射頻脈沖包絡(luò)域測(cè)試信號(hào)設(shè)計(jì)方案與記憶核提取的研究.pdf

1、無(wú)線通信技術(shù)的高速發(fā)展，對(duì)其核心部件射頻功率放大器（Power Amplifier，PA）提出了“大功率，高效率，高線性度，小體積”等諸多要求，迫使功放器件逐漸進(jìn)入到非線性工作區(qū)甚至飽和狀態(tài)。使得功放器件的輸出產(chǎn)生了非線性失真，同時(shí)由于功放器件自身的物理特性，當(dāng)前時(shí)刻的輸出對(duì)過(guò)去的輸入帶有記憶性?；谑噶繙y(cè)量的參數(shù)化行為模型技術(shù)通過(guò)對(duì)被測(cè)器件的端口網(wǎng)絡(luò)建模，能夠有效描述 PA的行為特性。靜態(tài) X參數(shù)模型超越了經(jīng)典的小信號(hào) S參數(shù)模型，能

2、夠描述 PA的非線性失真特性，動(dòng)態(tài) X參數(shù)模型在靜態(tài) X參數(shù)對(duì)穩(wěn)態(tài)響應(yīng)描述的基礎(chǔ)上，引入了表征器件記憶效應(yīng)的記憶核函數(shù)，關(guān)于PA器件記憶核（Memory Kernel）的提取與有效性檢驗(yàn)是重點(diǎn)研究?jī)?nèi)容。
　　本文對(duì)功放器件的記憶效應(yīng)展開具體研究。首先介紹了記憶效應(yīng)研究的理論基礎(chǔ)——?jiǎng)討B(tài) X參數(shù)模型，給出了從靜態(tài) X參數(shù)模型開始的推導(dǎo)過(guò)程，并分析了記憶效應(yīng)的表現(xiàn)形式和產(chǎn)生原因。之后根據(jù)動(dòng)態(tài) X-參數(shù)模型特點(diǎn)，采用“二值包絡(luò)”的求解方

3、法設(shè)計(jì)輸出“從任意包絡(luò)幅度到任意包絡(luò)幅度”Pulsed-RF測(cè)試信號(hào)，搭建能夠輸出該信號(hào)的單音雙電平硬件測(cè)試平臺(tái)，給出了三種信號(hào)設(shè)計(jì)方案，并對(duì)Mini-Circuits公司的射頻功放 ZFL-11AD進(jìn)行測(cè)試。最后，通過(guò)射頻微波仿真軟件 ADS對(duì)功放模型仿真驗(yàn)證記憶效應(yīng)的存在，并對(duì)之前測(cè)試平臺(tái)對(duì)功放ZFL-11AD的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，提取器件的記憶核，最短時(shí)間間隔為1μs，并驗(yàn)證記憶核的有效性。
　　通過(guò)對(duì)器件記憶核的檢驗(yàn)，驗(yàn)證了