Tag芯片的功能驗(yàn)證平臺(tái)的設(shè)計(jì).pdf_第1頁(yè)
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1、隨著IC設(shè)計(jì)規(guī)模的增加，功能驗(yàn)證的復(fù)雜程度越來(lái)越高，各種新的驗(yàn)證方法也層出不窮，如何根據(jù)不同的IC產(chǎn)品來(lái)選擇適當(dāng)?shù)尿?yàn)證方法獲取最大的工作效率，仍然是一個(gè)值得研究的課題。仿真驗(yàn)證作為傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法，目前仍然是主流的驗(yàn)證技術(shù)，也是本文采用的驗(yàn)證方法。本文的被驗(yàn)證對(duì)象是一個(gè)基于Verilog語(yǔ)言設(shè)計(jì)的符合EPC Gen2 UHF RFID接口協(xié)議的Tag芯片。 本文完成了具有自檢查功能的 Tag芯片的功能驗(yàn)證平臺(tái)。使用C/C++、Ve

2、rilog、PLI作為驗(yàn)證平臺(tái)的設(shè)計(jì)語(yǔ)言，采用C語(yǔ)言設(shè)計(jì)Reader模塊、Tag模塊、比較模塊，而DUV和Testbench采用Verilog語(yǔ)言設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)兩個(gè)PLI程序來(lái)實(shí)現(xiàn)C與Verilog語(yǔ)言之間的通信。最后用C程序把這些模塊連接起來(lái)，完成了Tag芯片的功能驗(yàn)證平臺(tái)的搭建。 另外，論文討論在軟件Modelsim環(huán)境下PLI接口的配置問(wèn)題，闡明驗(yàn)證平臺(tái)的驗(yàn)證過(guò)程和應(yīng)用方法。Tag芯片順利通過(guò)驗(yàn)證平臺(tái)的功能驗(yàn)證和后仿真，現(xiàn)已在

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