基于遷移學(xué)習(xí)的TFT-LCD缺陷智能識別系統(tǒng)研制與應(yīng)用.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、近年來,薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display, TFT-LCD)已經(jīng)成為最主流的顯示設(shè)備,并且朝著高分辨率、大尺寸、輕薄化的方向發(fā)展。TFT-LCD制造工藝越來越復(fù)雜,為保證產(chǎn)品質(zhì)量,屏幕缺陷智能識別系統(tǒng)在生產(chǎn)制造中的地位日益凸顯。本文針對Cell制程階段的TFT-LCD缺陷測試的實(shí)際需求研制了一套缺陷智能識別系統(tǒng)。具體研究內(nèi)容主要包括:
  依據(jù)TFT-LC

2、D缺陷的測試需求,設(shè)計(jì)了缺陷智能識別視覺系統(tǒng)的總體方案。針對Cell制程階段TFT-LCD缺陷的特點(diǎn),完成了視覺系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)和選型,保證了視覺系統(tǒng)的高精度、高對比度圖像采集和高性能處理。
  針對采集的圖像存在不均勻的現(xiàn)象,對視覺系統(tǒng)各模塊進(jìn)行了光學(xué)建模,分析其中影響圖像不均勻的因素,并對其優(yōu)化,改善了圖像不均勻的現(xiàn)象。
  針對現(xiàn)有缺陷分類識別算法識別種類少、精度不夠高并且處理過程耗時,無法完成在線缺陷識別的問題,提出了

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