基于云進(jìn)化算法的NoC測(cè)試規(guī)劃研究.pdf

1、隨著半導(dǎo)體制造工藝的快速發(fā)展和芯片設(shè)計(jì)水平的不斷提高,系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)已經(jīng)不能滿足當(dāng)前的工業(yè)需求,逐漸被片上網(wǎng)絡(luò)(NoC)所取代。NoC技術(shù)的出現(xiàn)不但克服了SoC發(fā)展中的一些技術(shù)瓶頸,而且使得芯片的設(shè)計(jì)和制造成本大大降低。但是隨著芯片的集成規(guī)模越來越大,芯片的復(fù)雜度越來越高,也使得對(duì)NoC的測(cè)試越來越困難,測(cè)試時(shí)間越來越長(zhǎng),測(cè)試成本越來越高。通過對(duì)NoC進(jìn)行并行測(cè)試能夠有效的減少總測(cè)試時(shí)間。但是多個(gè)核同時(shí)工作時(shí)也會(huì)使得芯片的功耗瞬間

2、變大,損壞測(cè)試芯片。那么如何在功耗限制下最大化NoC的并行測(cè)試,這就需要對(duì)NoC測(cè)試進(jìn)行測(cè)試規(guī)劃。
　　本文研究了NoC測(cè)試規(guī)劃的方法,在此基礎(chǔ)上對(duì)復(fù)用片上網(wǎng)絡(luò)的資源作為測(cè)試訪問機(jī)制的策略進(jìn)行分析,在測(cè)試中采用了虛通道技術(shù),以縮短測(cè)試時(shí)間為目的,建立基于云進(jìn)化算法功耗約束下的NoC測(cè)試規(guī)劃數(shù)學(xué)模型。結(jié)合測(cè)試規(guī)劃問題,對(duì)云進(jìn)化算法進(jìn)行了適當(dāng)?shù)母倪M(jìn),為了彌補(bǔ)云進(jìn)化算法易陷入局部最優(yōu)的缺點(diǎn),結(jié)合自然進(jìn)化進(jìn)行迭代尋優(yōu),并調(diào)整了云進(jìn)化算法的