基于圖頂點染色的并行測試自動調度算法.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目前電子制造業(yè)的產品自動測試系統(tǒng)大多采用順序多工位的測試方式，儀器設備利用率低，并且操作人員需求數量多，故生產測試成本高昂。本文針對此問題，引入了并行測試的改造方案，構建了多DUT(DeviceUnderTest)交錯測試系統(tǒng)，重點對系統(tǒng)中的自動調度算法問題進行了深入研究。
　　針對要解決的工程實際問題，本文首先構建了TCG(TestingConflictGraph)和PTG(ParallelTestingGraph)圖的概念，將

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