微控制器測(cè)試技術(shù)及應(yīng)用研究.pdf

1、隨著集成電路的發(fā)展，成品測(cè)試正發(fā)揮著越來(lái)越重要作用，尤其在航天領(lǐng)域中，需要有高可靠性的電子元器件，對(duì)其進(jìn)行完整測(cè)試是保證質(zhì)量最有效方法。微控制器處于航天產(chǎn)品的核心部位，對(duì)其進(jìn)行有效測(cè)試始終是個(gè)難題。
　　本課題以航天產(chǎn)品中廣泛應(yīng)用的AT89C51為例，對(duì)微控制器的測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了研究，依據(jù)AT89C51數(shù)據(jù)手冊(cè)中對(duì)功能模塊的描述，將測(cè)試對(duì)象分為兩大部分，一部分為核心處理器電路，采用構(gòu)造系統(tǒng)圖的方法，建立了三種故障模型，并分別制定了相

2、應(yīng)測(cè)試算法；另一部分是外圍電路，包括存儲(chǔ)器、I/O口、定時(shí)器／計(jì)數(shù)器和中斷控制器，采用逐一分解的方法，對(duì)每一個(gè)部件建立故障模型，設(shè)計(jì)測(cè)試算法。在理論研究基礎(chǔ)上，本課題設(shè)定一臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)為實(shí)現(xiàn)平臺(tái)，利用指令集將算法轉(zhuǎn)化為匯編語(yǔ)言，最終以機(jī)器語(yǔ)言的形式落實(shí)于測(cè)試向量中，從而將上述測(cè)試方法加以執(zhí)行，完成了功能測(cè)試。
　　借助功能測(cè)試的基礎(chǔ)，本課題參照數(shù)據(jù)手冊(cè)要求，在做直流參數(shù)測(cè)試時(shí)，通過(guò)運(yùn)行一段功能測(cè)試向量，使其處于待測(cè)試狀態(tài)，通過(guò)儀表量