基于負指數(shù)擬合校正的X射線測厚算法研究.pdf

1、X射線測厚在板帶金屬材料的厚度測量中廣泛使用。然而X射線的多能譜特性和射束硬化效應給X射線測厚帶來了困難。因此，要得到高精度的測量結(jié)果，對X射線測厚方法的研究就顯得尤為重要。
　　本文以X射線衰減規(guī)律為依據(jù)，在分析以往X射線測厚算法局限性的基礎(chǔ)上，從射束硬化的角度出發(fā)，理論上推導射束硬化現(xiàn)象下的線衰減系數(shù)隨被測物厚度的變化規(guī)律，給出基于負指數(shù)擬合標定校正的測厚算法。利用蒙特卡洛方法對實驗模型進行了仿真模擬，驗證了線衰減系數(shù)隨被測物

2、體厚度的變化規(guī)律。使用CD-300BXR低能X射線工業(yè)CT系統(tǒng)作為X射線測厚系統(tǒng)進行實際測厚實驗，驗證了負指數(shù)擬合標定校正算法的正確性。分析了在該測厚方法下可能影響測厚精度的因素，并通過實驗結(jié)果給出了結(jié)論。
　　利用EGSnrc軟件對所用的X射線源進行仿真，得到多種能量下的X射線能譜；根據(jù)仿真實驗過程，對仿真軟件EGSnrc自帶的tutor2pp例子源程序進行修改；使用 PEGS子程序進行參數(shù)設(shè)置，獲得輻照材料物質(zhì)的材料數(shù)據(jù)文件；

3、根據(jù)CD-300BXR低能X射線工業(yè)CT探測器系統(tǒng)，編寫探測器模塊的程序。建立了蒙特卡洛仿真模型，完成了對線衰減系數(shù)隨被測物厚度變化規(guī)律的分析。通過CD-300BXR低能X射線工業(yè)CT系統(tǒng)對弧狀鋼階梯模型的實際測厚實驗結(jié)果，驗證了負指數(shù)校正模型的有效性。
　　通過改變X射線源的能量對弧狀鋼階梯模型進行測厚實驗，分析了入射X射線能量對厚度測量的影響，實驗結(jié)果表明入射射線能量大小對測厚精度沒有影響；采用改變被測物體材質(zhì)的方法，分析了被