PCB瑕疵識(shí)別算法研究.pdf

1、近年來，隨著電子產(chǎn)品質(zhì)量與技術(shù)的不斷提高與發(fā)展，印刷電路板的生產(chǎn)復(fù)雜度和產(chǎn)量也在不斷提高，面對(duì)大量的PCB板，人工目檢等傳統(tǒng)PCB缺陷檢測(cè)方式己不能滿足檢測(cè)需要，因此，研究快速實(shí)用的PCB光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)迫在眉睫。本文針對(duì)目前常見的PCB板瑕疵（主要有：短路、斷路、缺口、毛刺等），研究并提出了一種識(shí)別模式理念，在此基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)了三種適應(yīng)不同瑕疵類別的快速有效瑕疵識(shí)別算法，并建構(gòu)了PCB瑕疵識(shí)別軟件系統(tǒng)。具體工作及主要?jiǎng)?chuàng)新如下：

2、　　 ⑴提出了分塊概率識(shí)別模式。在這種模式下，識(shí)別不是一次性的，而是持續(xù)性的、多次性的、概率性的，每次的識(shí)別只增加某塊區(qū)域的確定性概率，之后重新隨機(jī)分塊，進(jìn)行下一次識(shí)別。對(duì)于每個(gè)像素點(diǎn)，當(dāng)該點(diǎn)的確定性概率大于某個(gè)閥值時(shí)，該像素點(diǎn)即被劃入瑕疵區(qū)域。
　　 ⑵基于提出的分塊概率識(shí)別模式，分別設(shè)計(jì)了連通數(shù)識(shí)別算法和關(guān)聯(lián)度識(shí)別算法。其中連通數(shù)識(shí)別算法，主要針對(duì)短路、斷路現(xiàn)象。對(duì)于短路、斷路的PCB板圖像，其連通數(shù)必定與標(biāo)準(zhǔn)圖在某個(gè)區(qū)域

3、內(nèi)有所不同，配合分塊概率識(shí)別模式，能有效地識(shí)別短路、斷路現(xiàn)象。關(guān)聯(lián)度識(shí)別算法，主要針對(duì)各類明顯缺陷，其將被測(cè)圖某個(gè)區(qū)域的直方圖曲線與標(biāo)準(zhǔn)圖在該區(qū)域的曲線進(jìn)行關(guān)聯(lián)分析，對(duì)于有明顯瑕疵的圖像，必然導(dǎo)致瑕疵區(qū)域的關(guān)聯(lián)度較低。
　　 ⑶針對(duì)短路、斷路現(xiàn)象，提出了適用性廣泛的特征匹配算法。其將被測(cè)圖連通與標(biāo)準(zhǔn)圖連通進(jìn)行特征匹配，這些特征主要有X坐標(biāo)、Y坐標(biāo)、連通面積等，匹配完畢后，那些無法被匹配的連通即為瑕疵。
　　 ⑷完成了整個(gè)