高功率微波對電子器件損傷的初步研究.pdf

1、高功率微波對電子系統(tǒng)會產生破壞效應。從國家安全和社會穩(wěn)定的角度考慮，對這種效應進行研究是十分必要的。研究可以分為實驗分析和理論分析兩個方面，兩者是相輔相成的。其中，實驗是基礎，從實驗中得到的數(shù)據或結論可以為理論模型的建立提供依據；而通過對基礎理論的研究，對場進行深入分析，建立相應的模型并仿真，可以為下一步實驗提供依據，為實驗平臺的建立和實驗流程的設計打下堅實的基礎；最后通過實驗可以驗證理論分析的結果，并為進一步進行深入的理論分析創(chuàng)造條件

2、。 本文首先介紹了高功率微波對電子器件的作用效應和分析方法，對測試的實驗數(shù)據進行分析，并提出改進方案，接著介紹高功率微波對電子器件的損傷模式和損傷機理；然后對電磁場分布情況進行理論研究，并用ANSYS有限元分析軟件對電磁場分布進行建模、仿真。電子器件內部和系統(tǒng)之間存在著大量的金屬互聯(lián)引線，在高功率微波的作用下充當了接收天線的作用，其上感應出的電流過大時就可以將金屬引線燒毀。因此，在可以充分說明問題的基礎上，為了分析方便，本文從金