計(jì)數(shù)器中的應(yīng)用.pdf
- 光電計(jì)數(shù)器
- 遺傳算法在激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器中的應(yīng)用研究.pdf
- 避雷器放電計(jì)數(shù)器測試儀
- γ-免疫計(jì)數(shù)器控制系統(tǒng)研究與應(yīng)用.pdf
- 加法計(jì)數(shù)器eda
- 頻率計(jì)數(shù)器.pdf
- 100進(jìn)制計(jì)數(shù)器
- 實(shí)驗(yàn)二 計(jì)數(shù)器集成電路的應(yīng)用
- 計(jì)數(shù)器的邏輯功能
- LXI計(jì)數(shù)器研制.pdf
- 放電計(jì)數(shù)器jcq
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論