基于特征距離和性能分析的混合電路測試.pdf

1、隨著微電子技術的發(fā)展，大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路的電路密度不斷增加，這使得集成電路的測試難度增加，而數?；旌想娐返膽酶箿y試的難度增大。數?；旌想娐返墓收显\斷一直是個難點，也是電子系統(tǒng)集成技術的重點研究方向之一，我們急需運用新的理論、新的方法來解決此問題。偽隨機測試技術是一種測試線性時不變模擬電路元件的一種新的有效的方法。它不直接測試電路的性能參數，而是通過分析輸入、輸出隨機過程的統(tǒng)計量，構建特征空間，通過在特征空間中分析，來對

2、電路有無故障進行分類。本文所做的主要工作：通過分析特征空間中電路集的協方差矩陣，本文利用每個電路在特征空間中到電路集的距離概念，計算出待測電路到無故障電路集和有故障電路集的距離，并通過比較這兩個距離的大小關系來判別電路有無故障，對電路進行分類。直接在m維特征空間分析待測電路，從而不必在m維空間中挑選特征對，利用特征對分析電路有無故障。本文給出了一種基于混合電路性能分析的電路參數估計的方法。該方法可以根據電路性能參數的不同要求，設置性能的