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文檔簡介
1、NbN作為一種薄膜材料具有較高的硬度,而且摻雜Si形成Nb-Si-N復(fù)合薄膜后,硬度會有較大幅度的提升。這種復(fù)合薄膜的形成機理尚不清晰,所以本研究主要考察了Nb-Si-N復(fù)合薄膜表面的力學性能與形成機理。
本研究中采取基于密度泛函的第一性原理VASP軟件包對Nb-Si-N復(fù)合薄膜表面的力學性能和形成過程進行計算。再用Mercury、OriginLab等繪圖軟件對計算數(shù)據(jù)進行處理,并對其進行分析、歸納,得出結(jié)論。
本研
2、究中主要進行了四項計算。①計算了Nb、Si、N單原子能量,對這三種元素的晶格常數(shù)進行了優(yōu)化,并計算了三種元素的內(nèi)聚能,將其與實驗值進行對比。從而,驗證計算的可靠性。②計算與分析了Nb-Si-N兩種界面形式(置換型和間隙型)的力學性能。③計算了Nb、Si、N單原子在NbN(001)表面的表面吸附能,并計算了三種原子在NbN(001)表面的遷移激活能。④對Nb、Si、N單原子的繞島行為進行了計算與分析。
通過計算和分析得出了結(jié)論:
3、①比較Nb-Si-N的兩種界面形式,置換型結(jié)構(gòu)要比間隙型結(jié)構(gòu)擁有更好的力學性能。實驗中Nb-Si-N擁有比NbN更高的硬度、更好的力學性能,造成這種現(xiàn)象的結(jié)構(gòu)更有可能為置換型界面結(jié)構(gòu)。②Nb原子在NbN(001)表面遷移,越過鞍點向Hollow位移動的遷移激活能0.325eV,而反向遷移到TopN的遷移激活能為0.716eV。Nb原子繞島自由旋轉(zhuǎn)的遷移激活能為2.6189eV,所以 Nb表面遷移比繞島遷移更容易。③N在NbN(001)表
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