基于云進化算法的NoC測試規(guī)劃研究.pdf

1、隨著半導體制造工藝的快速發(fā)展和芯片設計水平的不斷提高,系統(tǒng)級芯片(SoC)已經(jīng)不能滿足當前的工業(yè)需求,逐漸被片上網(wǎng)絡(NoC)所取代。NoC技術的出現(xiàn)不但克服了SoC發(fā)展中的一些技術瓶頸,而且使得芯片的設計和制造成本大大降低。但是隨著芯片的集成規(guī)模越來越大,芯片的復雜度越來越高,也使得對NoC的測試越來越困難,測試時間越來越長,測試成本越來越高。通過對NoC進行并行測試能夠有效的減少總測試時間。但是多個核同時工作時也會使得芯片的功耗瞬間

2、變大,損壞測試芯片。那么如何在功耗限制下最大化NoC的并行測試,這就需要對NoC測試進行測試規(guī)劃。
　　本文研究了NoC測試規(guī)劃的方法,在此基礎上對復用片上網(wǎng)絡的資源作為測試訪問機制的策略進行分析,在測試中采用了虛通道技術,以縮短測試時間為目的,建立基于云進化算法功耗約束下的NoC測試規(guī)劃數(shù)學模型。結合測試規(guī)劃問題,對云進化算法進行了適當?shù)母倪M,為了彌補云進化算法易陷入局部最優(yōu)的缺點,結合自然進化進行迭代尋優(yōu),并調整了云進化算法的