二維圖象拼接法在幾何量測量中的應用研究.pdf

1、針對面陣CCD器件由于本身結構上的限制,分辨該領和成像面積不能滿足某些工業(yè)幾何量測量的現(xiàn)象,該文在分析單元攝像的模型和特征參量轉換矩陣的基礎上,引入圖象拼接的思想,建立起基于二維圖象拼接的測量原理模型,并且證明了模型的正確性,為滿足高精度和大范圍等綜合指標幾何量測量提供了新的思路.通過分析二維圖象拼接系統(tǒng)的測量原理和硬件構成,對比不同特征對測量結果綜合影響作用的大小,并在不考慮攝像機畸變的前提下,提出了采用一點一線法進行拼接測量,并詳細

2、論述了這種方法的實現(xiàn)過程和測量效果.在運用一點一線法進行拼接的過程中,通過對比不同特征標志物參數(shù)(旋轉角度、平移量等)的求取方法,選擇了合適的測量方法;為了克服器件本身結構對分辨率的限制,使參數(shù)的測量值達到較高精度,充分挖掘數(shù)據(jù)之間的關系,運用多項式插值和數(shù)據(jù)似合的方法進行了亞象素細分.最后,該文進行了實測實驗,在物距為400mm時,采集兩幅圖并拼接成一幅圖后進 行測量,直徑的測量精度達到0.02象素,相當于±4μm(±σ<,s>),測