雙通道高頻鎖相環(huán)路測(cè)試方法的研究.pdf

1、鎖相環(huán)路因其獨(dú)特的優(yōu)良性能而得以廣泛應(yīng)用,利用其具有的高穩(wěn)定頻率振蕩、監(jiān)測(cè)、跟蹤和控制等特性,可制成高性能的頻率合成、精密振蕩、調(diào)制解調(diào)等頻率產(chǎn)生和控制電路。目前發(fā)展迅速的集成鎖相環(huán)路由于其成本低、性能好、使用方便、應(yīng)用廣泛,已成為電子工程中經(jīng)常使用的一種多功能組件。
　　 本課題主要以國(guó)家半導(dǎo)體公司LM2433為例研究鎖相環(huán)路頻率綜合器的測(cè)試方法。LMX2433鎖相環(huán)路在2.25V至2.75V的電壓范圍內(nèi)操作,能以3.6GHz

2、的射頻頻率操作,并且可支持1.7GHz的中頻,供電電流為7.0mA,可隨意選擇的同步或異步停機(jī)模式、1 mA或4mA的可編程電荷泵電流、內(nèi)置超時(shí)計(jì)數(shù)器的快速鎖定(Fastlock)技術(shù)、數(shù)字濾波鎖定檢測(cè)輸出及1.8VMicrowire邏輯電路接口,有16/17的模數(shù)預(yù)定標(biāo)器可供選擇。LM2433鎖相環(huán)路測(cè)試過(guò)程中所使用的測(cè)試機(jī)是來(lái)自LTX公司的Fusion CX測(cè)試機(jī)。Fusion CX自動(dòng)測(cè)試設(shè)備系統(tǒng)是一款可供用戶自行配置的模塊化的半

3、導(dǎo)體芯片測(cè)試機(jī)系統(tǒng),在業(yè)界也是被廣泛應(yīng)用。用戶可以根據(jù)自己的不同需求來(lái)制定測(cè)試機(jī)的配置,以達(dá)到節(jié)約成本,最大限度的提高測(cè)試機(jī)的利用率。
　　 本文主要從以下幾個(gè)方面來(lái)討論LM2433鎖相環(huán)路的測(cè)試方法,第二章介紹了LM2433鎖相環(huán)路的性能和指標(biāo)。第三章簡(jiǎn)單介紹了LTX Fusion CX測(cè)試機(jī)的主要工作原理及參數(shù)。第四章,主要介紹了LM2433鎖相環(huán)路的直流測(cè)試,其中詳細(xì)描述了測(cè)試的初始化測(cè)試,開短路測(cè)試和輸入輸出高低電平測(cè)試

4、。第五章討論及研究功能測(cè)試,功能測(cè)試對(duì)于LM2433鎖相環(huán)路來(lái)說(shuō)是十分重要的。第六章詳細(xì)的討論了鎖相環(huán)路相關(guān)特殊的測(cè)試方法,高頻測(cè)試要注意的問(wèn)題。在第七章,我們研究了測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)果,并且給出了優(yōu)化的方向。第八章,我們進(jìn)行了總結(jié)與展望。
　　 經(jīng)過(guò)本人與團(tuán)隊(duì)的調(diào)試,LMX2433測(cè)試程序和方案已經(jīng)運(yùn)用到生產(chǎn)中,測(cè)試良品率已經(jīng)達(dá)到了95％以上_,可以滿足供給客戶的樣品要求。其中主要的失效在于功能測(cè)試,主要與晶圓本身相關(guān)。本人將繼續(xù)監(jiān)