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文檔簡介
1、本文主要以某典型模擬IC為對象,研究與其內部雙極型晶體管同參數的單管。通過微波注入試驗,研究BJT在HPM作用下的失效模式和失效機理。根據研究BJT模型參數的退化,研究微波對BJT的輻照效應。研究內容主要包括:利用PSpice對實際器件進行模型參數提取,并仿照測試條件進行電路仿真;對晶體管分別采用注入法和直接輻照兩種方法進行微波損傷試驗,討論不同實驗方法對器件影響的差異:對多叉指結構的雙極型晶體管進行微波損傷實驗,討論不同結構器件的抗輻
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