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1、該文針對(duì)熱釋對(duì)電凝視陣列MTF測(cè)試技術(shù)這一課題進(jìn)行研究和討論.文中論述了國(guó)內(nèi)外非致冷紅外熱成像技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r,分析了熱釋電凝視陣列的成像原理和成像特性.研究了MTF測(cè)試的基本理論和基本方法,在此基礎(chǔ)上,指出在空間采樣器件如熱釋電凝視陣列MTF測(cè)試中,必須克服混淆和不等暈問(wèn)題.重點(diǎn)研究了熱釋電凝視陣列MTF測(cè)試?yán)碚摵蜏y(cè)試方法,在分析理有方法的基礎(chǔ)上,深入研究了熱釋電凝視陣列MTF微似斜目標(biāo)法測(cè)試技術(shù).設(shè)計(jì)了熱釋電凝視陣列MTF測(cè)試系統(tǒng)的硬
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