面向OLED制造過程的缺陷檢測(cè)算法研究與系統(tǒng)開發(fā).pdf

1、有機(jī)發(fā)光顯示器OLED(Organic LED)因其具有低功耗、寬視角、主動(dòng)發(fā)光、易于實(shí)現(xiàn)柔性制造等優(yōu)點(diǎn)受到了人們?cè)絹碓蕉嗟年P(guān)注，并將成為繼TFT-LCD后的下一代顯示器。由于制備過程較復(fù)雜，生產(chǎn)過程中難免會(huì)出現(xiàn)各類缺陷。這類缺陷具有邊界模糊、形狀不規(guī)則、對(duì)比度低及周期紋理背景等特點(diǎn)。目前的缺陷檢測(cè)技術(shù)還存在檢測(cè)精度和識(shí)別率低等問題，開發(fā)一種新的自動(dòng)化缺陷檢測(cè)系統(tǒng)已經(jīng)成為相關(guān)應(yīng)用企業(yè)的亟需。針對(duì)OLED面板檢測(cè)目標(biāo)和圖像采集系統(tǒng)分辨率的

2、不同，本文深入研究圖像的缺陷特征，提出迭代差影法和獨(dú)立分量分析法的檢測(cè)算法，實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)缺陷的識(shí)別。本論文的主要研究?jī)?nèi)容包括：
　　 (1)深入調(diào)研國(guó)內(nèi)外面板檢測(cè)領(lǐng)域的研究現(xiàn)狀，比較研究各種視覺檢測(cè)算法實(shí)施的條件和識(shí)別效果；指出該研究領(lǐng)域存在的問題，制定OLED屏缺陷檢測(cè)的研究方案。
　　 (2)針對(duì)OLED屏像素級(jí)缺陷的檢測(cè)，提出迭代差影法的OLED屏像素缺陷檢測(cè)方法。該算法基于OLED像素的幾何形態(tài)，首先進(jìn)行圖像中值濾波

3、和圖像增強(qiáng)等預(yù)處理，然后對(duì)圖像進(jìn)行像素模板的多次迭代提取和差影運(yùn)算，獲取去除了紋理背景信息的圖像；在此基礎(chǔ)之上，提出改進(jìn)的K-均值聚類算法，快速確定圖像分割閾值，實(shí)現(xiàn)缺陷的有效識(shí)別。
　　 (3)針對(duì)OLED屏宏觀層面上的圖像檢測(cè)需求，提出了基于獨(dú)立分量分析ICA(Independent Component Analysis)的圖像缺陷檢測(cè)方法研究。通過無缺陷圖像的ICA分析、新解混矩陣構(gòu)建、待測(cè)圖像背景估計(jì)與圖像重構(gòu)、及其與原