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文檔簡介
1、隨著成像系統(tǒng)的不斷發(fā)展，特別是焦平面陣列的要求不斷提高，大規(guī)模、低噪聲讀出電路越來越重要，怎樣提高讀出電路的性能迫在眉睫。本文研究分析了大規(guī)模、低噪聲和高性能讀出電路的設(shè)計技術(shù)。文章的內(nèi)容主要包括：當前讀出電路的發(fā)展狀況以及衡量讀出電路性能的主要參數(shù)；讀出電路的主要噪聲源以及幾種主流的抑制讀出電路噪聲的技術(shù)；MOS管在低溫環(huán)境下（77K）的特性分析；MOS管的低溫器件模型研究；讀出電路的結(jié)構(gòu)優(yōu)化等。通過上述研究，基于相關(guān)雙采樣（CDS）
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