聚糖類駐極體基硫化鎘納米復(fù)合膜的制備及其紅外輻射特性的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文以殼聚糖(CS)、Cd(AC)<,2>、Na<,2>S為原料,常溫下分別用共混法(將CdS納米粒子與CS超聲混合)和一步法(將H<,2>S(g)通入殼聚糖與Cd(AC)<,2>的復(fù)合膜中,生成CdS),制備了CS/CdS納米復(fù)合膜;以魔芋葡甘露聚糖(KGM)、Cd(AC)<,2>、Na<,2>S為原料常溫下分別用一步法和共混法制得了KGM/CdS納米粒子復(fù)合膜;以CS、KGM、Cd(AC)<,2>、Na<,2>S為原料,常溫下用一步

2、法制得了CS/KGM/CdS納米復(fù)合膜CS與KGM的質(zhì)量比為7:3。用IR、TEM、SEM、IR-1紅外輻射儀對(duì)納米復(fù)合膜的微觀結(jié)構(gòu)及其組成進(jìn)行分析,探討了制備條件對(duì)納米復(fù)合物的結(jié)構(gòu)與紅外發(fā)射率的影響,獲得了以下結(jié)果: 1.用一步法制得紅外發(fā)射率較低的CS/CdS納米復(fù)合膜,其中CdS納米粒子為六方形。與共混法制得的薄膜相比,CdS納米粒子的分散均勻程度、粒徑可控方面都較優(yōu)異;而且CS與CdS納米粒子的比例調(diào)節(jié)范圍更寬(10~1

3、00nm),復(fù)合膜紅外發(fā)射率更低:當(dāng)CdS納米粒子粒徑范圍在10~20nm,CdS與CS結(jié)構(gòu)單元的比例為1.0時(shí),一步法制得的薄膜的紅外發(fā)射率(8~14μm)達(dá)到最低,其值為0.013。如此低的紅外發(fā)射率歸因子CS與CdS納米粒子之間存在較強(qiáng)烈的相互作用。 2.用一步法制得紅外發(fā)射率較低的KGM/CdS納米復(fù)合膜,其中CdS納米粒子為單分散的、球形。與共混法制得的薄膜相比,CdS納米粒子的分散均勻程度、規(guī)整程度都較優(yōu)異:而且KG

4、M與CdS納米粒子的比例調(diào)節(jié)范圍更寬(10~80nm),可控性更強(qiáng),與CdS納米粒子之間存在更強(qiáng)烈的相互作用,使得復(fù)合膜紅外發(fā)射率更低:當(dāng)CdS納米粒子粒徑范圍在10~20nm,CdS與KGM結(jié)構(gòu)單元的比例為1.2時(shí),一步法制得的薄膜的紅外發(fā)射率(8~14μm)達(dá)到最低,其值為0.011。 3.用一步法制得含有樹枝狀、CdS納米粒子的紅外發(fā)射率較低的CS/KGM/CdS復(fù)合膜,其中CdS納米粒子形態(tài)和大小可控;CS/KGM與Cd

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