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文檔簡介
1、隨著IC設(shè)計(jì)規(guī)模的增加,功能驗(yàn)證的復(fù)雜程度越來越高,各種新的驗(yàn)證方法也層出不窮,如何根據(jù)不同的IC產(chǎn)品來選擇適當(dāng)?shù)尿?yàn)證方法獲取最大的工作效率,仍然是一個(gè)值得研究的課題。仿真驗(yàn)證作為傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法,目前仍然是主流的驗(yàn)證技術(shù),也是本文采用的驗(yàn)證方法。本文的被驗(yàn)證對象是一個(gè)基于Verilog語言設(shè)計(jì)的符合EPC Gen2 UHF RFID接口協(xié)議的Tag芯片。 本文完成了具有自檢查功能的 Tag芯片的功能驗(yàn)證平臺。使用C/C++、Ve
2、rilog、PLI作為驗(yàn)證平臺的設(shè)計(jì)語言,采用C語言設(shè)計(jì)Reader模塊、Tag模塊、比較模塊,而DUV和Testbench采用Verilog語言設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)兩個(gè)PLI程序來實(shí)現(xiàn)C與Verilog語言之間的通信。最后用C程序把這些模塊連接起來,完成了Tag芯片的功能驗(yàn)證平臺的搭建。 另外,論文討論在軟件Modelsim環(huán)境下PLI接口的配置問題,闡明驗(yàn)證平臺的驗(yàn)證過程和應(yīng)用方法。Tag芯片順利通過驗(yàn)證平臺的功能驗(yàn)證和后仿真,現(xiàn)已在
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