2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
已閱讀1頁,還剩69頁未讀 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、隨著IC設(shè)計(jì)規(guī)模的增加,功能驗(yàn)證的復(fù)雜程度越來越高,各種新的驗(yàn)證方法也層出不窮,如何根據(jù)不同的IC產(chǎn)品來選擇適當(dāng)?shù)尿?yàn)證方法獲取最大的工作效率,仍然是一個(gè)值得研究的課題。仿真驗(yàn)證作為傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法,目前仍然是主流的驗(yàn)證技術(shù),也是本文采用的驗(yàn)證方法。本文的被驗(yàn)證對象是一個(gè)基于Verilog語言設(shè)計(jì)的符合EPC Gen2 UHF RFID接口協(xié)議的Tag芯片。 本文完成了具有自檢查功能的 Tag芯片的功能驗(yàn)證平臺。使用C/C++、Ve

2、rilog、PLI作為驗(yàn)證平臺的設(shè)計(jì)語言,采用C語言設(shè)計(jì)Reader模塊、Tag模塊、比較模塊,而DUV和Testbench采用Verilog語言設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)兩個(gè)PLI程序來實(shí)現(xiàn)C與Verilog語言之間的通信。最后用C程序把這些模塊連接起來,完成了Tag芯片的功能驗(yàn)證平臺的搭建。 另外,論文討論在軟件Modelsim環(huán)境下PLI接口的配置問題,闡明驗(yàn)證平臺的驗(yàn)證過程和應(yīng)用方法。Tag芯片順利通過驗(yàn)證平臺的功能驗(yàn)證和后仿真,現(xiàn)已在

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評論

0/150

提交評論