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文檔簡介
1、全光通信是未來通信的發(fā)展趨勢,密集波分復用(DWDM)技術是光通信中的關鍵技術,而復用器/解復用器(MUX/DMUX)又是DWDM系統中的關鍵器件。陣列波導光柵(AWG)作為MUX/DMUX中的佼佼者,重要性自不必說。然而,涉及AWG測試及可靠性方面的研究十分有限,本文的研究正好填補了這一空白。
本文研究內容包括以下幾個方面:
首先,從PDL產生的原理出發(fā),對目前生產測試上普遍使用的計算方法做了詳細介紹,結合公司目前
2、使用的四態(tài)法即Mueller矩陣法,使用現有的測試系統,測量了1×32通道系列AWG產品。由得到的原始數據,計算出了第一通道的偏振相關損耗(PDL)值。隨后,全面分析了該測試系統,計算了各個相關器件對PDL測試指標的影響。在此基礎上對系統進行了優(yōu)化、改進,目前已經應用于生產實踐,有效地提高了測試AWG產品PDL值的準確性。
其次對AWG器件的可靠性實驗(溫度循環(huán)實驗、高溫高濕實驗)進行了研究。運用EXCEL工具,對其實驗數據進
3、行處理,根據生成圖像判定產品的可靠性。還針對溫度循環(huán)實驗中光源不穩(wěn)定的現象,提出了提高光源穩(wěn)定性的實驗方案,就是在光路中光源后面加入一光學衰減器(Agilent-HA9),當光源不穩(wěn)定的時候,對光源輸出功率做動態(tài)補償,從而得到穩(wěn)定輸出的光功率。實驗證實,其穩(wěn)定精度可達到0.1dB。最后,選取3個AWG產品做了高溫高濕實驗,經過168小時和336小時兩次試驗后,AWG芯片的性能發(fā)生了很明顯的變化。給出了實驗前后的數據、參數比較圖,為我們分
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