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文檔簡介
1、本文用B、Al、Ge三種元素對CoSi合金的硅側(cè)進行置換,分別研究了三種元素?fù)诫s后CoSi化合物的微觀組織和熱電性能。采用熔融退火法制備了CoSi1-xBx(x=0,0.003,0.005,0.008,0.01,0.02)、CoSi1-yAly(y=0.04,0.08,0.12,0.16,0.20)和CoSi1-zGez(z=0.01,0.02,0.04)多晶試樣,用電子探針背散射和X射線衍射對試樣的微觀組織進行了分析。采用懸浮區(qū)熔法
2、制備了CoSi、CoSi0.995B0.005及CoSi1-yAly(y=0.04,0.08,0.12,0.16)單晶試樣,用勞厄背散射法對CoSi單晶的生長方向進行了確定。對B、Al摻雜的CoSi0.995B0.005及CoSi1-yAly(y=0.04,0.08,0.12,0.16)單晶試樣和Ge摻雜的CoSi0.98Ge0.02多晶試樣的熱電性能進行了測試和分析,試驗溫度范圍為300K~973K。與未摻雜CoSi相比,B摻雜后C
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